【正文】 規(guī)范上限 時(shí)間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大） SPC統(tǒng)計(jì)過程控制基本知識(shí) 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) n 過程分類 (按其能力和是否受控 ) 控制 l理想的過程是第 1類過程 。 表現(xiàn)為： 1. 過程固有的，也就是系統(tǒng)的原因； 2. 始終作用于過程； 3. 過程的分布是可以預(yù)測(cè)的； SPC統(tǒng)計(jì)過程控制基本知識(shí) 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 特殊原因： （通常也叫可查明原因）是指造成不是始終作用于過程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成（整個(gè)）過程的分布改變。只用特殊原因被查出且采取 措施 ,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測(cè)的影響過程的輸出。 l第 2類過程受控但因普通原因的變差過大 。 滿足能力 受控 不受控 可接受 1 類 3 類 不可接受 2 類 4 類 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制基本知識(shí) 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) n 過程分類 (按其能力和是否受控 ) 第 3類過程符合要求 ,但不是受控過程 (特殊原因 )。 提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)能力、降低成本。 數(shù)據(jù)收集四原則 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)的基本概念 ?單位產(chǎn)品 （ unit product）： 為實(shí)施檢驗(yàn)的需要而劃分的基本單元。 ?計(jì)量值 ： 以產(chǎn)品本身的特性來表示，如長度、溫度、總重量等 。 注意要掌握數(shù)據(jù)變差的內(nèi)容 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 上限 中心值 上限 下限 中心值 中心偏左的直方圖 考慮會(huì)出現(xiàn)什么問題 中心偏右的直方圖 考慮會(huì)出現(xiàn)什么問題 上限 下限 理想型直方圖 中心偏右的直方圖考慮會(huì)出現(xiàn)什么問題下限 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 上限 下限 下限 上限 分散度小的直方圖 能力富裕型 分散度大的直方圖 能力不足型 無富裕型直方圖 上限 下限 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 直方圖形態(tài)分析 對(duì)于直方圖主要分析兩類問題 一是觀察數(shù)據(jù)的分散程度 二是數(shù)據(jù)分布中心與規(guī)格中的偏離狀態(tài) 數(shù)據(jù)覆蓋的范圍，由過程固有技術(shù)特性決定。 (3)眾數(shù) Mo： n個(gè)樣本測(cè)定值中，發(fā)生次數(shù)最多的數(shù)值 (4)全距 R：樣本數(shù)據(jù)中最大數(shù)與最小數(shù)之差。 1，其概率分布如下圖。 3σ 分布范圍內(nèi)的概率分布為 %。 僅適用于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定過程，是過程在受控狀態(tài)下的實(shí)際加工能力，不考慮過程的偏移，是過程固有變差（僅由于普通原因產(chǎn)生的變差）的 6σ范圍，式中 σ通常用 Rbar/d2或者 sbar/c4來估計(jì)。 n Cpk:能力指數(shù)，綜合考慮了過程分布的位置和變差的能力指數(shù)。 ≤ CPK≤ n PPK：過程性能指數(shù)，因?yàn)橛?jì)算不需要過程穩(wěn)定（因?yàn)樵谟?jì)算公式中已經(jīng)考慮了普通和特殊兩種原因的影響），所以在 PPAP手冊(cè)中要求在產(chǎn)品進(jìn)行試生產(chǎn)過程不穩(wěn)定時(shí)（此時(shí)過程受兩種原因影響）用 PPK衡量過程能力，要求PPK= 才能進(jìn)入量產(chǎn)階段，所以又把 PPK稱為初期能力指數(shù)。即： 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 過程能力與設(shè)備能力的區(qū)別 ： 過程能力 設(shè)備能力 取樣 給定周期內(nèi)抽取樣本（大于 125個(gè)） 連續(xù)加工零件組成樣本（ 50個(gè)） 原材料 多批 單批 工具 正常周期 改變 不允許改變 操作者 全部操作者 一個(gè)操作人員 檢驗(yàn) 全部檢驗(yàn)人員、同類量具 一個(gè)檢驗(yàn)人員、一種量具 評(píng)價(jià)參數(shù) Cpk≥ CMk≥ 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 過程指數(shù) 過程能力 指數(shù) 與過程性能 指數(shù) n 過程能力指數(shù) Cp、 Cpk：只包含子組內(nèi)變差（以子組內(nèi)數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差進(jìn)行評(píng)估），不考慮過程均值與目標(biāo)值的偏差程度； n 過程性能指數(shù) Pp、 Ppk：包含子組內(nèi)變差和子組間變差（以所有數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差進(jìn)行評(píng)估）；考慮過程均值與過程目標(biāo)值的偏差程度。既： ? 3 x T Cpk L ? ? 接近下限時(shí) 接近上限時(shí) ? Cpk U ? ? x x T x TU T=TUTL 3σ TL 3σ μ 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 過程能力指數(shù)的計(jì)算（單側(cè)公差） ? 3 x T Cpu U ? ? 表示數(shù)據(jù)分布中心 x 2. 只有下限公差時(shí)，過程能力為 CpL 。 。 — 工具磨損、加工條件隨時(shí)間變化的規(guī)律，采取調(diào)整和補(bǔ)償。 q 提高過程能力，減少分散程度 — 改進(jìn)工藝方法，優(yōu)化過程參數(shù)，使用新材料，新技術(shù) — 更新設(shè)備，提高工裝精度 — 減少材料批次間的波動(dòng) q 修訂公差范圍 必須保證不影響產(chǎn)品質(zhì)量，可修訂不切實(shí)際的過高公差 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 第 四 章 :控制圖的應(yīng)用 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 3σ 控制的判穩(wěn)準(zhǔn)則 ? P (μ3σ X μ+3σ ) = 是基于正態(tài)分布的重要特性。但只打一個(gè)點(diǎn)未出界可能是 過程穩(wěn)定 虛報(bào) （一類錯(cuò)誤，二類錯(cuò)誤） 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 管理要求 FMEA分析 關(guān)鍵產(chǎn)品特性 KPC 關(guān)鍵控制特 性的界限規(guī)格 確定來自客戶的圖紙、技術(shù)協(xié)議以及相關(guān)技術(shù)規(guī)格規(guī)定等。 關(guān)鍵控制特性 KCC 根據(jù)關(guān)鍵產(chǎn)品特性在各個(gè)工序的分布，建立與之對(duì)應(yīng)的工序控制矩陣圖，從而確定需要控制的工序特性項(xiàng)目。 5).控制下限（ LCL）：中心線下方的控制界限。 ?收集并記錄 20～ 25個(gè)樣本組的數(shù)據(jù)，或使用以前所記錄的數(shù)據(jù)，通常每組樣本量 n=4～ 5個(gè)。 適用于產(chǎn)品批量大且生產(chǎn)正 常、穩(wěn)定的工序。缺點(diǎn)是不易發(fā)現(xiàn) 工序分布中心的變化。 樣本含量相等。要求樣本量大。 ~ 華邦機(jī)械 每天進(jìn)步一點(diǎn)點(diǎn) 控制圖的種類與控制界限計(jì)算 類別 名稱 符號(hào) 特點(diǎn) 適用場(chǎng)合 中心線 控制界限線 計(jì) 量 值 控 制 圖 平均值 — 極差控制圖 X — R X — R ~ X — RM 中位數(shù) — 極差控制圖 單值 — 移動(dòng)差 控制圖 平均值 — 標(biāo)準(zhǔn)偏差 控制圖 X — S 最常用，判斷工序 是否正常的效果好， 但計(jì)算工