計量要求導(dǎo)出及測量過程設(shè)計(文件)
【正文】 996 工作用廉金屬的檢定規(guī)程可知 K 型 ,II 級熱電偶在測量端溫度為 465℃時的最大允許誤差 MPE=177。 。 4）一般可選擇分辨力為 T/10。 對被測參數(shù)的限定條件 針對諸如測量時機(jī)、取樣規(guī)定、樣品溫度、測量部位、樣品安放等影響測量結(jié)果的因素做出規(guī)定。 2） 所設(shè)計 測量方法的 測量結(jié)果 x1與采用準(zhǔn)確度等級更高的測量設(shè)備所得測量結(jié)果 x2進(jìn)行比較 ，當(dāng)： |x1x2|≤ U1 成立時，可判定測量結(jié)果有效。 3 監(jiān)視 監(jiān)視方法 測量過程的監(jiān)視包含對所有過程要素是否按照測量過程規(guī)范的要求實施并滿足預(yù)期要求的檢查。 監(jiān)視一般采用以下方法： 1） 定性 監(jiān)視 對管理性要求（如 人員資質(zhì)、測量設(shè)備、 環(huán)境條件等過程要素的控制及測量記錄填寫 等 是否符合 相關(guān) 規(guī)定要求 ）采用定性監(jiān)視；監(jiān)視頻次為不定期抽查，每個應(yīng)監(jiān)視的過程每年至少抽查一次。 如規(guī)定了多種監(jiān)視方法，則應(yīng) 明確 各方法的使用時機(jī)。 如： A 對過程控制的測量過程，其監(jiān)視頻次可能是實時或 1 次 /10min、 1 次 /h； B 對原材料檢驗的測量過程，假設(shè)原料進(jìn)廠后均在一周后才投入使用，與供方異議提出時限也大于一周，則其監(jiān)視頻次可能是 1 次 /周。 b 當(dāng)采用監(jiān)視方法 J 時，應(yīng)對操作工的技能、經(jīng)驗有特定要求（在過程要素及崗位說明書中規(guī)定）。 常用 定 量監(jiān)視方法有（不限于）： A. 測量前后檢查測量設(shè)備的相關(guān)參數(shù)變化是否超出允許范 圍； B. 控樣測試 ； C. 不同測量方法 /設(shè)備之間測量結(jié)果的比對； D. 互檢、抽檢； E. 比較相關(guān)聯(lián)同類參數(shù)測量數(shù)據(jù)之間是否符合規(guī)律； F. 比較相關(guān)聯(lián)不同 類 參數(shù)測量數(shù)據(jù)之間是否符合規(guī)律； G. 利用統(tǒng)計分析方法（如繪制控制圖 、回歸曲線等 ）； H. 參加實驗室間的比對 I. 期間核查（可與其他方法結(jié)合使用）； J. 與操作工的經(jīng)驗判斷估計值比較。 “確保迅速發(fā)現(xiàn)存在的問題 ?? ”（ ） 這是 設(shè)計監(jiān)視方法基本原則。 4） 利用統(tǒng)計技 術(shù)進(jìn)行測量 系統(tǒng) 分析 （多用于機(jī)械制造中的幾何量測量） 。 環(huán)境 對影響測量結(jié)果的或測量設(shè)備正常運行的環(huán)境條件 做出規(guī)定。 測量設(shè)備其他計量特性的選擇 應(yīng)根據(jù) 被 測參數(shù) 及擬選用測量方法的特點， 確定是否需規(guī)定所必須 限制的計量特性要求 ，并依此要求選擇測量設(shè)備。 3) 對于指針 /刻度指示儀器原則上沒有分辨力的概念。 ℃，＜ MPE 1，所以選擇K 型 ,II 級熱電偶 可 滿足要求。則其轉(zhuǎn)換誤差 MPE2為： MPE2=800 1/210=177。 如測量 是由 多臺 測量設(shè)備 組合而成 的測量裝置完成 ，則 測量裝置的允許誤差 誤差 (不確定度 )應(yīng)滿足 要求，即： 2n2221 ... M P EM P EM P E ??? =MPE 總 ≤ U1 式中： MPEi—— 第 i 臺測量設(shè)備的最大允許誤差 例 4：某溫度測量選用 熱電偶 +PLC 系統(tǒng)組成測量裝置 設(shè)本測量過程的 測量值為 465℃， 允許測量不確定度 U 允 =5℃ 。 例 3： 某零件加工尺寸要求為 ?? mm，驗收測量時規(guī)定的安全裕度為A= 如何選擇測量設(shè)備？ 解： 計算要求 ： 因為安全裕度 A= ，則： U 允 = A= U1 = U 允 = = 匹配 要求 ： 查： 25~50mm 千分尺的最大允許誤差為177。依據(jù) GB/T 31772021 標(biāo)準(zhǔn)的選定原則， 若 估計 U1≥ 3 U2 時， a= 若估計 3 U2＞ U1＞ 2U2， a= 若估計 U1≈ U2， a= 最終應(yīng)保證經(jīng)評定得到的測量不確定度小于 U 允 計算得到測量設(shè)備
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