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亞科德電子公司ic檢驗規(guī)范書(已修改)

2025-06-23 18:56 本頁面
 

【正文】 AEC 深圳市亞科德電子有限公 司 SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD. 材料檢驗規(guī)范手冊 IC 檢驗規(guī)范書 文件編號 版本號 修改號 生效日期 WIQE004 0 適用范圍: 適用于我司各種封裝功能的 IC 來料的檢驗。 缺陷判定的詳細標(biāo)準(zhǔn): 一、外觀、尺寸 缺陷判定的詳細標(biāo)準(zhǔn): 1. 污漬 ⑴表面可輕易擦凈的污漬。 (輕缺陷) ⑵表面不可輕易擦凈的污漬。 (重缺陷) 2.劃痕、破碎。 (重缺陷
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