【正文】 2020 屆本科畢業(yè)設(shè)計(jì) (論文 )外文 文獻(xiàn)翻譯 學(xué) 院： 物理與電子工程學(xué)院 專(zhuān) 業(yè)： 電子科學(xué)與技術(shù) 姓 名： 朱 健 學(xué) 號(hào)： Y05108105 外文出處： Changsha University of Science and Technology 附 件： ； 。 (用外文寫(xiě) ) 附件 1：外文資料翻譯譯文 一種基于 DS18B20 的溫度探測(cè)系統(tǒng) 摘要 所有的 DS18B20 傳感器，用于多點(diǎn)溫度測(cè)試， IO 總線與 MCU 連接， 溫度數(shù)據(jù)的輪流收集。如果系統(tǒng)有大量的傳感器， MCU 的時(shí)間用在處理溫度數(shù)據(jù)明顯延長(zhǎng)，因此周期替代測(cè)試變得更長(zhǎng)。在本文中，一種新的方法， DS18B20 的合理組合和一些在軟件上采取的措施，替代試驗(yàn)進(jìn)展速度明顯。 關(guān)鍵詞： DS18B20 的集團(tuán)，溫度測(cè)試，輪流測(cè)試所花費(fèi)的時(shí)間。 引言 由于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，安裝方便 ，低損失和廣泛的用途的溫度測(cè)試， DS18B20 溫度測(cè)試傳感器應(yīng)用領(lǐng)域，需要多點(diǎn)溫度測(cè)試，如化學(xué)工業(yè)，糧食，環(huán)境監(jiān)督管理等。因?yàn)橥ㄟ^(guò)一個(gè)DS18B20 的多點(diǎn)溫度測(cè)試系統(tǒng)總線，所有 DS18B20 是掛在一條總線上，然后每個(gè)溫度測(cè)試點(diǎn)的值轉(zhuǎn)換輪流讀。作為轉(zhuǎn)換后讀值必須閱讀 8 次引腳的狀態(tài)，移動(dòng)時(shí)間，位置和存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，所以時(shí)間多花費(fèi)在閱讀每一個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)系統(tǒng)時(shí)間。如果溫度測(cè)試系統(tǒng)是大型系統(tǒng)由它造成的損失是相當(dāng)多的，然后交替測(cè)試系統(tǒng)的運(yùn)行速度明顯降低，從而影響多點(diǎn)溫度測(cè)試系統(tǒng)的效率。在本文中， DS18B20 的一些 I / O 總 線上都掛著分組 DS18B20 的均勻，溫度轉(zhuǎn)換獲取數(shù)據(jù)讀取 DS18B20 的狀態(tài)， 系統(tǒng)損耗減少和替代測(cè)試速度增加顯然，這將不會(huì)影響精度和轉(zhuǎn)換的可靠性。一套點(diǎn)對(duì)多點(diǎn)溫度，在此實(shí)現(xiàn)人工環(huán)境實(shí)驗(yàn)室測(cè)試，這增加了測(cè)試效率。 作者對(duì) DS18B20 的認(rèn)識(shí) DS18B20 是單總線數(shù)字溫度傳感器來(lái)自美國(guó)達(dá)拉斯公司。 DS18B20 是由 64 數(shù)字光盤(pán)刻激光，溫度敏感性組成部分，非易失性溫度報(bào)警觸發(fā)器（設(shè)備 TH 和 TL）。 DS18B20 的通信微處理器單總線端口和測(cè)試范圍 DS18B20 是從 55 攝氏度到 +125 攝氏度，增量值是 攝 氏度。溫度可在 720ms 的數(shù)字改為每個(gè) DS18B20 具有唯一的 64 數(shù)字序號(hào)。圖 1 揭示的具體內(nèi)容：兩個(gè) 8 的數(shù)字儲(chǔ)量（ 0 號(hào)和 1 號(hào)），用于存儲(chǔ)在 DS18B20 的溫度值。 0 號(hào)存儲(chǔ)存儲(chǔ)器溫度值，補(bǔ)充和一號(hào)存儲(chǔ)器溫度值的符號(hào)。用戶(hù)可以定義非揮發(fā)的溫度報(bào)警臺(tái)和區(qū)分報(bào)警搜索命令，并尋求組件溫度預(yù)定限額以外的報(bào)警狀態(tài)。有兩個(gè)電源的替代方法：信號(hào)總線的高級(jí)別借采用電源或 +5V 外部電源直接采用。 圖 1 DS18B20 的 64 位 ROM 應(yīng)用程序的分組試驗(yàn)方法 本文闡述了 DS18B20 與 89C52 接口的分組方法。假設(shè)量 P1 口的總線是和溫度測(cè)試系統(tǒng)需要 100 DS18B20 的傳感器，可以平均分配 4 I / O 線。如果傳感器的數(shù)量不能分割由總線數(shù)目甚至，傳感器的數(shù)量差距總線上是不超過(guò)一個(gè)，它可以處理，而閱讀數(shù)字。外部供電電源。擁有在每個(gè) DS18B20 的同時(shí)性的轉(zhuǎn)換， 激烈當(dāng)前是必要的，不能使用和信號(hào)總線電源，否則系統(tǒng)無(wú)法工作秩序。 “電路原理圖 2 所示（ DS18B20 的信號(hào)同組的公共汽車(chē)上都掛著 P1 口的一些公共汽車(chē)）。