ict測試原理及程式簡介-文庫吧
2025-04-14 04:57 本頁面
【正文】 Row11 Row 13 Row 23 Row 1 Row11 Row 13 Row 23 Column 78 1 78 1 1A at: 2 20 61 CLOCK_ENABLE at: 2 18 48 Double Density node at: 2 20 1 61 Bank 1 Node: 1 18 48 ? Anatomy of the Agilent Medalist 3070 ? The Module Control Cards ? The Analog Stimulus Response Unit (ASRU) Agilent 3070 Module Mother card ASRU card Control card Pin card Slot 1 Slot 2 Slot 3 Pin card Slot 4 Slot 8 Slot 6 Slot 7 Slot 5 Slot 9 Slot 10 Slot 11 Pin card Pin card Pin card Pin card Pin card Pin card Pin card Module card configuration ASRU Card ? 提供模擬激勵信號 ? 使用測量運算放大器進行反饋信號的測量 ? 提供上電測試的電源通道 ? 配在每個模塊第 1號插槽 Module Control Card ? 控制實際的測試過程 ? 2個 rcvc,測試頻率 ? 帶有 8個通用開關(guān) (GP Relay) ? 配在每個模塊的第 6 號插槽 MUX S I A B L G MOA Detector Aux Source Hybrid Double Density Channel A Channel B . . . . . . . . . . . . Channel H Pin Card X1.…...X8 XG XL Analog Subsystem Digital Subsystem 9:2 R1 ASRU Hybrid 32 Card Channel 0 Channel 8 . . . . . . 6:2 Pin Card X1.…...X8 XG XL Digital Subsystem 3:2 MUX S I A B L G MOA Detector Aux Source Analog Subsystem ASRU ICT TEST程式 與 夾具 命名規(guī)則 設(shè)備型號T(TR8001,TR518), A(Agilent 3070) T,A+ P/N+EC+ 夾具套數(shù) 設(shè)備型號 T,A+P/N+夾具套數(shù) MHS機種為例： ? P/N： 69Y4784 EC:N31078R ? ICT程式命名 : ? A90Y4784N31078R_01 ? ICT程式命名 :A90Y4784_01 三 . ICT的基本測試原理 ? 1. 隔離量測原理 ICT其實是一臺高級的萬用表，但它具有隔離 (GUARDING)功能，這是它不同于萬用表的最大特點。 GUARDING的作用是使一個被測元件在測試時不受旁路元件的影響，而萬用表做不到這一點。在 ICT 內(nèi)部電路中利用一顆 OP放大器 當做一個隔離點（最多可有五個隔離點），如果是 : source: An Overview of 3070 Test Unpowered Tests Shorts Analog Incircuit VTEP/TestJet Powered Tests Setup Power Supplies Digital Incircuit Analog Powered Pins Other Powered Part 3 ? Pins Test Pins測試概述 ? ICT測試的原理要求夾具的探針和電路板的測試點 (testpad)要有良好的電氣接觸 . ? Pins測試就是在測試正式開始前驗證探針和測試點 有無 接觸的工序 . ? Pins測試只定性驗證有無接觸， pins pass是最低要求，并不能保證接觸良好 .(繞線出現(xiàn)錯誤； pins接觸不好，阻抗大，但依然有 current flow。隔離點無法 測 ) Pins Test “ A” “ B” “ C” “ D” “ E” “ F” “ G” “ Node_Names” + 1
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