led檢測(cè)技術(shù)1緒論及第一講(文件)
【正文】 測(cè)技術(shù) 一、 表面反射率分析（ PR: Photo Reflectivity） 測(cè)試外延片表面的粗糙程度 GaN 入射光 反射光 GaN 入射光 反射光 光滑表面： 粗糙表面： 反射光 反射光 ≈17% ≈1~10 % 外延片的檢測(cè)技術(shù) 二 光致發(fā)光光譜（ PL， Photoluminescence) 1. 基本原理 光致發(fā)光是半導(dǎo)體的一種發(fā)光現(xiàn)象，利用光照射到材料表面，其電子吸收光子而躍遷到高能級(jí)，出于高能級(jí)的電子不穩(wěn)定，會(huì)回落到低能級(jí)，同時(shí)伴隨著能級(jí)差的能量以光輻射的形式發(fā)射出來。LED芯片測(cè)量技術(shù) 五 邑 大 學(xué) 2022年諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng) 赤崎勇 (Isamu Akasaki） 日本名城大學(xué)終身教授 中村修二 ） (Shuji Nakamur) 美國(guó)加州大學(xué)圣塔芭芭拉分校教授 天野浩（ Hiroshi Amano) 名古屋大學(xué)教授 比 竇娥還冤 的 Nick Holonyak 可見光（紅光） LED發(fā)明者 LED產(chǎn)業(yè)鏈 應(yīng)用 外延 芯片 封裝 指示顯示 特種照明 背光源 普通照明 基片 裝飾照明 本課程的主要內(nèi)容 LED芯片 測(cè)量技術(shù)？ NO!!! 主要內(nèi)容： LED測(cè)量技術(shù) 1. LED外延、芯片的制作工藝及檢測(cè)技術(shù) 2. LED器件常用光電參數(shù)及檢測(cè)原理、技術(shù) 3. LED熱學(xué)特性的檢測(cè)技術(shù)
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