數字電子技術基礎(已修改)
2025-06-29 17:08 本頁面
【正文】 實驗二 組合邏輯電路分析與測試一、實驗目的 1．掌握組合邏輯電路的分析方法。2．驗證半加器和全加器電路的邏輯功能。3．了解兩個二進制數求和運算的規(guī)律。4．學會數字電子線路故障檢測的一般方法。二、實驗原理 1．分析邏輯電路的方法：根據邏輯電路圖寫出邏輯表達式化簡邏輯表達式（公式法、卡諾圖法）畫出邏輯真值表分析得出邏輯電路解決的實際問題（邏輯功能）。2．實驗線路 （1）用與非門組成的半加器，如圖441所示。圖441 與非門組成的半加器（2）用異或門組成的半加器，如圖442所示。 圖442 異或門組成的半加器 （3）用與非門、與或非門和異或門組成的全加器，如圖44３所示：3．集成塊管腳排列圖見附錄三、實驗儀器及器材 １．數字實驗箱 ２．集成塊74LS00 ３．集成塊74LS54 ４．集成塊74LS86 ５．萬用表 6．＋5V直流電源 圖443 與非門、與或非門和異或門組成的全加器四、實驗內容及步驟 １．檢查所用集成塊的好壞。 ２．測試用與非門組成的半加器的邏輯功能。（1）按圖441接線，先寫出其邏輯表達式，然后將輸入端A、B接在實驗箱邏輯控制開關插孔，XXXSn、Cn分別接在電平顯示插孔接好線后，進行測試。 （2）改變輸入端A、B的邏輯狀態(tài)，觀察各點相應的邏輯狀態(tài)，將結果填入表441中，測試完畢，切斷電源，分析輸出端邏輯狀態(tài)是否正確。表441輸入端輸 出 端ABX1X2X3SnCn00011011３．測試用異或門和與非門組成的半加器的邏輯功能 （1）按圖442接線，將輸入端A、B分別接在邏輯控制開關插孔，Cn、Sn分別接在電平顯示插孔，接好線后進行測試。 （2）改變輸入端An、Bn的邏輯狀態(tài)，觀察Sn和Cn的顯示狀態(tài)，并將測試結果填入表442中，并分析結果正確與否。若輸出有誤，分析其原因并查找故障點。 ４．測試用與非門、與或非門組成的全加器的邏輯功能。（1）按圖443接線，輸入端An、Bn、Cn1分別接邏輯控制開關插孔, Sn、Cn分別接電平顯示插孔，接好線后進行測試。表442輸入端被加數A0011加 數B0101輸出端半加和Sn進 位Cn（2）改變An、Bn、Cn1的輸入狀態(tài)，觀察輸出Sn和Cn相應的邏輯狀態(tài)，將觀察結果填入表443中。切斷電源后，分析結果正確與否，若輸出有誤，分析其原因并查找故障點。 表443輸入端被加數An01010101加數Bn00110011低位進位Cn100001111輸出全加和Sn進位Cn五、實驗注意事項1．實驗接線前首先驗證用到的與或非、異或、與非門的邏輯功能，檢查集成塊是否完好。2．與或非、異或、與非門中，當某一組輸入端不用時，應按規(guī)定處理。六、實驗報告要求 1．分析邏輯電路圖，說明邏輯電路的功能。2．對邏輯電路的功能進行實驗測試，并記錄測試結果。3．分析組合電路實驗的體會。 實驗三 組合邏輯電路的設計與測試 一、實驗目的1．掌握組合邏輯電路的設計與測試方法。2．進一步提高歸納邏輯問題的能力。 二、實驗原理1．使用
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