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正文內(nèi)容

超聲波檢測(cè)方法和通用工藝(20xx長(zhǎng)春)-文庫吧

2024-10-08 09:32 本頁面


【正文】 前沿距離 15 CSKIIIA 45mm 40 10mm 20mm 65mm 0 20 40mm 圖 4 3)、深度調(diào)節(jié)法 CSKIA CSKIIIA CSKIIA d1=2501 KR? d2=21001 kR? =2d1 K=2 d1=22 d2=44 0 22 44 45mm 40 10mm 20mm 65mm 0 1 0 20mm 圖 5 二、檢測(cè)靈敏度的調(diào)節(jié) 檢測(cè)靈敏度是指聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。 實(shí)際檢測(cè)中,在粗查時(shí)為了提高掃查速度而又不至于引起漏檢, 試塊調(diào)節(jié) 根據(jù)工件對(duì)靈敏度的要求選擇相應(yīng)的試塊 ,將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上的人工缺陷,調(diào)整儀器上的有關(guān)靈敏度旋鈕,使示波屏上人工缺陷的最高反射 回波達(dá)到基準(zhǔn)高,這時(shí)儀器的靈敏度調(diào)節(jié)好。 例如:板厚大于 20mm 鋼板檢測(cè)時(shí)。 100% CBII 50% φ 5 0 例如:工件檢測(cè)距離大于等于 45mm 的鍛件 100% 60% CSI φ 2 圖 6 工件底波調(diào)節(jié)法 利用工件底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度是根據(jù)工件底波回波與同深的人工缺陷(如平底孔)回波分貝差為定值,一般要求工件底面和探測(cè)面平行,工件底面和探測(cè)面形狀相同,且規(guī)則。 Δ =20lgffB D xPP 22lg20 ? ?? x≥ 3N 例如:用 直探頭檢測(cè) x=400mm 的餅形鍛件, 鋼的CL=5900m/s,檢測(cè)靈敏度為 400mm 處平底孔 400/φ 2 (JB/ 規(guī)定掃查靈敏度為最大檢測(cè)距離的φ 2 平底孔 )。 工件底波調(diào)整靈敏度利用的方法如下: λ =fCL=6 105900?? = Δ =20lgffB D xPP 22lg20 ? ?? =20lg ??? =(dB)≈ 44(dB) 調(diào)整:將探頭對(duì)準(zhǔn)工件大平底,衰減器 50dB,跳 [增益 ]使底波 B1 達(dá)到 80%,然后使 [衰減器 ]的衰減量減少 44dB,即 [衰減器 ]保持 6dB,這時(shí)φ 2 平底孔靈敏度調(diào)好了。 第五節(jié) 缺陷位置的測(cè)定 一、縱波(直探頭)檢測(cè)是缺陷定位 儀器按 1: n 調(diào)節(jié)縱波掃查速度, 缺陷波前沿所對(duì)的水平刻度值為 τ f、測(cè)量缺陷至探頭的距離 xf為: xf=nτ f 例如:利用縱波檢測(cè)某鍛件,儀器按 1: 5 調(diào)節(jié) T B F Xf L 0 70 80 圖 7 Xf=5 70=350mm L=5 80=400mm 二、表面波檢測(cè)時(shí)缺陷定位 儀器表面波為 1:1 Xf= nτ f T B 70 Xf=70mm 圖 8 三、橫波檢測(cè) 平面時(shí)缺陷定位 直射波進(jìn)行檢測(cè) T lf B β Xf df T 圖 9 τ f 1)、 聲程調(diào)節(jié)掃查速度 lf=Xfsinβ df= Xfcosβ 2)、按水平調(diào)節(jié)掃查速度 采用水平 距離 進(jìn)行調(diào)節(jié),即 示波器的水平刻度為探頭到缺陷的水平距離。 稱水平 1: n lf=nτ f df=Klf ( K=ffdl ) 例如; 采用 13K2 探頭檢測(cè), 儀器 按水平 1: 1 調(diào)節(jié),檢測(cè) T=40mm 鋼板焊縫, 在水平刻度 40mm處發(fā)現(xiàn)一處缺陷,求缺陷的深度。 