【正文】 們都主板使用相同的聲音晶片。同時 ， a / d 轉(zhuǎn)換器輸入范圍的偏移量。 (b)典型的 16 位模式譜在 PCCHIPS m807r 聲音編碼器 (測試頻率是認(rèn)識千赫 )。一些結(jié)果在一個取樣頻率的 千赫是列在表 1 和表 2 以及在圖 4 和圖 5。主板所建的在同一 AC97 音頻編解碼器 ,提供了現(xiàn)代隔水管 (AMR)槽來支持音頻和現(xiàn)代的應(yīng)用程序。 “ 插件 ” 獨(dú)立 ?聲卡。當(dāng)然 ， 如果迭代過程中收斂的 fsignal 評估和 fsampling 是相當(dāng)?shù)慕咏麄兇_切的價值觀和三藩市選用適當(dāng)。在應(yīng)用算法始于計算正弦適合和相應(yīng)的噪聲功率 PN0 頻率 fn0 立足 fsamplingsf = fsignal /()高于其估計和 fsampling 由給定的 fsignal 通過采樣頻率偏移三藩市 1。價值的估計 ?DC 測試信號的幅值和相位 。用戶可以跟上錄音過程和簡單地識別任何問題從文本信息中顯示的窗口。它是完全結(jié)合其低層數(shù)據(jù)錄入子程序 ， 它可以作為一個可執(zhí)行文件安裝在任何 PC 視窗操作系統(tǒng)和正確安裝聲卡包括安裝的 Windows 兼容的司機(jī)。 圖 2 設(shè)定了聲卡的測試 此安裝必須結(jié)合一個方便的軟件 ,它必須控制聲音激射測試 ， 收集和處理的記錄的數(shù)據(jù) ，以及目前和檔案的結(jié)果。 4 測試軟件和安裝特點 一般安裝所需要的聲音錄音部分射性能測試是非常簡單的 (圖 2)。麥克風(fēng)輸入和一個較不敏感的線錄和麥克風(fēng) (輔助 )輸入是內(nèi)置在為連接外部模擬信號的來源。線性格式 (PCM)， 這是最適合的格式的性能測試 ,他被選中在發(fā)達(dá)的測試程序。這一結(jié)果在限制的輸入與輸出頻率 ,通常用來 本科畢業(yè)設(shè)計（論文）外文翻譯 3 頻率跨度帶寬 從 20 赫茲到 20 千赫 ， 避免應(yīng)用靜態(tài)測試方法的應(yīng)用 ,導(dǎo)致的動態(tài)檢測方法采用正弦輸入測試信號。作者們更喜歡動態(tài)測試方法基于 FFT 頻譜或正弦曲線擬合和確定有效的比特數(shù) (第三 )和測試頻率為主要質(zhì)量的特征性參數(shù)的測試板。 1241 ADC 的動態(tài)參數(shù)對計算機(jī)聲卡測試波形記錄儀中扮演的角色?；谥狈綀D方法的一般都是非常方便的 ， 因為聲卡的特征性交流耦合對信號輸入的卡片 (圖 1)。 1241[2]， [3]DYNAD 來與一些新的理念和測試步驟進(jìn)行更詳細(xì)的討論。新的專有虛擬儀 本科畢業(yè)設(shè)計（論文）外文翻譯 2 器（ VI）軟件開發(fā)，必須進(jìn)行實驗和測試。 通常聲卡比多功能機(jī)機(jī)和工業(yè)數(shù)據(jù)采集插板便宜 10 到 100 倍。在軟件開發(fā) LabWindows/CVI（ C 語言）和實行的低層次的 Win32API多媒體功能。1 浙江師范大學(xué)本科畢業(yè)設(shè)計 (論文 )外文翻譯 譯文： 軟件為計量大的特征性 PC 聲卡 作者： Jan Saliga 和 Linus Michaeli 1 電子通訊系，高冰大學(xué) 摘要 ： 論證了 一種虛擬儀器軟件，使得簡單而快速的性能測試和計量特征的任何 PC 機(jī)在波形記錄的應(yīng)用。 作者的意圖是應(yīng)用軟件進(jìn)行計算機(jī)部件供應(yīng)商 ,為教育示范的 ADC 測試原理 文章還包括了幾個例子，取得了有趣的結(jié)果從測試一些 PC 聲卡和實用的作者的經(jīng)驗，從個人電腦聲卡的測試。 另一方面，模擬輸入和輸出參數(shù)宣布由供應(yīng)商，如至少 16 位模擬至數(shù)字和數(shù)字到模擬轉(zhuǎn)換器（ ADC 和 DAC），決議的可能性表示這樣的 聲 卡 生成 低成本，低頻率 的 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，可以從化學(xué)，壓力，振動等傳感器的信號。 2．動態(tài)測試方法進(jìn)行波形記錄儀基于插板 標(biāo)準(zhǔn)的測試方法進(jìn)行波形記錄儀通常是眾所周知的 ， 他們也帶出一個全面的形式 IEEE性病。 此外，很多研究者已經(jīng)提出了許多觀點和方法來解決 AD 和 DA 的轉(zhuǎn)換測試問題，對于那些觀點的信息反饋和調(diào)查正在廣泛地進(jìn)行 [4] 。 圖 1 .典型的功能框圖的模擬信號和數(shù)字電路的信號記錄儀的一部 分在音效卡 標(biāo)準(zhǔn)都更關(guān)注行動一致并且獨(dú)立的可測試 ,但他們包含了很多的細(xì)節(jié)上執(zhí)行和評價的一些動態(tài)測試。 