【正文】 文件名稱：文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次8 of 35（三） 貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范(電容,電阻,電感…)1. 目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0。(如圖一). 板翹與板扭：將PCB翹曲面朝上，放置于平板玻璃上，用塞規(guī)測量其翹起的高度。目檢G/F污染MAa. 金手指不可沾錫、沾漆、沾膠或?yàn)槠渌廴疚?。用? 應(yīng)商提供的試錫板分別過回流爐和波峰焊，上錫不良 %。目檢文字脫落MA。目檢基板變色MA。板長和寬分別參考不同Model的SPEC。分層MA。目檢BGA區(qū)域補(bǔ)線MAa. BGA區(qū)域不得有補(bǔ)線。目檢BGABGA防焊MAa. 在BGA部分，不得有油墨覆蓋錫墊之現(xiàn)象，線路防焊 必需完全覆蓋。目檢防焊氣泡MAa. 防焊漆面不可內(nèi)含氣泡而有剝離之現(xiàn)象。目檢防焊異物Minora. 防焊面不可沾附手指紋印、雜質(zhì)或其他雜物而影響外 觀。目檢錫墊MAa. 錫墊不得脫落、翹起、短路。目檢變形MAa. 孔壁與錫墊必須附著性良好，不可翹起，變形或脫落。帶刻度放大鏡目檢板邊余量MAa. 。目檢線路剝離CRa. 線路必須附著性良好，不可翹起或脫落。放大鏡、萬用表線路裂痕MAa. 在線路或線路終端部分的裂痕，不可超過原線寬1/3。b. 。主要缺點(diǎn)(MA): 。2. 適用范圍適用于本公司所有之PCB檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計(jì)劃》。次要缺點(diǎn)(MI): .6. 參考文件1. IPC – A 600E, Acceptability of Printed Circuits Boards. 2. IPC – R 700C, Rework Methods amp。c. ，且不可露銅。帶刻度放大鏡線路不良MAa. 線路因蝕銅不良而呈鋸齒狀部分不可超過原線寬的 1/3。目檢補(bǔ)線MAa. 補(bǔ)線長度不得大于5mm，寬度為原線寬的80%~100%。帶刻度放大鏡刮傷MAa. 刮傷長度不超過6mm，深度不超過銅鉑厚度的1/3。目檢PAD，RING錫墊缺口MAa. 錫墊之缺口、凹洞、露銅等，不得大于單一錫墊之總 面積1/4。目檢防焊線路防焊脫落、起泡、漏印。目檢防焊刮傷MAa. 不傷及線路及板材(未露銅）之防焊刮傷，長度不可大于 15mm，且C/S面不可超過2條，S/S面不可超過1條。目檢防焊漆殘留MAa. 金手指、SMT PADamp。放大鏡BGA區(qū)域 導(dǎo)通孔塞孔MAa. BGA區(qū)域要求100%塞孔作業(yè)。目檢BGA PADMAa. BGA PAD不得脫落、缺口、露銅、沾附防焊油墨及異物。目檢文件名稱：文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次5 of 35檢驗(yàn)項(xiàng)目缺點(diǎn)名稱缺點(diǎn)定義檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方式備注外觀板角撞傷MAa. 因制作不良或外力撞擊而造成板邊（角）損壞時(shí)，則 ?？ǔ甙鍙漚mp。目檢絲印文字清晰度Minora. 所有文字、符號均需清晰且能辨認(rèn)，文字上線條之中 斷程度以可辨認(rèn)該文字為主。目檢 異丙醇文字覆蓋 錫墊MA（無論面積大?。?。目檢金手指G/F刮傷MA。目檢金手指G/F凹陷MAa. 金手指凹陷、凹洞見底材或銅面刮傷，不得在金手指中間3/5的關(guān)鍵位置，唯測試探針之針點(diǎn)可允收。 (如圖二)文件名稱：文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次7 of 35(二)IC類檢驗(yàn)規(guī)范(包括BGA)1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之依據(jù)。主要缺點(diǎn)(MA): 。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b. 來料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c. 本體變形，或有肉眼可見的龜裂等不可接受；d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔，其面積不超 ,且未露出基質(zhì), 可接受；否則不可接受；e. Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；f. 元件腳彎曲，偏位, 缺損或少腳，均不可接受；目檢或10倍以上 的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。2. 適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容,電阻,電感…）之檢驗(yàn)。次要缺點(diǎn)(MI): .5. 參考文件《LCR數(shù)字電橋操作指引》《數(shù)字萬用表操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是 否都正確,任何有誤,均不可接受。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測試儀數(shù)字萬用表檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。 注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。2. 適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。次要缺點(diǎn)(MI): .5. 參考文件《LCR數(shù)字電橋操作指引》、《數(shù)字電容表操作指引》。目檢可焊性檢驗(yàn)MA，或完全不上錫不可接受。2. 適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。