當(dāng)讀寫(xiě) DS18B20 的，嚴(yán)格的時(shí)間表被保留。首先回歸脈沖被發(fā)送到所有 DS18B20 的。后回歸，跳過(guò) ROM 命令發(fā)送到每個(gè)電路同時(shí)的 I / O 端口，轉(zhuǎn)換順序發(fā)送的，那么所有的傳感器開(kāi)始轉(zhuǎn)變。轉(zhuǎn)換后，匹配 ROM 命令同時(shí)發(fā)送到每個(gè)電路， 64 位序列號(hào)發(fā)送。 DS18B20 是每個(gè)選擇組，便簽數(shù)據(jù)讀取。最后的數(shù)據(jù)是轉(zhuǎn)化。串行讀取數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為實(shí)際溫度值。一名候補(bǔ)測(cè)試完成后 DS18B20 溫度數(shù)據(jù)讀取完全由周期性的讀數(shù)為 25 倍。 圖 2 DS18B20 的分組示意圖 現(xiàn)在，在單總線和分組分析法測(cè)試系統(tǒng)耗時(shí)分別說(shuō)明。回歸時(shí)間序列和時(shí)間序列的寫(xiě)作和閱讀的一個(gè)位微處理器在數(shù)字 46 中顯示。 DS18B20 的回歸周期為 495us， 1020us。一位寫(xiě)作時(shí)間是 60us120us。一位讀期間以上 60us。寫(xiě)入或讀取下位跨度是微秒。由于 A / D 轉(zhuǎn)換時(shí)間為 （ 9 精密度），如果它是由最短的方法計(jì)算，替代測(cè)試總耗時(shí)分別計(jì)算如下： 單總線 ： 495us+2*(8*60+7)us++495us+100*(64*60+63+8*60+7+9*60+8)us= 分組模式 ： 495us+2*(8*60+7)us++20(64*60+63+8*60+7+9*60+8)us=04ms 作為數(shù)制轉(zhuǎn)換和存儲(chǔ)時(shí)間，在整個(gè)時(shí)期，未知的晶體振蕩器的頻率，數(shù)制轉(zhuǎn)換和存儲(chǔ)時(shí)間的一小部分是不計(jì)算在內(nèi)。因此，備用的測(cè)試分組模式消耗的時(shí)間明顯比單總線模式短得多 。 設(shè)計(jì)示例 瀝青運(yùn)輸車(chē)輛是主要材料領(lǐng)域和道路之間的交通運(yùn)輸設(shè)備表面。不可避免的溫度，減少因?yàn)r青運(yùn)輸車(chē)輛的長(zhǎng)期工作和運(yùn)輸距離影響的攤鋪質(zhì)量路面，必須采取具體措施，根據(jù)殼的熱釋放。本文設(shè)計(jì)了一套無(wú)線溫度使用 DS18B20 分組模式測(cè)試瀝青的溫度測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)輸車(chē)輛外殼，總積分為 120。溫度測(cè)試系統(tǒng)軟件采用模塊化設(shè)計(jì)。下位機(jī)收集數(shù)據(jù)，存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，建立的 DS18B20，并發(fā)送無(wú)線模塊等。上位機(jī)采用 PC 機(jī)，主要接收溫度數(shù)據(jù)從下位機(jī)上位機(jī)顯示，存儲(chǔ)和管理數(shù)據(jù)。 A. 系統(tǒng)硬件 考慮到多點(diǎn)溫度數(shù)臨時(shí)存儲(chǔ)期間相當(dāng)大的內(nèi)部 RAM 值的轉(zhuǎn)換，行政控制芯片采用ATMEL 公司的 89C52 單片機(jī) 256 字節(jié) RAM 和 8KB 的 E2PROM 程序存儲(chǔ)。作為 DS18S20 區(qū)分代碼讀取和編號(hào)，液晶顯示模塊（敖克拉中國(guó)集成模塊 OCMJ 金鵬公司）和鍵盤(pán)模塊補(bǔ)充說(shuō)。無(wú)線數(shù)字傳輸采用無(wú)線在整個(gè)接收發(fā)送形式 375 模塊，這 5 月有兩個(gè)業(yè)余頻段選擇和調(diào)節(jié)波特率（最大為 20Kbit/ S），單芯片微機(jī)串口的數(shù)據(jù)可以直接接 收。 DS18B20 與電源，分為 8 組掛在 P1 口（ 口）。無(wú)線模塊掛在串口直接與硬件看門(mén)狗采用 MAX813 芯片。當(dāng)電源被添加到系統(tǒng)中，回歸信號(hào)傳輸?shù)?MAX813 回歸針，價(jià)值回歸脈沖為 200ms。當(dāng)過(guò)程中，必須被發(fā)送到一個(gè)脈沖信號(hào) MAX813 世界發(fā)展指標(biāo)“沒(méi)有比間隔為 到更多的引腳清除看門(mén)狗定時(shí)器。如果間隔超過(guò)為 ，針并沒(méi)有收到脈沖信號(hào)，然后 89C52 必須扭轉(zhuǎn)。作為 120DS18B20 的序列號(hào)必須在系統(tǒng)中存儲(chǔ) ，針對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ) DS1225（ 8K）停電。 B. 