【正文】 現(xiàn)幾何量測(cè)量的量具。 這類量具有游標(biāo)卡尺、深度游標(biāo)卡尺、游標(biāo)高度卡尺以及游標(biāo)量角器等。 公差與 測(cè)量 技術(shù) (3) 微動(dòng)螺旋副式量?jī)x 用螺旋方式移動(dòng)測(cè)頭來(lái)實(shí)現(xiàn)幾何量測(cè)量的量?jī)x。 如外徑干分尺、內(nèi)徑千分尺、深度千分尺等。 計(jì)量器具的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 (4) 機(jī)械式量?jī)x 用機(jī)械方法來(lái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)量的變換和放大，以實(shí)現(xiàn)幾何量測(cè)量的量?jī)x。 如百分表、杠桿百分表、杠桿齒輪比較儀、扭簧比較儀等。 公差與 測(cè)量 技術(shù) (5) 光學(xué)式量?jī)x 用光學(xué)原理來(lái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)量的變換和放大，以實(shí)現(xiàn)幾何量測(cè)量的量?jī)x。 如光學(xué)計(jì)、測(cè)長(zhǎng)儀、投影儀、干涉儀等。 (6) 氣動(dòng)式量?jī)x 以壓縮氣體為介質(zhì)，將被測(cè)量轉(zhuǎn)換為氣動(dòng)系統(tǒng)狀態(tài) (流量或壓力 )的變化，以實(shí)現(xiàn)幾何量測(cè)量的量?jī)x。 如水柱式氣動(dòng)量?jī)x、浮標(biāo)式氣動(dòng)量?jī)x等。 計(jì)量器具的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) (7) 電動(dòng)式量?jī)x 將被測(cè)量變換為電量，然后通過(guò)對(duì)電量的測(cè)量來(lái)實(shí)現(xiàn)幾何量測(cè)量的量?jī)x。 如電感式量?jī)x、電容式量?jī)x、電接觸式量?jī)x、電動(dòng)輪廓儀等。 計(jì)量器具的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 (8) 光電式量?jī)x 利用光學(xué)方法放大或瞄準(zhǔn)，通過(guò)光電元件再轉(zhuǎn)換為電量進(jìn)行檢測(cè)，以實(shí)現(xiàn)幾何量測(cè)量的量?jī)x。 如光電顯微鏡、光柵測(cè)長(zhǎng)機(jī)、光纖傳感器、激光準(zhǔn)直儀、激光干涉儀等。 公差與 測(cè)量 技術(shù) 3．專用計(jì)量器具 專門用來(lái)測(cè)量某種特定參數(shù)的計(jì)量器具。如圓度儀、漸開(kāi)線檢查儀、絲桿檢查儀、極限量規(guī)等。 計(jì)量器具的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 4．檢驗(yàn)夾具 用量具、量?jī)x和定位元件等組合成的一種專用的檢驗(yàn)工具。當(dāng)配合各種比較儀時(shí)，能用來(lái)檢驗(yàn)更多和更復(fù)雜的參數(shù)。 公差與 測(cè)量 技術(shù) 廣義的 測(cè)量方法 ，是指進(jìn)行測(cè)量時(shí)所用的，按類別敘述的一組操作邏輯次序。 但是在實(shí)際工作中，往往單純從獲得測(cè)量結(jié)果的方式來(lái)理解測(cè)量方法，它可按不同特征分 6類。 測(cè)量方法的分類 二、測(cè)量方法的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) 1．所測(cè)得的量是否為欲測(cè)之量 (1) 直接測(cè)量 直接從計(jì)量器具的讀數(shù)裝置上得到欲測(cè)之量的數(shù)值或?qū)?biāo)準(zhǔn)值的偏差。 例如用游標(biāo)卡尺、千分尺測(cè)量外圓直徑，用比較儀測(cè)量欲測(cè)尺寸。 測(cè)量方法的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 (2) 間接測(cè)量 測(cè)量有關(guān)量，并通過(guò)一定的函數(shù)關(guān)系式，求得欲測(cè)之量的數(shù)值。 例如用 “ 弦高法 ” 測(cè)量圓柱體直徑，由弦長(zhǎng) S與弦高 H的測(cè)量結(jié)果，可求得直徑 D的數(shù)值。 D＝ S2／ (4H)＋ H 公差與 測(cè)量 技術(shù) 2．