培訓(xùn)教程《手機(jī)設(shè)計(jì)制造過(guò)程》(文件)
【正文】 2m的跌落測(cè)試每個(gè)面需各做一次，還仿真人把手機(jī)拋到桌面，而手機(jī)所用的電池，也要經(jīng)過(guò)最少 4m的高度，單獨(dú)的向著地面撞擊跌落 100次而不能有破裂的情況出現(xiàn)。 ? 翻蓋可靠性測(cè)試 對(duì)翻蓋手機(jī)進(jìn)行翻蓋 10萬(wàn)次，檢查手機(jī)殼體的損耗情況，是用一部翻蓋的仿真機(jī)來(lái)進(jìn)行，它可以設(shè)置翻蓋的力度、角度等 . ? 扭矩測(cè)試 直機(jī)用夾具夾住兩頭，一個(gè)往左擰，一個(gè)往右擰。 ? 按鍵壽命測(cè)試 借助機(jī)器以給設(shè)定的力量對(duì)鍵盤(pán)擊打 10萬(wàn)次，假使用戶每按鍵 100次，就是 1000天，相當(dāng)于用戶使用手機(jī)三年左右的時(shí)間。 用鐵絲在手機(jī)底部連接器內(nèi)撥來(lái)?yè)苋?，主要是要考慮到手袋內(nèi)有鎖匙的情況下，是否會(huì)令手機(jī)出現(xiàn)短路的問(wèn)題。你看設(shè)計(jì)之精良，生產(chǎn)環(huán)節(jié)之嚴(yán)謹(jǐn)，銷(xiāo)售運(yùn)輸之周密，不是嗎？非也。打不了幾分鐘手機(jī)就“沒(méi)電了”?，F(xiàn)舉其一、二如下： 現(xiàn)在我們使用的電子產(chǎn)品，大多其內(nèi)部都含有硬磁鐵氧體。因?yàn)檫@是關(guān)系到電子產(chǎn)品的使用壽命的啊，如果磁性減弱太多就會(huì)導(dǎo)致機(jī)器不能使用，就應(yīng)該改用其他的材料。比如以前 10G、 15G、20G的一部分火球硬盤(pán)就是使用了某大公司性能不良的一種集成電路而導(dǎo)致成批硬盤(pán)同一個(gè)損壞的毛病而不能使用，使火球公司名譽(yù)大損。生產(chǎn)廠家連日光燈啟輝器的金屬外殼也不放過(guò)，改成了塑料的，這么一改以后在打開(kāi)日光燈的時(shí)候在你家或隔壁家的收音機(jī)里就會(huì)有噪聲產(chǎn)生。 。但遺憾的是大廠家和公司也往往挾天子而拎諸候，以自己為大，以自己的標(biāo)準(zhǔn)作為使用安全的標(biāo)準(zhǔn)，在鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、打印機(jī)的接線處省掉了那么一個(gè)不值多少錢(qián)的磁環(huán)，有的在筆記本電腦的外接電源等處省掉了防幅射保護(hù)金屬箔，有的手機(jī)也省掉了這個(gè)防護(hù)裝置，在鍵盤(pán)下省掉了防護(hù)鐵片，以盡量地減低成本，最后導(dǎo)致機(jī)器的防幅射性能變得非常惡劣。那為什么該公司要用某大公司的集成塊呢？大概是因?yàn)樗M(jìn)貨便宜的緣故吧。比如先前有的大公司硬盤(pán)內(nèi)的玻璃質(zhì)盤(pán)片的磁性不良導(dǎo)致大批硬盤(pán)出售后損壞，不能使用，光驅(qū)內(nèi)渦桿上的磁環(huán)磁性減退會(huì)導(dǎo)致光驅(qū)不能使用，電機(jī)內(nèi)磁塊的磁性減弱使電機(jī)的力矩減少，最后導(dǎo)致機(jī)器不能使用等等。對(duì)于這些硬磁鐵氧體或其他材料的磁極材料，在生產(chǎn)的過(guò)程中充磁以后還要進(jìn)行一次退磁的工藝。本來(lái)嘛，象這樣的毛病是一個(gè)很簡(jiǎn)單的毛病，可新款手機(jī)就是不給圖紙，不買(mǎi)配件，一般人員無(wú)法修理，只得處理掉買(mǎi)新的了。一位朋友，新買(mǎi)的手機(jī)剛過(guò)了包修期就發(fā)現(xiàn)手機(jī)的電源很不耐用。 以上的測(cè)試基本上各大知名的手機(jī)制造商都會(huì)嚴(yán)格執(zhí)行，因?yàn)樗麄冑u(mài)的不僅只是手機(jī)本身
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