顯微分析技術(shù)電子顯微鏡-wenkub
2023-05-27 18:43:55 本頁面
【正文】 ★ 放大倍數(shù)范圍廣，從十幾倍到 2萬倍，幾乎覆蓋了光學(xué)顯微鏡和 TEM的范圍 ★ 制樣簡(jiǎn)單，樣品的電子損傷小 這些方面優(yōu)于 TEM，所以 SEM成為高分子材料 常用的重要剖析手段 掃描電鏡的最大特點(diǎn) SEM與 TEM的主要區(qū)別 ★ 在原理上， SEM不是用透射電子成像，而是用二次電子加背景散射電子成像。但電子束直徑越小，信噪比越小 。 掃描電鏡 (SEM) 放大倍數(shù) 分辨率 屏 幕 的 分 辨 率放 大 倍 數(shù) ＝電 子 束 直 徑SEM的焦深是較好光學(xué)顯微鎊的 300－ 600倍。 襯 度 表面形貌襯度主要是樣品表面的凹凸 (稱為表面地理 )決定的。它是利用離子轟擊樣品表而時(shí)，中于兩相被離子作用的程度不同，而暴露出晶區(qū)的細(xì)微結(jié)構(gòu)。 ◆ ◆ ◆ 用掃描電鏡觀 察拉伸情況 噴金的樣品 掃描電子顯微鏡的工作內(nèi)容 微區(qū)形貌觀測(cè) ① 二次電子像 可得到物質(zhì)表面形貌反差的信息，即微觀形貌像。 掃描電子顯微鏡的應(yīng)用實(shí)例 圖中表明催化組分由表及里沿徑向呈下降趨勢(shì)。測(cè)量表面的不同位置的電子態(tài)、表面電位及表面逸出功分布。此外，用 AFM還可測(cè)量表面原子間力、表面的彈性、塑性、硬度、粘著力、摩擦力等性質(zhì)。 通過移動(dòng)著的探針與物質(zhì)表面的相互作用，表面與針尖間的隧穿電流反饋出表面某個(gè)原子間電子的躍遷，由此可以確定出物質(zhì)表面的單一原子及它們的排列狀態(tài)。 ◆ ◆ 掃描隧道和原子力電子顯微鏡 一般掃描電子顯微鏡放大
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