射線探傷ppt課件(已修改)
2025-05-11 01:02 本頁面
【正文】 第四章 射線探傷 射線探傷 是利用射線可 穿透物質(zhì) 和在物質(zhì)中 有衰減 的特性來發(fā)現(xiàn)缺陷的一種探傷方法。 檢驗(yàn)焊縫及其熱影響區(qū)內(nèi)部缺陷的主要方之一。優(yōu)點(diǎn)：客觀準(zhǔn)確，重復(fù)性好，可靠性高，結(jié)果可長(zhǎng)期保存。缺點(diǎn) :可檢測(cè)板厚較小，成本較高，污染環(huán)境。按射線源種類分：X射線、 γ射線、高能射線檢測(cè)按顯示缺陷方法不同：射線照相探傷 、射線熒光屏觀察法、射線實(shí)時(shí)圖象法、射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)?！ ?第一節(jié) 射線檢測(cè)的基本原理一、射線的基本性質(zhì)1不可見，以光速直線傳播2不帶電，不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響3穿透可見光不能穿透的物質(zhì)4能使物質(zhì)的原子電離，能使膠片感光，能使某些物質(zhì)產(chǎn)生熒光。5能傷害和殺死生物細(xì)胞二、射線與物質(zhì)的相互作用1 主要有： 光電效應(yīng) 、 湯姆遜散射 ， 康普頓效應(yīng) 和 電子對(duì)效應(yīng) 。作用的結(jié)果使射線因吸收和散射而失去一部分能量，強(qiáng)度相應(yīng)減弱，這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。2 衰減定律射線透過厚度 δ的物質(zhì)后射線強(qiáng)度 I δ與透照厚度之間應(yīng)遵循如下的指數(shù)衰減規(guī)律：I δ＝ I 0eμδI δ： 射線透過厚度 δ的物質(zhì)后的射線強(qiáng)度I0：射線的初始強(qiáng)度e: 自然對(duì)數(shù)的底δ：透過物質(zhì)的厚度μ:線衰減系數(shù)，為上述各物理效應(yīng)分別引起的衰減系數(shù)之和。三、探傷的基本原理 射線探傷的 實(shí)質(zhì) 是根據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量的衰減程度不同，而引起射線透過工件后的強(qiáng)度差異，使缺陷能在射線底片上或電視屏幕上顯示出來?！〕上蠹夹g(shù)示意圖xΔx μ’ μI’ Ix射線探傷原理圖射線在工件及缺陷中的線衰減系數(shù)分別為 μ和μ’。根據(jù)衰減定律：透過完好部位 x厚的射線強(qiáng)度I x＝ I 0eμx透過缺陷部位的射線強(qiáng)度I ’＝ I 0eμx e –(μ’ –μ) Δx可得： μ’ ＜ μ時(shí)， I ’＞ I x μ’ ＞ μ時(shí)， I ’＜ I x μ’ ≈μ或 Δx→0 時(shí)， I ’ ≈ I x第二節(jié) 射線探傷設(shè)備一、 X射線機(jī)1分類⑴ 按射線束輻射方向分：定向輻射和周向輻射⑵ 按結(jié)構(gòu)形式分：攜帶式、移動(dòng)式、固定式⑶ 按極區(qū)數(shù)量分：?jiǎn)螛O式、雙極區(qū)⑷ 按高壓整流線路的結(jié)構(gòu)形式分為：自整流、全波整流、倍壓整流⑸ 按絕緣材料分：油絕緣、氣體絕緣⑹ 按冷卻方式分：強(qiáng)油循環(huán)冷卻、水冷卻、自冷卻2 構(gòu)造由 X射線管、高壓發(fā)生器、控制裝置、冷卻器、機(jī)械裝置、和
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