ict測(cè)試原理及程式簡(jiǎn)介-文庫(kù)吧
2025-04-14 04:57 本頁(yè)面
【正文】 Row11 Row 13 Row 23 Row 1 Row11 Row 13 Row 23 Column 78 1 78 1 1A at: 2 20 61 CLOCK_ENABLE at: 2 18 48 Double Density node at: 2 20 1 61 Bank 1 Node: 1 18 48 ? Anatomy of the Agilent Medalist 3070 ? The Module Control Cards ? The Analog Stimulus Response Unit (ASRU) Agilent 3070 Module Mother card ASRU card Control card Pin card Slot 1 Slot 2 Slot 3 Pin card Slot 4 Slot 8 Slot 6 Slot 7 Slot 5 Slot 9 Slot 10 Slot 11 Pin card Pin card Pin card Pin card Pin card Pin card Pin card Module card configuration ASRU Card ? 提供模擬激勵(lì)信號(hào) ? 使用測(cè)量運(yùn)算放大器進(jìn)行反饋信號(hào)的測(cè)量 ? 提供上電測(cè)試的電源通道 ? 配在每個(gè)模塊第 1號(hào)插槽 Module Control Card ? 控制實(shí)際的測(cè)試過程 ? 2個(gè) rcvc,測(cè)試頻率 ? 帶有 8個(gè)通用開關(guān) (GP Relay) ? 配在每個(gè)模塊的第 6 號(hào)插槽 MUX S I A B L G MOA Detector Aux Source Hybrid Double Density Channel A Channel B . . . . . . . . . . . . Channel H Pin Card X1.…...X8 XG XL Analog Subsystem Digital Subsystem 9:2 R1 ASRU Hybrid 32 Card Channel 0 Channel 8 . . . . . . 6:2 Pin Card X1.…...X8 XG XL Digital Subsystem 3:2 MUX S I A B L G MOA Detector Aux Source Analog Subsystem ASRU ICT TEST程式 與 夾具 命名規(guī)則 設(shè)備型號(hào)T(TR8001,TR518), A(Agilent 3070) T,A+ P/N+EC+ 夾具套數(shù) 設(shè)備型號(hào) T,A+P/N+夾具套數(shù) MHS機(jī)種為例： ? P/N： 69Y4784 EC:N31078R ? ICT程式命名 : ? A90Y4784N31078R_01 ? ICT程式命名 :A90Y4784_01 三 . ICT的基本測(cè)試原理 ? 1. 隔離量測(cè)原理 ICT其實(shí)是一臺(tái)高級(jí)的萬用表，但它具有隔離 (GUARDING)功能，這是它不同于萬用表的最大特點(diǎn)。 GUARDING的作用是使一個(gè)被測(cè)元件在測(cè)試時(shí)不受旁路元件的影響，而萬用表做不到這一點(diǎn)。在 ICT 內(nèi)部電路中利用一顆 OP放大器 當(dāng)做一個(gè)隔離點(diǎn)（最多可有五個(gè)隔離點(diǎn)），如果是 : source: An Overview of 3070 Test Unpowered Tests Shorts Analog Incircuit VTEP/TestJet Powered Tests Setup Power Supplies Digital Incircuit Analog Powered Pins Other Powered Part 3 ? Pins Test Pins測(cè)試概述 ? ICT測(cè)試的原理要求夾具的探針和電路板的測(cè)試點(diǎn) (testpad)要有良好的電氣接觸 . ? Pins測(cè)試就是在測(cè)試正式開始前驗(yàn)證探針和測(cè)試點(diǎn) 有無 接觸的工序 . ? Pins測(cè)試只定性驗(yàn)證有無接觸， pins pass是最低要求，并不能保證接觸良好 .(繞線出現(xiàn)錯(cuò)誤； pins接觸不好，阻抗大，但依然有 current flow。隔離點(diǎn)無法 測(cè) ) Pins Test “ A” “ B” “ C” “ D” “ E” “ F” “ G” “ Node_Names” + 1
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