ft(functional_test_)簡介-wenkub
2022-12-22 21:55:07 本頁面
【正文】 比較的過程。輸出值與輸入值的關(guān)系可以用變換函數(shù)表示： Y = F X X為輸入物理量； Y為變換后輸出量； F為變換函數(shù)。 二、手機生產(chǎn)測試中的關(guān)鍵技術(shù) ?校準(zhǔn)測試（ Calibration Test): 校準(zhǔn)手機的射頻發(fā)射和接收性能，使之達到設(shè)計要求； ?終測試（ Final Test): 檢驗手機的射頻發(fā)射和接收性能是否符合國家標(biāo)準(zhǔn)。 對于 GSM900MHz頻段：當(dāng) RF輸入電平為一 102dBm時， RBER不超過 2％。 ?對于 GSM900MHz頻段 頻率誤差 Fe 若 Fe＜ 40Hz，則頻率誤差為優(yōu)； 若 40Hz≤Fe6≤60Hz，則頻率誤差為良好； 若 60Hz≤Fe≤90Hz，則頻率誤差為一般； 若 Fe＞ 90Hz，則頻率誤差為不合格。 ?對于 GSM900Mz頻段 ?對于 DCSl800MHz頻段 （ 4） 射頻指標(biāo)的測試設(shè)備 RF指標(biāo)測試一般所使用的儀器設(shè)備有：系統(tǒng)模擬器 SS(或綜測儀 )、頻譜儀 FSA、移動臺 MS、 RF信號發(fā)生器、射頻功率衰減器、模擬電池、測試 SIM卡及與移動臺相匹配的測試電纜等。 我國也制定了相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn) GBn249。 。 （ 3） 儀器的程序控制技術(shù) 控制
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