【正文】 接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)，其適用范圍和使用原則見表6 H 的規(guī)定進(jìn)行。 在鋼板邊緣檢測(cè)區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度、最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一 1m檢測(cè)長(zhǎng)度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。在具體進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)要求時(shí)，表 4 和表 5 應(yīng)獨(dú)立使用。a） 一個(gè)缺陷按其指示的矩形面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積；b） 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度時(shí)， 按單個(gè)缺陷處理， 缺陷指示面積為各缺陷面積之和。掃查示意圖見圖 3；c） 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d） 雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。c 板厚不小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，如能確定板材底面回波與不同深度Ф5平底孔反射波幅度之間的關(guān)系，也可取鋼板無(wú)缺陷的完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度。圖 1 階梯平底試塊 20 的板材時(shí)，對(duì)比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表 2 和圖 2 的規(guī)定。 缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判(見附錄A)12 承壓設(shè)備用原材料鋼板超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)本工藝適用于板厚6～250的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)及其缺陷等級(jí)評(píng)定。 應(yīng)依據(jù)檢測(cè)記錄出具檢測(cè)報(bào)告。11 超聲檢測(cè)記錄和報(bào)告 檢測(cè)設(shè)備器材：a ） 檢測(cè)儀器型號(hào)及編號(hào)；b ） 探頭 ( 類型、晶片尺寸、 K 值、標(biāo)稱頻率等 ) ；c ） 試塊型號(hào)；d ） 耦合劑。 掃查靈敏度的復(fù)核復(fù)核時(shí)，如發(fā)現(xiàn)掃查靈敏度或距離—波幅曲線上任一深度人工反射體回波幅度下降 2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升 2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。 在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，對(duì)引起檢測(cè)靈敏度下降和缺陷當(dāng)量誤差的因素應(yīng)進(jìn)行補(bǔ)償，這些因素包括耦合、材質(zhì)衰減和曲面的差異造成的靈敏度變化。 檢測(cè)時(shí)應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)被檢查區(qū)域是應(yīng)保證足夠的復(fù)蓋率（應(yīng)大于探頭直徑的15％）。，其內(nèi)容應(yīng)包括：a) 檢測(cè)技術(shù)要求：檢測(cè)技術(shù)（直接接觸法直探頭檢測(cè)、斜探頭檢測(cè)、）和檢測(cè)波形；b) 檢測(cè)對(duì)象：承壓設(shè)備類別，檢測(cè)對(duì)象的名稱、規(guī)格、材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測(cè)部位等；c) 檢測(cè)設(shè)備器材：儀器型號(hào)、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類。對(duì)距離波幅曲線的校核不少于3點(diǎn)。測(cè)定應(yīng)按附錄D有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。每隔6個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按GB/。 奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于 250mg/L。，試塊用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于2mm 平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。 對(duì)比試塊，含有意義明確參考反射體的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測(cè)設(shè)備的幅度和（或）時(shí)間分度，以將所檢出的不連續(xù)信號(hào)與已知反射體所產(chǎn)生的信號(hào)相比較，即用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。、短橫孔、平底孔、線切割槽和Ｖ型槽等。 儀器和探頭組合頻率的測(cè)試方法按JB/T10062的規(guī)定，其他組合性能的測(cè)試方法參照J(rèn)B/T9214的規(guī)定。10%。 超聲探傷儀和探頭的組合性能、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)（僅限直探頭）和遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力，測(cè)試方法按附錄C、附錄D、附錄E規(guī)定執(zhí)行。b 圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40mm，方形晶片任一邊長(zhǎng)一般不應(yīng)大于40mm。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB誤差在177。Ⅰ級(jí)（初級(jí)）、Ⅱ級(jí)（中級(jí)）和Ⅲ級(jí)（高級(jí)）。 回波動(dòng)態(tài)波型回波動(dòng)態(tài)波形是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊?；鶞?zhǔn)靈敏度：一般指將對(duì)比試塊人工反射體回波高度或被檢工件底面回波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈敏度。適用范圍本工藝規(guī)定了鍋爐、壓力容器及承壓設(shè)備管子采用A型脈沖反射式超聲探傷儀檢測(cè)工件焊接接接頭的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定要求。