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正文內(nèi)容

xrf光譜儀原理及維護-文庫吧

2025-07-21 01:20 本頁面


【正文】 內(nèi)容包括通道名、譜線、晶體、準直器、探測器、濾光片、 kV/mA、峰位及背景測量時間,脈沖高度分布條件 (PHD) 6. 檢查分析線光學條件 (Check Angle): 確定峰位實際角度及背景點;計算測量時間、檢查譜重疊 7. 檢查電學條件 (Check PHD): 確定脈沖高度分布的設(shè)定條件 8. 自動生成分析測量程序 分析線的選擇 選擇分析線時,通常選擇高強度、最靈敏線。一般 K系線強度 L系線強度 。在無干擾的情況下 盡量選擇 K系線。 一般: 原子序數(shù) Z = 4Be ~ 53I , 選用 K系譜線 原子序數(shù) Z = 55Cs ~ 92U, 選用 L系譜線 原子序數(shù) Z = 37Rb ~ 60Nd,選用 K或 L系譜線 三 . X射線熒光儀部件功能 儀器組件的基本功能 X光管 樣 品 光學系統(tǒng) 探測器 定標器 計算機 激發(fā)源 熒光發(fā)射源 光譜單色化 光電轉(zhuǎn)換 計數(shù)電路 操作控制 軟 件 定性定量分析 1. 激發(fā)源- X光管 X射線 陰極燈絲 陽極 Rh Be窗口 1. 陰極發(fā)射的電子在電場作用下飛向陽極 ,與陽極靶原子相遇突然停止 運動,轉(zhuǎn)移能量 ,發(fā)射 X射線光子; 2. 高速電子的能量 99%以熱能釋放,僅有 1 % 的能量轉(zhuǎn)變成 X射線光子。 3. 由陽極、陰極、 Be窗 口、真空室、陶瓷絕緣、 HT插座、燈絲聯(lián)結(jié)、冷 卻水管、管殼組成 。 X光管 原理圖 電流 電子 燈絲 陽極 Be窗口 X射線光子 Axios儀器的熒光激發(fā)源 X射線管 最佳激發(fā)電壓的選擇 1. 最佳激發(fā)電壓應高于元素臨界激發(fā)電位的 4 ~ 10 倍; 2. 激發(fā)輕元素時, 選擇低電壓 ,高電流 。 3. 激發(fā)重元素時 ,選擇高電壓 ,低電流 。 最佳工作電壓的選擇 KV/KeV 輕元素選擇低電壓 , 高電流 。 重元素選擇高電壓 ,低電流 最佳工作電壓 kV K lines L lines 60 Fe Ba Sm U 50 Cr Mn Pr Nd 40 Ti V Cs Ce 30 Ca Sc Sb I 24 Be K Ca Sn 最佳工作 電流 ? 工作電流和強度的 2次方成正比,管流管壓之積小于額定功率的前提下,可選擇工作電流盡可能的高 (樣品 ) ?2 ?1 t dt 原級輻射 I? X光管 探測器 熒光輻射 Ii 由于原級輻射激發(fā)和共存元素 互致激發(fā)樣品發(fā)射的熒光由一次、二次、三 次熒光組成。 (分光 )系統(tǒng) 光學系統(tǒng)由樣品、前級準直器、分光晶體 和探測器準直器組成; 晶體分光原理 Braggs Law : n?=2dsin? 布喇格定律 樣品發(fā)射的具有不同波長的特征 X射線通過晶體的衍射,散布 在空間不同的方位上,并由探測器跟蹤測量 —— 稱為波長散射。 晶體分光原理與布拉格定律 布拉格定律 入射波長 ? 準直 器系統(tǒng) 1. 前級 準直器的作用在于: 控制入射光束的 強度及分辨 性能 2. 探測器準直器的作用在于降低雜散背景,提高靈敏度 3. 通常具有兩種準直器 系統(tǒng): ? 平面晶體 /準直器色散系統(tǒng) -非聚焦系統(tǒng),用于順序式儀器 ? 柱面彎曲晶體 /狹縫色散系統(tǒng) -聚集系統(tǒng),用于同時式儀器 4. 準直器由若干金屬薄片 ( Mo)及隔墊疊積而成,金屬片間隔越密,分辨率越高,強度越低;金屬片間距越大,強度越高,分辨率越差。 兩種準直器裝置 對數(shù)螺線彎晶光學系統(tǒng) 平面晶體光學系統(tǒng) 準直器工作原理 輻射源 發(fā)散光 平行光 在平面晶體光學系統(tǒng)中,準直器將發(fā)散光會聚成一束平行光,片間距越小,光束的準直度越高 ,分辨率越好,但強度越低。 AXioS 儀器 的準直器系統(tǒng) 粗 高強度 低分辨率 中 分辨率及強度一般 細 高分辨 低強度 準直器 /狹縫 應用范圍 準直器 100/150 mm 300 mm 700 mm L spectra U Pb U Ru Mo Fe K spectra Te As Te K Cl O 準直器 150 mm 550 mm 4000 mm L spectra U Ru Mo Fe K spectra Te K Cl F O Be 濾光片的用途 1. 消除光管靶材的特征線干擾; 2. 微量分析時可提高峰 /背比, 獲得較低的 LLd; 3. 減弱初級光束強度; 4. 抑制管光譜中的有害雜質(zhì)光譜。 濾光片位于 X光管 Be窗于樣品之間;共有 5塊不同材質(zhì)的薄片構(gòu)成,由一馬達驅(qū)動 ; 消去 X光管靶線和降低散射背景 例 光學編碼定位測角儀 (DOPS) 定位精度 : ? ?2? 定位精度 : 2400o /分鐘 驅(qū)動方式 : ?2? 獨 立轉(zhuǎn)動
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