測試波形記錄儀在 PC 插件板的形式有一些細(xì)節(jié)。 在軟件領(lǐng)域 ,兩個通用版本的 VI 測試軟件已經(jīng)發(fā)展和 出版 在 LabVIEW[9]和另外的Matlab[8]。典型的功能框圖的聲音拼輸入記錄通道圖 1 顯示的是 ([1011]和其他的 )。各種各樣的可選的采樣頻率取決于聲卡 modelat 至少 1 16 和 kHzare 通常所提供的。 音效卡在可能是最經(jīng)常使用的個人電腦與操作系統(tǒng) (OS)Windows 9x / NT / 20xx /我 / XP。它是由一個精確的測試信號發(fā)生器和普通 PC 機(jī)和音效卡計算機(jī)機(jī)箱的考驗。當(dāng)前通用軟件 [89]不包含任何部分的資料 收集 ， 他們可以使只有數(shù)據(jù)處理。軟件開發(fā)環(huán)境 LabWindows /約定保險價值的民族樂器的支持下 ，軟件開發(fā)工具包 (SDK 由微軟 )， 被用來作為主要的 softwaredeveloping 工具。 觀想記錄的數(shù)據(jù) ， 包括為視覺評價 ,嗡嗡作響 ,也用來儲存和閱讀記錄的數(shù)據(jù) /從一個文件。分析和可視化的 ?記錄的數(shù)據(jù)在光譜域 ： 計算功率密度 ?譜和功率譜分布函數(shù)。接下來的兩個組合和相應(yīng)的噪聲 ， PN2 權(quán)力 (PN1 在頻率計算 fnk)/(fsamplingsf = fsignal + kfstep)(k = 0、 2)， 在那里 fstep0 步驟是開始的采樣頻率為最小的 PN 搜索程序。 5。 第一個測試模型集成 在相對較新的聲音 blasters m805lr ATX 主板和 m807r 用 PC 芯片[12][13]于 20xx 年。有一個內(nèi)建的 m805lr 10BaseT / 100BaseTX。 表 1 測試結(jié)果 ， 從第三編解碼器上實現(xiàn)聲音的形式 m805lr PC 芯片主板 :結(jié)果擬合 /結(jié)果頻譜 全尺寸表 ( 1K) 表 ,從第三編解碼器上實現(xiàn)的聲音 l807r 主板 PC 芯片 全尺寸表 ( 1K) 本科畢業(yè)設(shè)計（論文）外文翻譯 6 圖 4 (a)第三依賴測試信號頻率的 8 和 16(*)() bit單聲道模式 m805lr 編解碼器在 PC 上芯片 的聲音。 所取得的結(jié)果表明價格之間的差距太大了供應(yīng)商的宣布參數(shù)和真正的問題。 28846 進(jìn)入 midpoint112 代替 128,進(jìn)入 32768was 檢測。光譜比較 ,如圖 4 和圖 5 的廣告 nonharmonics低得多的 m807r 扭曲的。這個原因可以看出在圖的局限性。表 3 和圖 7 說明其中的一些。 所取得的結(jié)果提示 ,同樣在此之前 ， 一個糟糕的音頻輸入的質(zhì)量檢測筆記本特別是在 16位模式。一些實現(xiàn)的結(jié)果顯示在表 4 和圖 8 和圖 9。 (a)第三測試信號頻率的依賴 (*)的 8 16單聲道模式 (聲音的 )bit 射來的一種總線標(biāo)準(zhǔn)64。 聲卡的 8 位模式似乎非常接近理想的結(jié)果就缺超過 8 位是造成真正的量子化的比較理想的噪聲信號和歸一化的力量是簡化 ， 在大多數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)是 1 / 12。通常情況下 ，只有大約 一點。這似乎是一種非常有用的 toolit 使測量和習(xí)得的音效卡 ， 許多復(fù)雜的參數(shù)在較短 的時間內(nèi)。在 16 位模式下尤其明顯。此外，不同聲卡的測量參數(shù)存在著相當(dāng)大的差異。 在 :動態(tài)測試 ,IMEKO 研討會論文集 ,ISSDMI TC4 98 年的今天 ,意大利那不勒斯隊 (1998),頁 .889892. [6] m . Pokorny》 ,第五卷 ,Haasz 替代方法的 A / D 轉(zhuǎn)換質(zhì)量檢測。在 IMEKO:十六 ,IMEKO 20xx年世界大會 ,訴訟 ,維也納 ,奧地利 (20xx). [9] j .布萊爾 ,Sinefitting IEEE標(biāo)準(zhǔn)和軟件為 1241 1057 年 .論文的第 16 次 IEEE儀器和測試技術(shù)研 討會 ,頁。