【正文】 V8 膠卷 V9 旅游指南 V10 吹風機 V11 筆記本,筆 V旅游必須用品例:出國旅遊避免物品遺漏查檢表SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 15 OF 83 3. 查檢表使用目的 : :對品質(zhì)管製項目的查檢 ,作業(yè)前的查檢 , 設 備安全的查檢 ,作業(yè)標準的要求與遵守 . :品質(zhì)異常問題需要調(diào)查 ,重點調(diào)查 ,不良原 因調(diào)查及發(fā)現(xiàn)改善點的查檢 . :為了要報告 ,調(diào)查需取得記錄 ,做成統(tǒng)計表以便 分析 . : ,並能作在職訓練 (OJT) . ,現(xiàn)物的觀察要客觀 ,詳細 . . . ,向主管階層報告 . . ,有關人員必頇了解 . SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 16 OF 83 二 ,管製圖 (CONTROL CHART) : 一種用于調(diào)查製造程序是否在穩(wěn)定狀態(tài)下 ,或者維持製造程 序在穩(wěn)定狀態(tài)下所用之圖 . : :其所依據(jù)之數(shù)據(jù) ,均屬由量具實際量測 而得知 ,如 :長度 ,重量 ,成份等特性均為連續(xù)性者 ,最常用 為下列四種 : (Ⅹ R CHART) (Ⅹ δ CHART) (Ⅹ R CHART) (XRm CHART) :其所依據(jù)之數(shù)據(jù) ,均屬以單位計數(shù)者 ,如 :不 良數(shù) ,缺點數(shù)等間斷數(shù)據(jù)均屬此類 ,最常用為下列四種 : (P CHART) (Pn CHART) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 17 OF 83 ~ (C CHART) (μ CHART) : ,可做下列判斷及處理 能力指數(shù) 判斷 處 置≦CP 合格 產(chǎn)品采用抽樣檢驗即可1≦CP 警告 產(chǎn)品有發(fā)生不良品的危險需注意 別CP1 不合格 : 3個標準差為基礎 ,換言之只要群體是常態(tài)分配 , 從群體抽樣時每 1000次約有 3次機超出士 3δ 范圍 ,在帄均埴 (μ) 加減 3個標準差范圍以外之機會非常少即千分之三 ,也 即所謂機遇原因 ,而不予以檢討 . SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 18 OF 83 不良率 P管製圖 一 ,製品如無法直接測定其特性時 ,可以分別數(shù)其良品與不良品之 數(shù)目 ,並以不良率表示其品質(zhì) ,如 :電燈泡廠將燈泡分為亮與不 亮 ,食品廠將罐頭分為漏氣與不漏氣 ,電容器廠將電容量分為 合格與不合格 …. 等 ,其公式為 : P = 不良品個數(shù) /檢驗數(shù) =d/n 二 ,P管製圖適合以下之情況使用 : . . 3. 產(chǎn)品用通與不通量具來判定合格與不合格時 . . (n)在非一定數(shù)時 . 其公式為 : P = Σd/Σn=(d1+d2+…d) / (n1+n2+…+n) =不良品數(shù)總和 /檢查數(shù)總和 . SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 19 OF 83 三 ,P CHART建立步驟 : . 四 ,P CHART公式 (帄均不良率 P以小數(shù)表示時 ) =P=Σd/Σn = P + 3 P (1P) / n LCLP = P 3 P (1P) / n (帄均不良率 P以百分率表示時 ) = P = Σd/Σn = P+ 3 P ( 100 P) / n LCLP = P 3 P ( 100 P ) / n SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 20 OF 83 例 :某 PCB工廠 ,每兩個小時抽取 100件來檢查 ,將檢查 所得之不 良品數(shù)據(jù) ,列于如下表 ,詴利用此項資料 ,采用不良 率管製 圖 ,對其品質(zhì)加以管製 .(本例系樣本數(shù)不相同 ) n d p 組別 n d p 組別 n d p100 3 11 104 3 21 100 5 99 4 12 100 6 22 100 8 101 3 13 100 8 23 101 4 101 8 14 100 5 24 100 5 99 5 15 93 2 25 99 4 100 5 16 100 3 合計 2500 12595 7 17 107 6 平均 100 105 6 18 100 2 100 5 19 98 7 96 6 20 102 5 解 : CLP = P = 125/2500==5% UCLP = P +3 P (1P) / n = = % LCLP = P 3 P(1P)/n = 0 SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 21 OF 83 (如下圖 ): UCLCLLCL5 10 15 20 25SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 22 OF 83 Pn管制圖的作法 幾乎與 P管制圖相同 ,但只用于 n為一定時 ,當組的大小每組均 時 ,必頇使用 Pn管制圖 .製作的步驟與 P管制圖相同 .計算公式如下 : 中 心 線 : CL = Pn = Σd / k P= Σd /( k*100) 管制上限 : UCL = Pn + 3√Pn (1 P) 管制下限 : LCL = Pn + 3√Pn (1 P) (例 1)某 PCB工廠對于電鍍不良 ,搜集 25組檢查結(jié)果記錄如下表 , 繪製一張 Pn管制圖 . 組號 n d 組號 n d 組號 n d1 100 3 10 100 5 19 100 12 100 4 11 100 4 20 100 43 100 0 12 100 1 21 100 44 100 4 13 100 1 22 100 15 100 3 14 100 2 23 100 06 100 3 15 100 0 24 100 67 100 2 16 100 3 25 100 48 100 2 17 100 09 100 2 18 100 6 計 2500 65解 : (d:缺點數(shù) 。 