超聲波檢測(cè)工藝設(shè)計(jì)規(guī)范流程-wenkub
2023-04-27 04:33:24 本頁(yè)面
【正文】 方法和質(zhì)量分級(jí)等。，必要時(shí)由II級(jí)人員按合同要求編制，其檢測(cè)參數(shù)規(guī)定的更具體。、探頭和試塊現(xiàn)使用的儀器為汕頭超聲儀器廠生產(chǎn)的CTS22和CTS26型儀器和探頭。3）水平線性：水平線性誤差不大于1%。2）單斜探聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2176。 1）試塊應(yīng)采用與被檢工件相同或近似聲學(xué)的材料制成，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。 探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。 1)檢測(cè)面和檢測(cè)范圍的確定原則上應(yīng)保證檢查到工件被檢部分的整個(gè)面積。 在儀器開始使用時(shí)，應(yīng)對(duì)儀器的水平線性進(jìn)行測(cè)定，測(cè)定方法按ZBY230的規(guī)定進(jìn)行。 2)斜探頭校準(zhǔn) 使用前，斜探頭至少應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辯力等的校準(zhǔn)。 2）掃描量程的復(fù)核 如果距離一波幅曲線上任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)予以修正，并在檢測(cè)記錄中加以說(shuō)明。鋼板、鍛件送委托人轉(zhuǎn)檢驗(yàn)處存檔；壓力容器焊縫檢測(cè)報(bào)告，與其它檢測(cè)報(bào)告一起交檢驗(yàn)處存檔。 探頭的選用應(yīng)按表1的規(guī)定執(zhí)行，采用標(biāo)準(zhǔn)試塊如圖1所示。，應(yīng)將圖2所示的試塊平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為檢測(cè)靈敏度。圖3 探頭搜查示意圖 1）探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距為100ｍｍ的平行線進(jìn)行掃查。 2）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)第一次反射波(F1)波高與波底面第一次反射波(B1)波高之比大于或等于50%，即B1＜100%，而F1/B1≥50%者。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。 4），移動(dòng)探頭，使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。 1）一個(gè)缺陷按其指示的最大面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。表 3等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度(mm)單個(gè)缺陷指示面積cm2在任一1m1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比%以下單個(gè)缺陷指示面積不記cm2I＜100＜25≤3＜9II＜100＜100≤5＜15III＜120＜100≤10＜25IV＜150＜100≤10＜25(板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn))內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，則應(yīng)判廢，不作評(píng)級(jí)。 。圖4縱波直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊圖5 縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊表5 縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸序號(hào)φ2φ3φ4φ6檢 測(cè) 距 離 L12345678951015202530354045，應(yīng)采用對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖6所示。對(duì)筒形鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢測(cè)，但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定圖6 曲面對(duì)比試塊 橫波檢測(cè)應(yīng)按附錄A(補(bǔ)充件)的要求進(jìn)行。 2）鍛件厚度超過(guò)400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100%的掃查。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%。： a= 式中：a—衰減系數(shù)，dB/m(單程) (B1B2)—兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB T—工件檢測(cè)厚度，mm。，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m，應(yīng)考慮修正。缺陷密集區(qū)面積以50mm50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可以6dB法決定。圖7 檢測(cè)方向(垂直檢測(cè)法)注：↑為必須檢測(cè)方向；※為參考檢測(cè)方向表6 單個(gè)缺陷的等級(jí)評(píng)定等級(jí)IIIIIIIVV缺陷當(dāng)量直徑≤φ4φ4(＞08dB)φ4+(＞812dB)φ4+(＞1216dB)＞φ4+16dB表7 由缺陷引起底波降低量的等級(jí)評(píng)定等級(jí)IIIIIIIVV底波降低量BG/BF≤8＞814＞1420＞2026＞26注：本表僅適用于程大于一倍近場(chǎng)區(qū)的缺陷。 試塊 。 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑R小于等于W2/4(W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度)時(shí)，應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊。對(duì)于要求比較高的焊縫，根據(jù)實(shí)際需要也可將焊縫余高磨平，直接在焊縫上檢測(cè)。 ，； P=2TK
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