ho 13, SK04120, Ko ice, Slovak Republic,Available online 17 September 20xx. Abstract： The paper demonstrates a virtual instrument software that enables the performance of simple and fast testing and metrological characterisation of any PC sound card in waveform recorder applications. In addition to the visualisation of recorded signal patterns in time and spectral domains, the software directly putes a variety of basic metrological parameters of input analogue channels, . effective number of bits, THD, THD+noise, SINAD, etc., according to IEEE Standards 1057 and 1241 and DYNAD. The parameter determination is performed in time, as well as in spectral, domain to pare the achieved results. The software was developed in LabWindows/CVI (C language) with implementation of lowlevel Win32 API multimedia functions. The authors39。 ADC dynamic test。98, Naples, Italy (1998), pp. 889–892. 6. M. Pokorny and V. Haasz , Alternative method of A/D conversion quality verification. In: Instrumentaion and Measurement Technology Conference, IMTC/99, Proceedings of the 16th IEEE, 本科畢業(yè)設(shè)計（論文）外文翻譯 25 Venice, Italy vol. 3 (1999), pp. 1421–1424. Full Text via CrossRef | View Record in Scopus | Cited By in Scopus (1) 7. R. Holcer , The performance test of AD Con。s declared parameters and the real ones. Especially in the 16bit mode, the maximum reached ENOB value was always below 10 bits at m805lr and slightly more than 10 bits at m807r. Moreover, the sharp decrease of ENOB dependence with the input test signal frequency on frequencies over about 5 kHz was assigned at m805lr. Also, an offset of the ADC input range midpoint—112, resp. 28846 instead of 128, resp. 32768—was detected. It deteriorates the input voltage range. Better values of the lastmentioned parameters were achieved for m807r. It is rather strange because both motherboards use the same sound chips. Spectrum parison in Fig. 4 and Fig. 5 adverts much lower distortion by nonharmonics for m807r. Changing the sampling frequency did not result in any change overing at both l80x boards. The further tested sound blaster was built on chip CM8330 [14] integrated on an older AT mainboard m559 by PC CHIPS. The first test results indicated a very low quality of the sound blaster recorder part and led to the cancellation of any next test. The reasons can be seen in Fig. 6—the floor limitation of test signal at leve