ict測(cè)試原理及程式簡介-wenkub
2023-05-14 04:57:26 本頁面
【正文】 st 3070 Agilent 3070 TestHead Bank 2 Bank 1 Module 2 Module 0 Module 3 Module 1 Slot 1 Slot 1 Slot 1 Slot 1 Slot 1: ASRU Slot 6: Module Control Card All others: Pin Cards Pin 78 1 Pin 1 78 Fixture Numbering BRC: Bank Row Column Bank 2 Bank 1 Module 2 Module 3 Module 0 Module 1 Slot 1: ASRU Slot 6: Control Slot 1: ASRU Slot 6: Control Slot 1: ASRU Slot 6: Control Slot 1: ASRU Slot 6: Control MOTHER BOARD MOTHER BOARD Row 1 Row11 Row 13 Row 23 Row 1 Row11 Row 13 Row 23 Column 78 1 78 1 1A at: 2 20 61 CLOCK_ENABLE at: 2 18 48 Double Density node at: 2 20 1 61 Bank 1 Node: 1 18 48 ? Anatomy of the Agilent Medalist 3070 ? The Module Control Cards ? The Analog Stimulus Response Unit (ASRU) Agilent 3070 Module Mother card ASRU card Control card Pin card Slot 1 Slot 2 Slot 3 Pin card Slot 4 Slot 8 Slot 6 Slot 7 Slot 5 Slot 9 Slot 10 Slot 11 Pin card Pin card Pin card Pin card Pin card Pin card Pin card Module card configuration ASRU Card ? 提供模擬激勵(lì)信號(hào) ? 使用測(cè)量運(yùn)算放大器進(jìn)行反饋信號(hào)的測(cè)量 ? 提供上電測(cè)試的電源通道 ? 配在每個(gè)模塊第 1號(hào)插槽 Module Control Card ? 控制實(shí)際的測(cè)試過程 ? 2個(gè) rcvc,測(cè)試頻率 ? 帶有 8個(gè)通用開關(guān) (GP Relay) ? 配在每個(gè)模塊的第 6 號(hào)插槽 MUX S I A B L G MOA Detector Aux Source Hybrid Double Density Channel A Channel B . . . . . . . . . . . . Channel H Pin Card X1.…...X8 XG XL Analog Subsystem Digital Subsystem 9:2 R1 ASRU Hybrid 32 Card Channel 0 Channel 8 . . . . . . 6:2 Pin Card X1.…...X8 XG XL Digital Subsystem 3:2 MUX S I A B L G MOA Detector Aux Source Analog Subsystem ASRU ICT TEST程式 與 夾具 命名規(guī)則 設(shè)備型號(hào)T(TR8001,TR518), A(Agilent 3070) T,A+ P/N+EC+ 夾具套數(shù) 設(shè)備型號(hào) T,A+P/N+夾具套數(shù) MHS機(jī)種為例： ? P/N： 69Y4784 EC:N31078R ? ICT程式命名 : ? A90Y4784N31078R_01 ? ICT程式命名 :A90Y4784_01 三 . ICT的基本測(cè)試原理 ? 1. 隔離量測(cè)原理 ICT其實(shí)是一臺(tái)高級(jí)的萬用表，但它具有隔離 (GUARDING)功能，這是它不同于萬用表的最大特點(diǎn)。 寬： 公尺。其中 ICT系統(tǒng)主機(jī)包括：電源部分，量測(cè)控制板， I/O卡， DC量測(cè)板， AC量測(cè)板，開關(guān)板，HPJET
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