次要缺點(diǎn)(MI): .5. 參考文件《數(shù)字頻率計(jì)操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。測試工位 和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測方法晶體檢 測 方 法 在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測晶體, 再接通電源開機(jī)。2. 適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。次要缺點(diǎn)(MI): .5. 參考文件無檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。4. 允收水準(zhǔn)（AQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)；b. 塑料與針腳不能緊固連接；c. 塑料體破損，體臟，變形，明顯色差，劃傷，縮水；d. 過錫爐后塑料體外觀變色，變形，脫皮。b. 上蓋過松不可接受。插槽(座)類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)排針amp。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計(jì)劃》。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。b. 。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計(jì)劃》。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受?？ǔ唠娦詸z驗(yàn)MAa. 字萬用表指向直流電壓檔20V，兩表筆分別接在電池兩端(即正負(fù)極)。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計(jì)劃》。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。c. IDE排線的傳輸速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,請QA的同事幫助測試?yán)y試檢驗(yàn)MAa. 與公端對插,插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.( 拉力測試: 用標(biāo)準(zhǔn)Box Header與排線對插好，用拉力計(jì)測出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。20PIN:~，不可插壞主板之插座；，必需沿水平方向拔出，如果拉拔力均不符合要求，須重測三次；如有一次符合，則此CABLE拉拔 力合格；如三次均不符合要求，需轉(zhuǎn)換另一BOX HEADER (可連續(xù)轉(zhuǎn)換三次新的BOX HEADER)，以同樣的 方式測試。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計(jì)劃》。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。d. 表面、邊沿或凹槽內(nèi)殘留任何臟污、鐵屑及毛邊等，均不 可接受；e. 對于正表面上未露出基材的劃痕，可將散熱片置于檢驗(yàn)者的正前方約一臂遠(yuǎn)，與視線分別成90度和45度，若兩個(gè)角度均可見則不可接受；f. 散熱片正表面在拉鋁過程中留下的針孔，若其直徑大于 ；g. 散熱片被切割不整齊不可接受；h. 散熱片背面的雙面膠須平整地貼在其內(nèi)部，若膠紙皺在一 起或伸出散熱片均不可接受。2. 適用范圍適用于本公司所有海棉之檢驗(yàn)。次要缺點(diǎn)(MI): .5. 參考文件《表面阻抗測試儀操作指引》。b. 表面無明顯污跡等，否則不可接受；c. 表面無永久性折皺，否則不可接受。試裝文件名稱：文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次18 of 35(十三) 靜電袋檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)靜電袋類物料之依據(jù)。主要缺點(diǎn)(MA): 。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 表面光滑，無明顯折皺、破損、裂紋等,否則不可接受。表面阻抗表試裝檢驗(yàn)MAa. 將對應(yīng)MODEL裝配后的主板與海棉小心翼翼地裝入靜電袋，注意不要刮傷袋口,若不能順利裝入袋內(nèi)或袋的尺寸太大均不接受；實(shí)際操作文件名稱：文件編號SIIQCXX01IQC物料檢驗(yàn)規(guī)范文件版本制定部門IQC制定日期20020417制定人員修改日期/頁 次19 of 35(十四) 說明書檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)說明書類物料之依據(jù)。主要缺點(diǎn)(MA): 。目檢樣品比對對于新MODEL的說明書，若沒有樣品核對，首先取樣送VL，請VL的同事幫忙檢查。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計(jì)劃》。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計(jì)劃》。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢樣品比對尺寸檢驗(yàn)MAa. 用直尺或卷尺測量實(shí)際尺寸與規(guī)格尺寸是否相符,不符不可 接受。3. 抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請參考《抽樣計(jì)劃》。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受；b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢樣品比對若卡通沒有絲印要求則不考慮絲印質(zhì)