x射線背散射成像技術(shù)在安檢中的應(yīng)用-文庫吧
2025-05-21 20:39 本頁面
【正文】 角獲取的物質(zhì)信息越多，越能 達到準確判定物質(zhì)有效原子系數(shù)和密 度的目的。公安部第一研究所采用雙 源雙探真實雙能和偽雙能透射的多視 角成像組合技術(shù)，研制出國內(nèi)首款 能夠?qū)崿F(xiàn)對一定量的毒品和炸藥進行Transmissiom Image Backscatter ImageExplosive Simulant(23Kg sacks圖1 左圖為單能透射X射線成像 右圖為背散射技術(shù)成像自動探測的設(shè)備，探測速度提高一倍多，高達500mm/s，違禁物在三視圖 上被用線框自動標識，非常適合大流 量包裹的違禁物與炸藥的自動探測。 這種自動、高速、高效的炸藥探測模 式必將取代現(xiàn)行的人工判讀模式。理后成像顯示。飛點掃描技術(shù)是背散射掃描技術(shù) 的核心，它可瞬時對X射線光束方位 進行處理，使背散射信號能對被檢物 品的危險區(qū)域做出及時反應(yīng)，完成準 實時成像，并能凸顯低原子序數(shù)物質(zhì) 的具體形狀及位置。背散射成像技術(shù) 與雙能透射相比的優(yōu)缺點如下：背散射成像優(yōu)點：（1）圖像能凸顯低原子序數(shù)的 有機物，特別是液體炸藥、塑性炸 藥、毒品等。（2）射線源與背散射探測器在 被測物的同一側(cè)，便于實施探測。（3）X射線飛點掃描照射劑量 小、輻射量小。背散射成像缺點：（1）射線穿透能力差。（2）圖像分辨率低。（3）不能自動對被測物進行有 效原子序數(shù)分類，無法實現(xiàn)自動探 測。三、背散射成像與雙能透射成像技術(shù)的融合應(yīng)用有機物大都屬于低原子序數(shù)、 低密度物質(zhì)，各類炸藥和普通有機物 一樣，都含有低原子序數(shù)的碳、氧、 氫、氮元素。使用雙能量X射線透射 成像能自動對被測物進行有效原子序 數(shù)分類，但不能將少量輕薄的毒品和 炸藥從復(fù)雜的有機物背景中區(qū)分凸 顯，影響探測率。而大多數(shù)炸藥，特 別是塑性炸藥具有較低的原子序數(shù)和 相對較高的密度，采用X射線背散射 成像技術(shù)有利
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