Lf=40mm , df= mmKl f 20240 ?? 3)、按深度調(diào)節(jié)掃查速度 采用水平距離進(jìn)行調(diào)節(jié),即示波器的水平刻度為探頭到缺陷的深度距離。 lf=K nτ f df= nτ f 例如:用 探頭檢測(cè),儀器按 深度 1: 1調(diào)節(jié),檢測(cè) T=60mm 鋼板焊縫,在水平刻度 40mm 處發(fā)現(xiàn)一處缺陷, 求缺陷的 水平距離 。 df=40mm lf= Kdf= 40=60mm 一次反射波進(jìn)行檢測(cè) 1)、聲程調(diào)節(jié)掃查速度 T lf B β Xf df T 圖 10 τ f lf= Xf sinβ =nτ f sinβ df=2T Xfcosβ =2T nτ fcosβ 2)、按水平調(diào)節(jié)掃查速度 lf= nτ f df=2T KnTKl ff ??? 2 例如:用 13K2 探頭檢測(cè),儀器按 水平 1: 1 調(diào)節(jié),檢測(cè) T=20mm 鋼板焊縫,在水平刻度 50mm 處發(fā)現(xiàn)一處缺陷,求缺陷的 垂直距離 。 lf=50mm df=2TKlf =2 20 250 =15mm 3)、按深度調(diào)節(jié)掃查速度 lf=K nτ f df=2T nτ f 例如:用 探頭檢測(cè),儀器按 深度 1: 1調(diào)節(jié),檢測(cè) T=30mm 鋼板焊縫,在水平刻度 40mm 處發(fā)現(xiàn)一處缺陷,求缺陷的 垂直距離 。 lf=K nτ f= 40=60mm df=2T nτ f=2 3040=20mm 四、橫波周向探測(cè)園軸曲面時(shí)缺陷定位 外圓周向檢測(cè) 缺陷的位置由深度 H 和弧長(zhǎng) L 來確定, AC=d(平板工件中缺陷深度) BC=dtgβ =Kd=l AO=R CD=Rd tgβ =dRKdOCBC ?? θ =tg1dRKd? BO= 22 )()( dRKd ?? 圖 11 H=ODOB=R 22 )()( drKd ?? L= dRKdtgRR ?? ?1180180 ??? 內(nèi)壁周向檢測(cè) 缺陷的位置是由深度 h 和弧長(zhǎng) L 來確定。 AC=d (平板工件中缺陷的速度 ) BC=dtgβ =Kd=l(平板工件中缺陷的水平距離) AO=r CD=r+d tgθ =drKdOCBC ?? θ =tg1drKd? BO= 22 )()( drKd ?? 圖 12 h=OBOD= rdrKd ??? 22 )()( L= drKdtgrr ?? ?1180180 ??? 例如 : 橫波斜探頭外圓周檢測(cè)φ 1080 85 壓力容器縱縫。儀器按深度 1: 2 調(diào)節(jié)掃描速度,檢測(cè)中在水平刻度 40 處出現(xiàn)一缺陷波,試確定此缺陷的位置。 解: d=2 40=80mm k= l=kd= 80=120mm R= 54021080 ?mm H=R mmdRKd )80540()(540)()( 2222 ???????? L= mmtgdR KdtgR 11 ?????? ??? 當(dāng)探頭 從圓柱曲面外壁作周向檢測(cè)時(shí),弧長(zhǎng)總比水平距離大,但深度卻總比 d 值小 但探頭 從圓柱曲面內(nèi)壁作周向檢測(cè)時(shí),弧長(zhǎng)總比水平距離小,但深度卻總比 d 值大 第六節(jié) 缺陷大小的測(cè)定 當(dāng)量法、底波高度法和測(cè)長(zhǎng)法三種 當(dāng) 量法和底波高度法用于缺陷尺寸小于聲束截面的情況,測(cè)長(zhǎng)法用于缺陷尺寸大于聲束截面情況。 一、當(dāng)量法 當(dāng)量試塊比較法、當(dāng)量計(jì)算法 和 當(dāng)量 AVG 曲線法 。 當(dāng)量試塊比較法 當(dāng)量試塊比較法是將工件中的自然缺陷回波與試塊上的人工缺陷回波進(jìn)行比較來對(duì)缺陷當(dāng)量的方法。 利用試塊比較法對(duì)缺陷定量要盡量使試塊與被檢 工件的材質(zhì)、表面光潔度和形狀一致,并且氣體其它檢測(cè)條件不變,如儀器、探頭、靈敏度旋鈕的位置、對(duì)探頭施加的壓力等。