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2025-05-09 11:01 本頁面


【正文】 專用測(cè)試架、直尺、專用測(cè)試卡帶。 4 檢驗(yàn)項(xiàng)目及技術(shù)要求: 外觀 : 薄膜板無破損、劃傷、臟污; 薄 膜板上印制線無開路、短路、氧化、毛刺等; 薄膜板上、中、下三片孔位應(yīng)對(duì)齊; 銀漿觸點(diǎn)應(yīng)平滑,無顆粒狀異物沾附表面; 銀漿接口無偏位。 結(jié)構(gòu)尺寸:外形尺寸符合裝配或樣品要求。 電氣性能:無連鍵,鍵無功能。 5 檢驗(yàn)方法 外觀 :目測(cè)法 . 結(jié)構(gòu)尺寸 :試裝或用直尺測(cè)量。 電氣性能:專用測(cè)試架測(cè)試。 6 缺陷分類(見附表) 7 抽樣方案 :
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