熒光儀器分析基礎(chǔ)知識(shí)-wenkub
2023-05-23 14:07:47 本頁面
【正文】 波長(zhǎng)色散與能量色散分辨率的比較 15 波長(zhǎng)色散 X射線光譜儀分類 : 一般配備 46塊晶體、兩個(gè)計(jì)數(shù)器、衰減器等 .靈活 ,造價(jià)較低 .但是分析速度慢 ,穩(wěn)定性稍差 ,真空室過大 ,輕元素掃描道流氣窗易損壞，故障率較高。 第二類 非光譜分析法 。如雨后的彩虹?；蛘哒f通過施加給測(cè)試樣品一定的能量，然后分析其對(duì)聲、光、電等物理或物理化學(xué)信號(hào)的響應(yīng)程度或變化大小。分析儀器即測(cè)量這些信號(hào)及變化的裝置。 7 8 1013 1012 1011 1010 109 108 107 106 105 104 103 102 101 1 10 1 10 2 10 3 10 4 紫外線 超短波 短 波 中 波 長(zhǎng) 波 超 聲 波 nm 1? μm m km green blue violet yellow orenge red ３８０ ４３０ ４９０ ５５０ ５９０ ６４０ ７８０ ｎｍ radiant 波長(zhǎng) λ( ｍ ) pm X射線 γ射線 可見光 紅外線 微 波 (indigo) 9 光分析法 ：光學(xué)分析法是根據(jù)物質(zhì)吸收、發(fā)射、散射電磁波或電磁波與物質(zhì)作用而建立起來的一類分析方法。例如折射，偏振法，旋光色散法，濁度法， X射線衍射法，電子顯微鏡法等。 : 每個(gè)元素一個(gè)通道 ,多數(shù)部件可以互換。依據(jù)譜線強(qiáng)度與元素含量的比例關(guān)系進(jìn)行定量分析 . 20 熒光分析的樣品有效厚度一般為 ≤ 。從陽極發(fā)出的高速電子撞擊對(duì)陰極而產(chǎn)生 X射線 ? 以 X射線形式輻射出的能量極小，大部分能量轉(zhuǎn)變成熱能 ? 陰極的熱量用水或風(fēng)進(jìn)行冷卻 32 X射線管的結(jié)構(gòu) 33 初級(jí) X射線的產(chǎn)生 高速電子撞擊陽極 (Rh、 Cu、 Cr等重金屬 )：熱能 (99%)+X射線(1%) 高速電子撞擊使陽極元素的內(nèi)層電子激發(fā)；產(chǎn)生 X射線輻射； 34 連續(xù)光譜 連續(xù)光譜又稱為“白色” X射線，包含了從短波限 λm開始的全部波長(zhǎng)，其強(qiáng)度隨波長(zhǎng)變化連續(xù)地改變。當(dāng)被照射的物質(zhì)為晶體時(shí)，且原子層的間距與照射 X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí)，在某種條件下，散射的 X射線會(huì)得到加強(qiáng)，顯示衍射現(xiàn)象。 40 全固態(tài)檢測(cè)器 41 儀器結(jié)構(gòu)和微區(qū)分析系統(tǒng) 專利 ] 可以在 30mm直徑內(nèi)的任意位置進(jìn)行分析。 51 基體效應(yīng) ? 基體：分析元素以外的全部 ? 基體效應(yīng)：在一定的分析條件下，試樣中基體元素對(duì)分析元素測(cè)量結(jié)果的綜合影響。顆粒度增加 X射線強(qiáng)度下降。最好使兩者具有：相似的組成、相似的狀態(tài)、相同的加工方式、相似的大小 ? 在樣品制備中還要考慮：均勻、無夾雜、無氣孔、無污染、代表性等問題 55 理想待測(cè)試樣應(yīng)滿足的條件 ： （因?yàn)闊晒夥治鰳悠返挠行Ш穸纫话阒挥?0～ 100181。 ! 56 樣品的基本展示形態(tài)： ：鑄塊類；板、陶瓷、玻璃類；橡皮、木材、紙類 ：薄膜和鍍層 57 常用的制樣方法 ： ： 58 ： 59 粉末樣品熔融法 ： 60 61 X射線熒光分析技術(shù) 譜線重疊影響例： 元素 Ka（ Kev/nm） Kb（ Kev/nm） La（ Kev/nm） Lb（ Kev/nm） Cu
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