【正文】 較固定，所以所估計(jì)出來的組內(nèi)變 異會比較正確，所以相關(guān)的控制界限比較窄，可以有效 的偵測出不同班別之間的變化，或則組間的變化，例如 材料變化、機(jī)器變化、參數(shù)變化等。 41 控制圖示意說明 初期的二十五點(diǎn) 計(jì)算時有些超出 控制界限，此時 須尋找原因。 連續(xù)二十五點(diǎn)在控 制界限內(nèi)，表示制 程基本上已穩(wěn)定， 控制界限可以延用 此時有點(diǎn)子超出控 制界限，表示此時 狀態(tài)已被改變，此 時要追查原因，必 要時必須重新收集 數(shù)據(jù)，重新考慮穩(wěn) 定狀態(tài) 42 使用控制圖的注意事項(xiàng) 分層問題 同樣產(chǎn)品用若干臺設(shè)備進(jìn)行加工時 , 由于每臺設(shè)備工作精度、使用年限、保養(yǎng)狀態(tài)等都有一定差異 , 這些差異常常是增加產(chǎn)品質(zhì)量波動、使散差加大的原因 . 因此 , 有必要按不同的設(shè)備進(jìn)行質(zhì)量分層 , 也應(yīng)按不同條件對質(zhì)量特性值進(jìn)行分層控制 , 作分層控制圖 . 另外 , 當(dāng)控制圖發(fā)生異常時 , 分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法 . 43 復(fù)合 層別的說明 44 使用控制圖的注意事項(xiàng) 控制界限的重新計(jì)算 為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過程 , 在確定控制圖最初的控制線 CL、 UCL、 LCL時 , 常常需要反復(fù)計(jì)算 , 以求得切實(shí)可行的控制圖 . 但是 , 控制圖經(jīng)過使用一定時期后 , 生產(chǎn)過程有了變化 , 例如加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變以及進(jìn)行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后 , 應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù) , 以重新計(jì)算控制界限并作出新的控制圖 . 45 為何控制界限應(yīng)延用 46 建立控制圖的四步驟 A收集數(shù)據(jù) B計(jì)算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 47 建立 XR圖的步驟 A Ａ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) 子組大小 子組頻率 子組數(shù)大小 A2建立控制圖及記錄原始記錄 A3計(jì)算每個子組的均值 X和極差 R A4選擇控制圖的刻度 A5將均值和極差畫到控制圖上 48 取樣的方式 取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明 49 組數(shù)的要求 (最少 25組 ) 當(dāng)制程中心值偏差了 二個標(biāo)準(zhǔn)差時，它在 控制限內(nèi)的概率為 那么連續(xù) 25點(diǎn)在線內(nèi) 的概率為： 25 ?50 每個子組的平均值和極差的計(jì)算 1 100 98 99 100 98 2 98 99 98 101 97 3 99 97 100 100 98 4 100 100 101 99 99 5 101 99 99 100 99 平均 100 極差 3 3 3 2 2 51 平均值和極差 平均值的計(jì)算 554321 xxxxxx ?????? R值的計(jì)算 m inm a xxxR ??52 Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì)算平均極差及過程平均值 B2計(jì)算控制限 B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線 建立 XR圖的步驟 B 53 RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422????????全距管制圖平均值管制圖kRRRRkxxxxxkk?????????..........21321全距管制圖平均值管制圖管制圖RX ?54 Ｃ過程控制解釋 C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) C3重新計(jì)算控制界限 (極差圖 ) C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 C5識別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) C6重新計(jì)算控制界限 (均值圖 ) C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 建立 XR圖的步驟 C 55 控制圖的判讀 超出控制界限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個或多個點(diǎn)超出任何一個控制界限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù) UCL CL LCL 異常 異常 56 控制圖的判讀 ? 鏈：有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變 ? 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè) ? 連續(xù) 7點(diǎn)上升 (后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn) )或下降。 UCL CL LCL 57 控制圖的判讀 ? 明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，正常應(yīng)是有 2/3的點(diǎn)落于中間 1/3的區(qū)域。 UCL CL LCL 58 58 管制圖使用十大誤區(qū) 1. 沒能找到正確的管制點(diǎn) 2. 沒有適宜的測量工具 3. 沒有解析生產(chǎn)過程，直接進(jìn)行管制 4. 解析與管制脫節(jié) 5. 管制圖沒有記錄重大事項(xiàng) 6. 不能正確理解 X Bar圖與R圖的含義 7. 管制界限與規(guī)格界限混為一談 8. 不能正確理解管制圖上點(diǎn)變動所代表的意思 9. 沒有將管制圖用于改善 10. 管制圖是品管的事 59 判讀 : 60 Ｄ過程能力解釋 D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 D2計(jì)算過程能力 D3評價過程能力 D4提高過程能力 D5對修改的過程繪制控制圖并分析 建立 XR圖的步驟 D 61 2??3?3?6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCluppp???????????制程能力指標(biāo) Cp 雙邊規(guī)格 只有上規(guī)格時 只有下規(guī)格時 練習(xí)題 : 已知條件規(guī)格 8+/1,Xbar=7,標(biāo)準(zhǔn)差 =1. 求 :Ca Cp Cpk 62 pkC製程能力指標(biāo) 2??3?3),min(dRSxCxSCCCClplupuplpupk?????????63 1)(?3?3),min(?612????????????nxxsSxPxSPPPPSSPniilplupuplpupklup???制程績效指標(biāo) 制程績效指標(biāo)的計(jì)算，其估計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)差為總的標(biāo)準(zhǔn)差，包含了組內(nèi)變異以及組間變異。 總變異 =組內(nèi)變異 +組間變異。 64 Cpk和 Ppk的差異 Cpk：只考慮了組內(nèi)變異，而沒有考慮組間變異，所以一定是適用于制程穩(wěn)定時，其組間變異很小可以忽略時，不然會高估了制程能力；另句話也可以說明如果努力將組間變異降低時所能達(dá)到的程度。 Ppk：考慮了總變異 (組內(nèi)和組間 )，所以是比較真實(shí)的情形，所以一般想要了解真正的制程情形應(yīng)使用 Ppk。 65 管制圖sX ?A收集數(shù)據(jù)：在計(jì)算各個子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下： 554321 xxxxxx ?????1)( 2??? ?nxxs i66 SBLCLSBUCLSCLSAXLCLSAXUCLXCLRRRXXX3433????????標(biāo)準(zhǔn)差管制圖平均值管制圖B計(jì)算控制限 管制圖sX ?67 ? C過程控制解釋 ?(同 XR圖解釋 ) 管制圖sX ?68 ? D過程能力解釋 管制圖sX ?4?cs??69 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 79 3 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 80 4 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 78 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 1 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 73 2 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 72 3 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 74 4 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76 70 Case study 請計(jì)算出上表的 Xs控制圖的控制限？ 請判定過程是否穩(wěn)定？ 如果是不穩(wěn)定該如何處理？ 71 管制圖RX ?~A收集數(shù)據(jù) 一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于 10的情況，樣本容量為奇數(shù)時更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。 72 RDLCLRDUCLRCLRAmXLCLRAmXUCLXCLXRRRXXX342323~~~~????????全距管制圖值管制圖管制圖RX ?~B計(jì)算控制限 73 ?C過程控制解釋 ?(同 XbarR圖解釋 ) 管制圖RX ?~74 管制圖RX ?~估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差： 2?dR??75 Case study 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74