僅在 X3N 的情況下或特別重要零件的精度定量是使用。 優(yōu)點(diǎn):直觀易懂,當(dāng)量觀念明確,當(dāng)量比較穩(wěn)妥可靠。 缺點(diǎn):需要制作大量試塊,成本高;同時(shí)操作也比較繁瑣,現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)要攜帶很多試塊,很不方便。 當(dāng)量計(jì)算法 當(dāng) x≥ 3N 時(shí) ,規(guī)則反射體的回波聲壓變化規(guī)律符合理論回波聲壓公式。 當(dāng)量計(jì)算法就是根據(jù)檢測(cè)中測(cè)得的缺陷波高的 dB 值,利用各種規(guī)則反射體的理論回波聲壓公式進(jìn)行計(jì)算來確定缺陷定量尺寸的定 量方法。 當(dāng)量計(jì)算法對(duì)缺陷定量不需要任何試塊。 平底孔和大平底的回波聲壓公式為: PB= 2BXbs eXFP ?? ? (大平底 X≥ 3N) Pf= 202bxfs exFP ?? ? (平底孔 X≥ 3N) 不同距離處的大平底與平底孔回波分貝差為 Δ Bf=20lgfBPP =20lgBffxDx2 22?? +2α (xfxB) Δ Bf:底波與缺陷的 dB 差 Xf:缺陷至檢測(cè)面得距離 XB:底波至檢測(cè)面得距離 Df:缺陷的當(dāng)量平底孔直徑 λ :波長(zhǎng) α:材料衰減系數(shù)(單程) 不同平底孔回波分貝差為 Δ 12=20lg )2lg401212 2121 xxxD xDPp ffff ??? (? Δ 12:平底孔 2 的 dB 差 Df Df2:平底孔 2 的當(dāng)量直徑 X X2:平底孔 2 的距離 例 :用 探頭檢測(cè)厚度為 420mm 餅形鋼制工件,鋼中CL=5900m/s,不考慮介質(zhì)衰減,利用底波調(diào)整φ 2平底孔檢測(cè)靈敏度,檢測(cè)中在 210mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷,其回波比底波低 26dB ,求此缺陷的當(dāng)量大小。 解: λ = mmfC 66 ???? N= mmD 144 22 ???? 3N=3 21=63210mm 設(shè) 420 處大平底回波聲壓為 PB, 210mm 處缺陷回波聲壓為 Pf,則 Δ Bf=20lg 26 2222 ??? ???? DDx xPP fb ffB ? ?dB Df= 2 ??? ?? 答:該缺陷當(dāng)量平底孔為φ 例 : 用 探頭徑向檢測(cè)直徑為 500mm 的實(shí)心圓柱鋼工件,CL=5900m/s,α =,利用底波調(diào)整 500/φ 2 靈敏度,檢測(cè)在 400mm 處發(fā)現(xiàn)一缺陷,其回波比靈敏度基準(zhǔn)波高 22 dB, 求此缺陷的當(dāng)量大小。 解:λ = mmfC 66 ???? N= mmD 204 22 ???? 3N=3 =400mm 設(shè) 400mm 處 缺陷回波 聲壓為 Pf1, 500mm 處 大平底回波 聲壓為 Pf2,則 Δ 12=20lg )2lg401212 2121 xxxD xDPp ffff ??? (?=22dB 40lg )(2221212 21 ???????? XXxD xD ff ? Df1= mmxxD f 104002102 ????? 答:該缺陷當(dāng)量平底孔尺寸為φ 二、測(cè)長(zhǎng)法 當(dāng)工件中缺陷尺寸大于聲束 截面時(shí),采用測(cè)長(zhǎng)法來確定缺陷長(zhǎng)度。 測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)缺陷高與探頭移動(dòng)距離來確定缺陷的尺寸。其缺陷長(zhǎng)度為缺陷的指示長(zhǎng)度。 實(shí)際由于缺陷的取向、性質(zhì)、表面狀況等都會(huì)影響缺陷回波高度,因此缺陷的指示長(zhǎng)度總是小于或等于缺陷的實(shí)際長(zhǎng)度。 其方法: 相對(duì)靈敏度法、絕對(duì)靈敏度 法和端
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