紅外熱成像測溫技術(shù)及其應(yīng)用(已修改)
2025-05-14 12:32 本頁面
【正文】 紅外熱成像測溫技術(shù)及其應(yīng)用 提 綱 OUTLINE Company Logo 基本原理 先給出黑體的紅外輻射規(guī)律。黑體 , 簡單講就是對一切波長的入射輻射吸收率都等于 1的物體 , 也就是說全吸收。顯然 , 因?yàn)樽匀唤缰袑?shí)際存在的任何物體對不同波長的入射輻射都有一定的反射 (吸收率不等于 1) , 所以 , 黑體只是人們抽象出來的一種理想化的物體模型。但黑體熱輻射的基本規(guī)律是紅外研究及應(yīng)用的基礎(chǔ) , 它揭示了黑體發(fā)射的紅外熱輻射隨溫度及波長變化的定量關(guān)系。其中最重要的是下面 3個(gè)基本定律。 (1) 普朗克輻射定律 (2) 斯蒂芬 玻耳茲曼定律 (3) 朗伯余弦定律 Company Logo 系統(tǒng)基本組成 紅外熱像儀是一種紅外波段的攝像機(jī)，它利用實(shí)時(shí)的掃描熱成像技術(shù)進(jìn)行溫度分析，其系統(tǒng)組成包括紅外望遠(yuǎn)鏡、光學(xué)掃描儀、紅外探測器與制冷器組件、信號放大器與處理電路、顯示器等。下圖為其系統(tǒng)基本組成示意圖 Company Logo 優(yōu)點(diǎn)（ 1) Company Logo 優(yōu)點(diǎn)（ 2） 熱成像測量物體表面溫度 ? 優(yōu)點(diǎn) 非接觸測量 響應(yīng)快 測溫范圍寬 不影響目標(biāo)的溫度分布 不需要達(dá)到與目標(biāo)物體的熱平衡，只要接受輻射就可以 普通型 T系列 20℃ — 300℃ 熱成像測量物體表面溫度 靈敏度高 空間分辨率高 目前最靈敏的熱成像系統(tǒng) 能測出 ℃ 的溫度變化 例如：點(diǎn)熱成像系統(tǒng) 1s內(nèi) 可測出 20萬個(gè)點(diǎn)。 Company Logo 影響因素 被測物體發(fā)射率的影響 1 背景的影響 2 大氣的影響 3 熱成像測量物體表面溫度 ? 測溫影響因素 ⑴被測物體發(fā)射率 發(fā)射率又稱為黑度，反映物體向外發(fā)射輻射的能
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