磁粉檢測作業(yè)指導(dǎo)書-文庫吧
2025-07-19 06:27 本頁面
【正文】 磁后處理出具報(bào)告、通知單簽發(fā)報(bào)告、通知單委托單位資料存檔圖1 磁粉檢測流程圖⑴標(biāo)準(zhǔn)試片①標(biāo)準(zhǔn)試片主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測設(shè)備、磁粉和磁懸液的綜合性能，顯示被檢工件表面是否具有足夠的有效磁場強(qiáng)度和方向、有效檢測區(qū)及磁化方法是否正確。磁粉檢測時(shí)一般使用A1：30/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測焊縫坡口等狹小部位，由于尺寸關(guān)系，A1型靈敏度試片使用不便時(shí)，可用C：15/50型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí)，可選用D型號或M1型標(biāo)準(zhǔn)試片。⑵靈敏度試片使用方法① 標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法。a）試片使用前，應(yīng)用溶劑清洗防銹油，如果工件表面貼試片處凹凸不平，應(yīng)打磨平，并除去油污。b）將使用時(shí)，應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外。為保持試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。c）試片使用后，可用溶劑清洗并擦干，干燥后涂上防銹油，放回原裝片袋保存。d）標(biāo)準(zhǔn)試片使用時(shí)所采用的磁粉檢測技術(shù)，應(yīng)與實(shí)際檢測應(yīng)用的一致。②磁場指示器：用于表示被檢工件表面磁場方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確的一種粗略的校驗(yàn)工具。⑴除非另有規(guī)定，焊接接頭的磁粉檢測應(yīng)在焊接完工后或焊接工序完成后進(jìn)行。⑵對有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成24h后進(jìn)行焊接接頭的磁粉檢測。⑶對有熱處理要求的焊接接頭，磁粉檢測一般應(yīng)安排在熱處理之后進(jìn)行。⑷緊固件和鍛件的磁粉檢測一般應(yīng)安排在最終熱處理之后進(jìn)行。⑴被檢工件的表面準(zhǔn)備① 局部檢測時(shí)，表面準(zhǔn)備工作范圍應(yīng)從檢測部位四周向外擴(kuò)展25mm。② 將工件被檢表面上的鐵銹、氧化皮、焊接飛濺、鐵屑、毛刺以及其它污物清理干凈，并保持干燥。③ 表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)該做適當(dāng)?shù)男蘩?，修理后的被檢工件表面粗糙度Ra≤25μm。⑴磁化電流：交流。⑵磁化方向① 磁軛法：縱向磁化；② 交叉磁軛法：復(fù)合磁化。⑶磁軛法① 磁極間距應(yīng)控制在75mm～200mm之間，其有效寬度為兩極連線兩側(cè)各1/4的極矩的范圍內(nèi)，磁化區(qū)域每次應(yīng)有不少于10%的重疊。② 采用磁軛法磁化工件時(shí)，其磁化規(guī)范應(yīng)經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)試片驗(yàn)證。③ 磁化通電的時(shí)間一般為1s～3s。④ 為保證磁化效果應(yīng)至少反復(fù)磁化兩次。⑷交叉磁軛法① 四個(gè)磁極端面與檢測面之間應(yīng)保持良好貼合。②采用移動的方式磁化工件。 ③ 連續(xù)拖動檢測時(shí)，檢測速度應(yīng)盡量均勻，一般不應(yīng)大于4m/min。④應(yīng)使用標(biāo)準(zhǔn)試片對交叉磁軛法進(jìn)行綜合性能驗(yàn)證，驗(yàn)證時(shí)宜在移動的狀態(tài)下進(jìn)行。⑴采用噴淋法施加磁懸液。⑵施加前要先將磁懸液搖勻。⑶應(yīng)確保整個(gè)檢測面被磁懸液潤濕。⑷采用連續(xù)法時(shí)，磁懸液的施加和磁痕顯示的觀察應(yīng)在磁化通電時(shí)間內(nèi)完成，⑴缺陷磁痕的觀察應(yīng)在磁痕形成后立即進(jìn)行。⑵非熒光檢測時(shí)，缺陷磁痕的評定應(yīng)在可見光下進(jìn)行, 且工件被檢面處白光照度應(yīng)大于或等于1000lx；當(dāng)現(xiàn)場檢測時(shí)，由于條件所限無法滿足時(shí)，可見光照度可以適當(dāng)降低，但不得低于500lx。⑶熒光檢測時(shí)，缺陷磁痕的評定應(yīng)在暗黑區(qū)黑光燈激發(fā)的黑光下進(jìn)行,工件被檢面的黑光輻照度應(yīng)大于或等于1000μW/cm2；暗黑區(qū)或暗處可見光照度應(yīng)不大于20lx。檢測員進(jìn)入暗區(qū)至少5min后進(jìn)行熒光磁粉檢測，觀察時(shí)不應(yīng)佩戴對檢測結(jié)果評判有影響的眼鏡或?yàn)V光鏡。⑷當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小磁痕時(shí),應(yīng)輔以2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。⑸缺陷磁痕的顯示記錄可采用照相、錄相、草圖等方式記錄。當(dāng)出現(xiàn)下列情況之一時(shí)，需進(jìn)行復(fù)驗(yàn)，
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