標(biāo)準(zhǔn)超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程制定2015/09/28目的1目的本工藝規(guī)程是根據(jù)NB/T47013—2015《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》的第1部分：通用要求和第3部分：超聲檢測(cè)，并結(jié)合我公司的實(shí)際情況進(jìn)行制定。且適用于鋼板、鍛件超聲檢測(cè)以及超聲測(cè)厚方法。掃查靈敏度則主要指實(shí)際檢測(cè)靈敏度。缺陷在工件厚度方向上的尺寸。 工件厚度 t a）對(duì)于平板對(duì)接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相等時(shí)，工件厚度t為母材厚度；焊縫兩側(cè)母材厚度不等時(shí)，工件厚度t為薄側(cè)母材公稱厚度；b）對(duì)于插入式接管角焊縫，工件厚度t為筒體或封頭公稱厚度；安放式接管角焊縫，工件厚度t為接管公稱厚度；c）對(duì)于T型焊接接頭，工件厚度t為腹板公稱厚度。Ⅱ級(jí)或Ⅲ級(jí)資格證的人員擔(dān)任，且資格證應(yīng)在有效期內(nèi)。1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB。其性能指標(biāo)應(yīng)符合附錄 O 的要求，測(cè)試方法應(yīng)按 GB/T 的規(guī)定。：a) 新購(gòu)置的超聲檢測(cè)儀器和探頭；b）儀器和探頭在維修或更換主要部件后；c）檢測(cè)人員有懷疑時(shí)。 儀器直探頭組合性能應(yīng)滿足以下要求：a) 靈敏度余量應(yīng)不小于32dB.b）在基準(zhǔn)靈敏度下，對(duì)于標(biāo)稱頻率為5Hz的探頭，盲區(qū)不大于10 mm；，盲區(qū)不大于15 mm；c）直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于20dB?，F(xiàn)有的探頭 單位：mm探頭類別探頭K值晶片尺寸探頭頻率直探頭/14D、20D、5Hz雙晶探頭/20D5 Hz斜探頭K1101313 HzK2101313 HzK36101313 Hz、5 Hz7 試塊和耦合劑 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本工藝規(guī)程規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)的試塊，本工藝采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有：CSKIA（入射點(diǎn)、K值、分辨力測(cè)試） 、CSKIIA 、CSKIIIA 、DZ–1(直探頭盲區(qū)測(cè)試) 、DB–P Z202和 DB–P Z204（垂直線性測(cè)試、水平線性測(cè)試、靈敏度余量測(cè)試）。校準(zhǔn)時(shí)，探頭主聲束應(yīng)與反射體的反射面相垂直。本工藝采用的對(duì)比試塊有：階梯平底試塊，鋼板超聲檢測(cè)對(duì)比試塊、奧氏體不銹鋼焊縫對(duì)比試塊、鋼管環(huán)向?qū)咏宇^GS試塊、鍛件CS試塊、承壓設(shè)備曲面縱向?qū)咏宇^RBL1和RBL2試塊、承壓設(shè)備曲面環(huán)向?qū)咏宇^RBC試塊。、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本規(guī)程的規(guī)定。8超聲檢測(cè)設(shè)備和器材的測(cè)定、核查、運(yùn)行核查和復(fù)核要求系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。(見附錄C)對(duì)實(shí)際使用中探頭每3個(gè)月至少對(duì)盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄。遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；b 檢測(cè)人員懷疑掃描量程和掃查靈敏度有變化時(shí)；c 連續(xù)工作4h以上時(shí)；d 工作結(jié)束時(shí)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核后所檢測(cè)的部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。d) 檢測(cè)工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法、檢測(cè)記錄和評(píng)定要求、檢測(cè)示意圖等。,以防止漏檢。a） 耦合補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償；b） 衰減補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償；c） 曲面補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，對(duì)檢測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)對(duì)由工件和試塊曲率半徑不同引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。 不允許存在的缺陷應(yīng)返修。 檢測(cè)工藝參數(shù)：a) 檢測(cè)范圍、掃查位置（面、側(cè)等） ；b) 掃描比例；c) 掃查方式；d) 檢測(cè)靈敏度；e) 耦合補(bǔ)償量等。超聲檢測(cè)報(bào)告除符合 NB/T 的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括以下內(nèi)容：a ） 委托單位；b ） 檢測(cè)技術(shù)等級(jí)；c ） 檢測(cè)設(shè)備器材：儀器型號(hào)及編號(hào)、探頭、試塊、耦合劑；d ） 檢測(cè)示意圖：檢測(cè)部位、檢測(cè)區(qū)域以及所發(fā)現(xiàn)的缺陷位置、尺寸和分布。奧氏體鋼板材的超聲檢測(cè)可參照?qǐng)?zhí)行。對(duì)比試塊人工反射體為Ф5 平底孔，反射體個(gè)數(shù)至少 3 個(gè)。 掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。 檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償和衰減補(bǔ)償。表3 板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)區(qū)域?qū)挾? 單位：圖3 探頭掃查示意圖15缺陷的測(cè)定與記錄，發(fā)現(xiàn)下列二種情況之一即作為缺陷：a） 缺陷第一次反射波（F 1 ）波幅高于距離波幅曲線，或用雙晶探頭檢測(cè)板厚小于 20 板材時(shí)，缺陷第一次反射波（F 1 ）波幅大于或等于顯示屏滿刻度的 50%；b） 底面第一次反射波（B 1 ）波幅低于顯示屏滿刻度的 50%，即 B 1 ＜50%。在任一1mm1檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來(lái)確定。 