【經(jīng)管勵志】smt實(shí)裝電路板可測性的設(shè)計(jì)(已修改)
2025-05-23 17:59 本頁面
【正文】 Leeyoo 立宇科技 Page 1 of 11TESTABILITY SMT 實(shí)裝電路板可測性的設(shè)計(jì)參考 對電路板可測性的要求： SMT 的基板測試設(shè)計(jì)要求比傳統(tǒng)元件的要求更加嚴(yán)格。其原因如下： １． 被動零件的體積太小，且無引線。 ２． SMT 的半導(dǎo)體用大量的 50mil(甚至更小 )的 IC 引腳代替 100mil 。 ３． 單位面積內(nèi)的零件密度增加，使零件放置得更緊密，且大量地采用兩面貼 著零件。 ４． 缺乏可提供測試的途徑。 SMT 的基板測試不如傳統(tǒng)的生產(chǎn)方式那樣方便，能自動地在焊接面（ SOLDER SIDE）直接提供測試。 因此在電路板設(shè)計(jì)未完成之前， 應(yīng)該考慮到可測性（ TESTABILITY）和可生 產(chǎn)性 (PRODUCTABILITY)?？蓽y性必須在產(chǎn)品發(fā)展早期階段就考慮到 如依照可測試性的要求，電路將保證其測試性。但偏移了設(shè)計(jì)參考的指引或 沒有考慮到可測試性，雖不會妨礙生產(chǎn)，但一定會造成如下情況： １． 增加故障修理的時(shí)間。 ２． 提供不準(zhǔn)確的測試結(jié)果。 ３． 測試效率較低或測試應(yīng)用較差。 ４． 使用令人不滿意的替代方法。 最后的結(jié)果是 增加生產(chǎn)費(fèi)用，產(chǎn)生效益較低。但增加的成本不能轉(zhuǎn)嫁 Leeyoo 立宇科技 Page 2 of 11 到消費(fèi)者身上，否則公司的競爭力將會衰退 。 此設(shè)計(jì)參考目的是：提供訊息給基板設(shè)計(jì) 者；同時(shí)也可用到表面貼著技術(shù)上的治具制作。希望提供對測試性的保證及 FUNCTIONAL 或 INCIRCUIT 測試方法之最小限度的規(guī)則。 對可測試性的考慮，可分為兩個方向討論： 一． 探測性的考慮（ PROBING） 二． 電氣設(shè)計(jì)的考慮（ ELECTRICAL） Ａ．探測性的考慮（ Probing Consideration） 在下列的第一項(xiàng)參考中，所說明的是影響探針與待測物（ Device Under Test） DUT 實(shí)際接觸的最大可能因素。誤插的分析尺寸是單點(diǎn)探針（ Spear Head）、探針與貼著處（ Mounting）之間的最嚴(yán)重情況、有關(guān)于 DUT 放置排列上的誤差、及測試點(diǎn)的直徑。 但是，沒有考慮統(tǒng)計(jì)分析接觸上的錯誤，因?yàn)樵谧魅魏螠y試點(diǎn)上的接觸錯失所形成的誤差是不被接受及造成測試無效。 在較大的 PC 板中，下列的錯誤差將比小的基板更不容易控制。距離誤差直接地增加以達(dá)到與小基板相同，可靠的接觸探針。 參考一 提供精確的定位孔 Ａ．由 DUT DATUM 至 TEST PAD 的誤差應(yīng)在 177。 mm 內(nèi)。 定位 PIN 的位置要嚴(yán)格要求 ,且每個固定 PIN 皆要求減小此項(xiàng)誤差，如果基板是整片的制造后再分開， DATUM 孔就必需設(shè)定在主板及各塊單獨(dú)的基板上。 DATUM 孔至少要兩個，要精確的設(shè)定在主板上，用以提供生產(chǎn)的精確度及隨后的測試與可能的熏工（ REWORK）。如果有空間考慮，則可將 DATUM孔放在可分離的 Tabs 上以提供制造的組立工作及 DUT 的測試。在裝配零件、Leeyoo 立宇科技 Page 3 of 11 放置基板測試上，一定要采用相同的 DATUM 孔以證探針的準(zhǔn)確性。 Ｂ．至少在 DUT 上放置二個以上的定位孔，距離越遠(yuǎn)越好，每個孔的誤差應(yīng) 在177。 mm。 定位孔最好在相對的對角線上，以取得最好的探測精度，同時(shí)必須在第一階段的鉆孔作業(yè)中執(zhí)行。 定位孔不可以基板的邊緣定位，因?yàn)榛逋庑偷木嚯x通常是無精確的控制以取得精確的 DATUM。 定位應(yīng)該至少為 的直徑孔，使治具能穩(wěn)定的維持及校正基板。如果需要用到雙面治具的方式時(shí)，定位孔必須夠長，以穿過治具的壓板。 Ｃ．定位孔的直徑誤差必須在＋ 和 以內(nèi)。 最好采用非金屬的定位孔（不鍍錫或金）以減少因焊錫的增厚而
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