系統(tǒng)軟件功能和過(guò)程 溫度 測(cè)試系統(tǒng)的軟件部分 DS18B20 的收集和轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)，執(zhí)行無(wú)線溝通，管理鍵盤(pán)等。對(duì)于方便程序的調(diào)試和可靠性，采用模塊設(shè)計(jì)，主要包括鍵盤(pán)處理模塊，無(wú)線通信模塊，溫度采集和處理，顯示模塊模塊等。外接電源回歸后， 89C52 首先自我檢查，然后分配給每個(gè)分支的程序模塊。主要的過(guò)程管理的鍵盤(pán)，系統(tǒng)初始化，傳輸各功能模塊。長(zhǎng)途線保持執(zhí)行 DS18B20的編輯任務(wù)。序號(hào) 120點(diǎn) DS18B20是讀通過(guò)鍵盤(pán)和顯示器的協(xié)調(diào)到 DS1225Y和編號(hào)。首先，無(wú)線模塊設(shè)置為接收狀態(tài)接收收集參數(shù)和啟動(dòng)順序（傳輸內(nèi)容包發(fā)送 。相同的內(nèi)容發(fā)送三次 。兩 頭在外的三個(gè)邏輯執(zhí)行按位）。無(wú)線模塊設(shè)置為睡眠狀態(tài)，在在溫度的轉(zhuǎn)化率和轉(zhuǎn)化狀態(tài)數(shù)據(jù)傳輸。包裝發(fā)送溫度數(shù)據(jù)和 DS18B20 的數(shù)字上位機(jī)系統(tǒng)中?！笆占娃D(zhuǎn)換的部分開(kāi)始的 DS18B20 轉(zhuǎn)換，讀取溫度數(shù)據(jù)分組方法，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)等。 結(jié)論創(chuàng)建以下新思路 1 替代試驗(yàn)多點(diǎn)的時(shí)間差溫度測(cè)試系統(tǒng)的分組方法和單總線的方法進(jìn)行了分析，然后交替的測(cè)試速度可大大提高了分組方法。 2 一套無(wú)線多點(diǎn)溫度測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì) DS18B20 分組方法。這個(gè)系統(tǒng)是適用于瀝青運(yùn)輸?shù)募夹g(shù)改革一些國(guó)內(nèi)大型工程機(jī)械車(chē)輛實(shí)現(xiàn)公司和應(yīng)用程序的好成績(jī)。 參考文獻(xiàn) [1]ShenJin, SongJingLing. 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In this paper, a new method that DS18B20 are rationally grouped is presented, and some measures are taken in software。 as a result, the speed of alternate test advances distinctly. Key words DS18B20 Group, temperature test, time spent on the alternate test. 1. INTRODUCTION As the simple structure, convenient installment, low loss and wide range of temperature test, DS18B20 temperature test sensors are applied to the fields which need the multipoint temperature test, such as the chemical industry, the grain, the environment supervision and so on. Because of the adoption of one bus in the DS18B20 multipoint temperature test system, all DS18B20 are hung on one bus, and then the temperature conversion value of each test point is read by turns. As the conversion value must be read after readingpin state for 8 times, and position and store data must be moved, so time spend much in reading one point of the data system by every time. If the temperature test system is largescaled, the system loss caused by it is rather much, and then the alternate test speed of the system decreases obviously, which influences the efficiency of the multipoint temperature test system seriously. In this paper, DS18