電腦電玩廠檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)-膠袋、進(jìn)貨、晶片、晶振(4個(gè)文件)電子行業(yè)檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)(舊dram-文庫(kù)吧
2025-06-23 18:48 本頁(yè)面
【正文】 具、游標(biāo)卡尺。 4 檢驗(yàn)項(xiàng)目及技術(shù)要求 外觀 : 外觀封裝形式正確 ,型號(hào)清晰 ,無(wú)混料現(xiàn)象 . 表面無(wú)臟污、破損、破裂現(xiàn)象。 引腳無(wú)氧化、發(fā)黑、變形、斷腳、腳歪、腳短（影響裝配），引腳無(wú)連錫、上錫多造 成插件困難。 結(jié)構(gòu)尺寸：主體長(zhǎng)、寬、高及引線腳長(zhǎng)、寬、高和間距應(yīng)符合裝配或樣品要求。 電氣性能：功能正常，無(wú)不復(fù)讀、復(fù)讀雜音、復(fù)讀異響、復(fù)讀自激等。 可焊性：經(jīng)焊接后，上錫面應(yīng)在 98%以上。 5 檢驗(yàn)方法 外觀 :目測(cè)法。 結(jié)構(gòu)尺寸 :試裝或用游標(biāo)卡尺測(cè)量（注意：檢驗(yàn)時(shí)，必須戴防靜電帶）。 電氣性能：用測(cè)試夾具測(cè)試 IC 功能。
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