在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。如整張板材邊緣檢測(cè)長(zhǎng)度小于 1m，缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。圖4 CSKⅠA 試塊 圖5 CSKⅡA 試塊 單位：圖6 CSKⅢA 試塊 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為A、B、C三個(gè)檢測(cè)級(jí)別。 不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的一般要求不同類型焊接接頭超聲檢測(cè)的具體要求見附錄 G（規(guī)范性附錄）。 B級(jí)檢測(cè)a ） B 級(jí)適用于工件厚度為6~200mm焊接接頭的檢測(cè)；b ） 焊接接頭一般應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)；c ） 對(duì)于按附錄 G （規(guī)范性附錄）要求進(jìn)行雙面雙側(cè)檢測(cè)的焊接接頭，如受幾何條件限制或由于堆焊層（或復(fù)合層）的存在而選擇單面雙側(cè)檢測(cè)時(shí)，還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作近表面缺陷檢測(cè)。母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下：1） 掃查靈敏度：將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為顯示屏滿刻度的 100 %；2） 凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)顯示屏滿刻度 20 %的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。 焊接接頭檢測(cè)區(qū)寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各10mm確定。若增加檢測(cè)探頭數(shù)量或增加檢測(cè)面（側(cè)）還不能完全覆蓋，應(yīng)增加輔助檢測(cè)，包括采用其他無(wú)損檢測(cè)方法。） 。檢測(cè)面一般應(yīng)進(jìn)行打磨。~70176。直探頭標(biāo)稱頻率的選取可參照表 7 的規(guī)定。b 檢測(cè)靈敏度：用接觸式脈沖反射法，將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100％。—波幅曲線繪制 距離 波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。表6 斜探頭或直探頭檢測(cè)距離波幅曲線的靈敏度試塊型式工件厚度t/評(píng)定線定量線判廢線CSKIIA≥6～40＞40～100＞100～200fφ24018dBfφ26014dBfφ26010dB φ24012dBφ2608dBφ2604dBfφ2404dBfφ260+2dBfφ260+6dB 8~120mm的焊接接頭，斜探頭檢測(cè)時(shí)，用 CSKIIIA 試塊制作的距離波幅曲線靈敏度按表7的規(guī)定。 掃查靈敏度不應(yīng)低于評(píng)定線靈敏度，此時(shí)在檢測(cè)范圍內(nèi)最大聲程處的評(píng)定線高度不應(yīng)低于熒光屏滿刻度的 20%。 ~15 176。 作兩個(gè)方向斜平行掃查，見圖 12 。 檢測(cè)面曲率半徑小于或等于 250mm對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)的一般原則 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑 R ≤W2/4 時(shí)（ W 為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度） ，應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照對(duì)比試塊確定。a 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭Ｋ值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫。 缺陷定量檢測(cè) 。△L的測(cè)定采用以下方法：1）當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于 II 區(qū)或 II 區(qū)以上時(shí)，用 6dB 法測(cè)量其指示長(zhǎng)度。 沿缺陷長(zhǎng)度方向相鄰的兩缺陷，其長(zhǎng)度方向間距小于其中較小的缺陷長(zhǎng)度且兩缺陷在與缺陷長(zhǎng)度相垂直方向的間距小于 5 時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷長(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng)度（間距計(jì)入） 。 探頭標(biāo)稱頻率一般采用 4Hz ~5Hz ，當(dāng)管壁厚度大于 15mm 時(shí)，采用 2Hz~ 的探頭。 探頭楔塊的曲率應(yīng)加工成與接管外徑相吻合的形狀。 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)，其表面粗糙度 Ra ≤ 25μ ，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于 P ， P 距離波幅曲線的繪制。圖 15 距離波幅曲線示意圖 2 不同管壁厚度的距離 波幅曲線靈敏度應(yīng)符合表 11 的規(guī)定。 為了觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形或區(qū)分偽缺陷信號(hào)以確定缺陷的位置、方向、形狀，可采用前后、左右等掃查方法。將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號(hào)的位置，測(cè)定波幅大小，并確定它在距離波幅曲線中的區(qū)域。 缺陷的評(píng)定、未熔合等類型缺陷特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭 K 值、觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形并結(jié)合焊接工藝等進(jìn)行綜合分析。 評(píng)定線以下的缺陷均評(píng)為I級(jí)。注2：，使聲束垂直于缺陷的主要方向移動(dòng)探頭測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度。表 13 鍋爐、壓力容器管子環(huán)向或縱向焊接接頭超聲檢測(cè)質(zhì)量分級(jí) 18 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí) 范圍 本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。檢測(cè)厚度小于等于45mm時(shí)，應(yīng)采用雙晶直探頭進(jìn)行。雙晶直探