k: 組數(shù) ) CL = Pn = Σd / k = 65 / 25 = P= Σd /( k*100)= (因 n值為一定數(shù) ,故取組數(shù)為分母 ,此為與 P管制圖最大不同點 ) UCL = Pn + 3 √Pn (1 P) = + = LCL = Pn 3 √Pn (1 P) = = (管制下限不予考慮 ) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 23 OF 83 Pn 管 制 圖 之 例0123456781 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25組 號dLCL CL UCL SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 24 OF 83 2. 點繪管制圖 缺點數(shù)管制圖 (C管制圖 ) 一 ,有些產(chǎn)品雖然有缺點 ,但不致因為有少數(shù)之 缺點 ,使該產(chǎn)品成 為廢品 ,只是缺點之多少影響其品質(zhì)之高低而已 ,因而用缺點 之數(shù)目 ,表示其品質(zhì) ,在這種場合 ,常用缺點數(shù)管制圖 . 二 ,用途 : C管制圖應用在同大小的樣本組內(nèi)所含缺點數(shù)的管制 ,自同一 大小單位 (可以為單件製品 或一組製品 ,例如 :一臺電視機或幾 臺電視機 ) 的缺點數(shù)為 C群體 (即送驗批 ),隨機抽取同一大小單 位的樣本所出現(xiàn)的缺點數(shù) (C)的分配為卜氏分配 ,分配的帄均 值 (UC)等于 C, 分配的標準差 (δc) 等于 C 群體單位缺點 C 未知時 因此 C管制圖的中心線與管制界限公式為 : CLC = ΣC / K = C UCLC = C+3√ C LCLC = C3√ C 使用 C管制圖的工作例子為 : (1)玻璃所含的氣泡數(shù) (2)一匹布內(nèi)的跳紗數(shù) ,斑點數(shù) … 等等 (3)一張紙上的污點數(shù) ,破損數(shù) … 等等 . SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 25 OF 83 (4)一定長度漆包線的針孔 (pin hole)數(shù) . 三 ,管制圖製作實例 : 例 :某 PCB廠用 C管制圖管制其產(chǎn)品品質(zhì) ,下列表中每批 PCB之 缺點之記錄 ,計有 20組樣本繪製 C管制圖 . 組號 樣本 缺點數(shù) 組號 樣本 缺點數(shù)1 1批 5 11 1批 22 1批 4 12 1批 73 1批 3 13 1批 14 1批 5 14 1批 85 1批 6 15 1批 26 1批 4 16 1批 27 1批 7 17 1批 38 1批 3 18 1批 79 1批 2 19 1批 410 1批 3 20 1批 4SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 26OF 83 ΣC=84 CLC = C = ΣC/K = 84/20 = 2. 代入公式求得 UCLC 及 LCLC UCLC = C+3 √ C = +3 √ = += UCLC = C 3 √ C = 3 √ = = 0 解 :(1)先計算樣本缺點數(shù)的帄均值 ( C ) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 27 OF 83 帄均值與全距管制圖 (XR CHART) 一 ,在計量管制圖中 XR CHART 系最實用之一種品質(zhì)控制工具 , 仍系 X CHART 與 R CHART之合並使用 .帄均值管制圖系管 制帄均值的變化 ,即分配之集中趨勢變化 .全距管制圖則管制變 異之程度 ,即分配之散布狀況 ,離中趨勢 .均可協(xié)助我們判斷製 造工程之實際狀況 ,藉以明瞭品質(zhì)變化之趨勢 . 二 ,用途 : XR用在管制分組之計量數(shù)據(jù) ,每組同時取數(shù)個數(shù)據(jù) ,如 :長度 ,重量 ,內(nèi) ,外徑 ,濃度 ,抗張力 ,深度等 . 三 ,取樣法 : 此管制圖系由樣本之數(shù)據(jù) ,推測製造工程是否在穩(wěn)定之管制 狀態(tài)中選取樣本 ,頇有代表性 ,原則上以在各工作線上按不同 機器 ,操作人員 ,原料分別取樣 ,樣本數(shù)據(jù)為 45件 . N=4或 5 K= 25組以上 X1,XC2,X3,X4,X5 X 樣組間變異 X 製程 組內(nèi)變異 ζ SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 28 OF 83 四 ,建立步驟 : (1)搜集 25個以上的數(shù)據(jù) (依測定時間順序或群體數(shù)據(jù)依序排列 ) (2)把 26個 (一般採 45個 )數(shù)據(jù)分為一組 . (3)把數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表 . (4)計算各組帄均值 X. (5)計算各組的全距 R. (6)計算總帄均 X = ΣX / K (K =組數(shù) ) (7)計算全距帄均 R = ΣR / K(K= 組數(shù) ) (8)計算管制界限 (此為 u與 δ 未知狀況 ) X 管制圖 :中心線 CLX = X 上限 UCLX = X +A2R 下限 LCLX = X A2R R管制圖 :中心線 CLR = R 上限 UCLR = D4R 下限 LCLR = D3R SPC講義 講師 DAVID KUO 頁數(shù) 29 OF 83 樣組 A2, D3 D42 3 4 5 6 7 A2,D3,D4　可查表： 到X年X月X日樣 樣組 X X X X X 組 X X X X X1 50 50 49 52 51 3 14 53 48 47 52 51 62 47 53 53 45 50 8 15 53 48 49 51 52 53 46 45 49 48 49 4 16 46 50