spc統(tǒng)計過程控制培訓(xùn)(ppt64頁)(已修改)
2025-02-28 04:42 本頁面
【正文】 SPC (Statistical Process Control ) 統(tǒng)計過程控制 主講人：史濟(jì)榮 ? SPC 是利用數(shù)理統(tǒng)計原理采用控制圖的方法對生產(chǎn)過程進(jìn)行全面監(jiān)控 ? 它主要區(qū)分由特殊原因引起的異常波動還是由普通原因引起的正常波動 一、基礎(chǔ)知識 產(chǎn)品質(zhì)量波動 正常波動 普通原因（隨機） 正常波動 過程受控 異常波動 特殊原因（非隨機） 異常波動 過程失控 統(tǒng)計數(shù)據(jù)分類 計量數(shù)據(jù) 凡可以連續(xù)取值的數(shù)據(jù) 例：長度、重量、濃度、時間等 計數(shù)數(shù)據(jù) 只能由 0和 2 ? 等自然數(shù)計數(shù)的數(shù)據(jù) 例：不合格品數(shù)、事故數(shù)、疵點數(shù)、 沙眼數(shù)等 計件數(shù)據(jù) 按件計數(shù)的數(shù)據(jù) 例：不合格品數(shù)等 計點數(shù)據(jù) 按點計數(shù)的數(shù)據(jù) 例：疵點數(shù)、沙眼數(shù)等 總體和樣本（子組） 總體 研究對象的全體 總體含量記為 N 樣本（子組） 總體中的部分樣品 樣本含量記為 n 常見的典型分布 正態(tài)分布 —— 計量值數(shù)據(jù) 二項分布 —— 計件值數(shù)據(jù) 泊松分布 —— 計點值數(shù)據(jù) 正態(tài)分布 正態(tài)分布曲線 y ? 平均值 ? 標(biāo)準(zhǔn) 差 )0,(21)(222)(???????????????xexfx),(~ 2??NX 正態(tài)分布的參數(shù) ? 、 ? 正態(tài)分布的特點 ? 曲線以 x = ?直線為軸，左右對稱 ? 曲線與橫坐標(biāo)軸所圍成的面積等于 1 其中 在 ?177。 ?范圍內(nèi)的面積占 % 在 ?177。 2?范圍內(nèi)的面積占 % 在 ?177。 3?范圍內(nèi)的面積占 % y 4 . 2 二項分布 X ~ （ n , p ) 4 . 2 .1 由 n個隨機試驗組成的隨機現(xiàn)象，滿足： ? 能在相同條件下，重復(fù)進(jìn)行 n次試驗； ? n 次試驗相互獨立； ? 每次試驗的結(jié)果只有兩個； 事件 A發(fā)生或不發(fā)生； ? 每次試驗中，事件 A發(fā)生的概率為 P（ A ） = p ， 則 P（ Ａ）＝１－ p 。 4 .2 . 2 二項分布的定義： 設(shè)Ｘ為 n次試驗中事件Ａ發(fā)生的次數(shù)，稱 隨機變量Ｘ服從二項分布， 記為 Ｘ～ b（ n , p ) ,其分布列為： ? ? ),1,0(,)1()( nnppxXP xnxnx ????? ? 4 . 2 . 3 二項分布的均值、方差和標(biāo)準(zhǔn)差 均值： Ｅ（Ｘ）＝ np 。 方差： Ｖ ar(X) = np (1 p )。 標(biāo)準(zhǔn)差： 。 )1( pnp ??? 4 . 3 泊松分布： （常見于計點分布） 二項分布的極限分布 — Ｐ（ ?） ? 分布列 ? 均值、方差和標(biāo)準(zhǔn)差 均值： Ｅ（Ｘ）＝ ? ； 方差： Ｖ（Ｘ）＝ ? ； 標(biāo)準(zhǔn)差
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