測(cè)量結(jié)果的讀數(shù)值不同 (1) 絕對(duì)測(cè)量 測(cè)量時(shí)從量器具上直接得到被測(cè)參數(shù)的整個(gè)量值。 例如用游標(biāo)卡尺測(cè)量小工件尺寸。 (2) 相對(duì)測(cè)量 在計(jì)量器具的讀數(shù)裝置上讀得的是被測(cè)之量對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)量的偏差值。 例如在立式光學(xué)比較儀上測(cè)量活塞銷直徑X。 先用量塊 (標(biāo)準(zhǔn)量 )X0調(diào)整零位，實(shí)測(cè)后獲得的示值 ⊿ X就是直徑相對(duì)于量塊 (標(biāo)準(zhǔn)量 )的偏差值，實(shí)際直徑 X＝ X0 +⊿X 。 測(cè)量方法的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) 3．被測(cè)工件表面與計(jì)量器具測(cè)頭是否有機(jī)械接觸 (1) 接觸測(cè)量 計(jì)量器具測(cè)頭與工件被測(cè)表面直接接觸，并有機(jī)械作用的測(cè)量力。 例如用千分尺、游標(biāo)卡尺測(cè)量工件。 為了保證接觸的可靠性，測(cè)量力是必要的，但它可能使計(jì)量器具或工件產(chǎn)生變形，從而造成測(cè)量誤差。 測(cè)量方法的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) (2) 非接觸測(cè)量 計(jì)量器具的敏感元件與被測(cè)工件表面不直接接觸，沒(méi)有機(jī)械作用的測(cè)量力?？衫霉狻?、電、磁等物理量關(guān)系使測(cè)量裝置的敏感元件與被測(cè)工件表面聯(lián)系。 例如用干涉顯微鏡、磁力測(cè)厚儀、氣動(dòng)量?jī)x等的測(cè)量。 非接觸測(cè)量沒(méi)有測(cè)量力引起的測(cè)量誤差，因此特別適用于薄結(jié)構(gòu)易變形工件的測(cè)量。 測(cè)量方法的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) 4．測(cè)量在工藝過(guò)程中所起作用 (1) 主動(dòng)測(cè)量 零件在加工過(guò)程中進(jìn)行的測(cè)量。 測(cè)量結(jié)果直接用來(lái)控制零件的加工過(guò)程，決定是否需要繼續(xù)加工或判斷工藝過(guò)程是否正常，能及時(shí)防止廢品的產(chǎn)生，主動(dòng)測(cè)量又稱為積極測(cè)量。 一般自動(dòng)化程度高的機(jī)床具有主動(dòng)測(cè)量的功能，如數(shù)控機(jī)床、加工中心等先進(jìn)設(shè)備。 (2) 被動(dòng)測(cè)量 零件加工完成后進(jìn)行的測(cè)量。其結(jié)果僅用于發(fā)現(xiàn)并剔除廢品，被動(dòng)測(cè)量又稱消極測(cè)量。 測(cè)量方法的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) 5．零件上同時(shí)被測(cè)參數(shù)的多少 (1) 單項(xiàng)測(cè)量 單獨(dú)地彼此沒(méi)有聯(lián)系地測(cè)量零件的單項(xiàng)參數(shù)。 例如分別測(cè)量齒輪的齒厚、齒形、齒距，螺紋的中徑、螺距等。這種方法一般用于量規(guī)的檢定、工序間的測(cè)量，或者為了工藝分析、調(diào)整機(jī)床等目的。 (2) 綜合測(cè)量 測(cè)量零件幾個(gè)相關(guān)參數(shù)的綜合效應(yīng)或綜合參數(shù)，從而綜合判斷零件合格性。 例如測(cè)量螺紋作用中徑、測(cè)量齒輪的運(yùn)動(dòng)誤差等。綜合測(cè)量一般用于終結(jié)檢驗(yàn) (驗(yàn)收檢驗(yàn) )，測(cè)量效率高，能有效保證互換性，特別用于成批或大量生產(chǎn)中。 測(cè)量方法的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) 6．被測(cè)工件在測(cè)量時(shí)所處狀態(tài) (1) 靜態(tài)測(cè)量 測(cè)量時(shí)被測(cè)零件表面與計(jì)量器具測(cè)頭處于靜止?fàn)顟B(tài)。 例如用齒距儀測(cè)量齒輪齒距，用工具顯微鏡測(cè)量絲杠螺距等。 (2) 動(dòng)態(tài)測(cè)量 測(cè)量時(shí)被測(cè)零件表面與計(jì)量器具測(cè)頭處于相對(duì)運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，它能反映生產(chǎn)過(guò)程中被測(cè)參數(shù)的變化過(guò)程。 例如用激光比長(zhǎng)儀測(cè)量精密線紋尺，用電動(dòng)輪廓儀測(cè)量表面粗糙度等。 測(cè)量方法的分類 ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) 度量指標(biāo)是選擇和使用計(jì)量器具、研究和判斷測(cè)量方法正確性的依據(jù)，是表征計(jì)量器具的性能和功能的指標(biāo)。 基本度量指標(biāo) 三、計(jì)量器具的基本度量指標(biāo) ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) 基本度量指標(biāo)主要有以下幾項(xiàng)： (1)刻線間距 c 計(jì)量器具標(biāo)尺或刻度盤上兩相鄰刻線中心線間的距離。 為了適于人眼觀察和讀數(shù)，刻線間距一般為1～ 。 (2)分度值 (刻度值 )i 計(jì)量器具標(biāo)尺上每一刻線間距所代表的量值即分度值。 一般長(zhǎng)度量?jī)x中的分度值有 、 、 、 、 。 實(shí)驗(yàn)用立式光學(xué)比較儀 i＝ 1μ m＝ 。 基本度量指標(biāo) ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 刻線間距 分度值 公差與 測(cè)量 技術(shù) 在數(shù)字式量?jī)x中，不稱分度值而稱為分辨率 。 分辨率 是指量?jī)x顯示的最末一位數(shù)所代表的量值。 如數(shù)顯千分表的分辨率為 1μ m。 基本度量指標(biāo) ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) (3)測(cè)量范圍 計(jì)量器具所能測(cè)量的被測(cè)量最小值到最大值的范圍稱為測(cè)量范圍。 外徑百分尺的測(cè)量范圍為 0～ 25mm、 25～50mm等；立式光學(xué)比較儀的測(cè)量范圍為 0～180mm。 (4)示值范圍 由計(jì)量器具所顯示或指示的最小值到最大值的范圍。 立式光學(xué)比較儀的示值范圍為177。 100μ m。 基本度量指標(biāo) ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 測(cè)量范圍 示值范圍 公差與 測(cè)量 技術(shù) (5)靈敏度 S 計(jì)量器具反映被測(cè)幾何量微小變化的能力。如果被測(cè)參數(shù)的變化量為 ⊿ L，引起計(jì)量器具的示值變化量為 ⊿ x， 則靈敏度 S＝ ⊿x /⊿L 。 當(dāng)分子分母是同一類量時(shí)，靈敏度又稱放大比 K。 (6)示值誤差 計(jì)量器具顯示的數(shù)值與被測(cè)量的真值之差為示值誤差。它主要由儀器誤差和儀器調(diào)整誤差引起。一般可用量塊作為真值來(lái)檢定計(jì)量器具的示值誤差。 基本度量指標(biāo) ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) (7)修正值 為消除計(jì)量器具系統(tǒng)測(cè)量誤差，用代數(shù)法加到測(cè)量結(jié)果上的值稱為校正值。 它與計(jì)量器具的系統(tǒng)測(cè)量誤差的絕對(duì)值相等而符號(hào)相反。 (8)測(cè)量結(jié)果的重復(fù)性 在相同測(cè)量條件下，對(duì)同一被測(cè)量進(jìn)行連續(xù)多次測(cè)量所得結(jié)果之間的一致性。重復(fù)性可以用測(cè)量結(jié)果的分散性定量地表示。 (9)測(cè)量不確定度 表征合理地賦予被測(cè)量之值的分散性，與測(cè)量結(jié)果相聯(lián)系的參數(shù)。此參數(shù)可以是標(biāo)準(zhǔn)偏差或其倍數(shù)，或說(shuō)明了置信水準(zhǔn)的區(qū)間的半寬度。 基本度量指標(biāo) ?計(jì)量器具和測(cè)量方法 公差與 測(cè)量 技術(shù) ? 第三節(jié) 測(cè)量誤差及數(shù)據(jù)處理 第三章 測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ) 公差與 測(cè)量 技術(shù) 測(cè)量中，不管使用多么精確的計(jì)量器具，采用多么可靠的測(cè)量方法，都不可避免地產(chǎn)生誤差。 如果被測(cè)量的真值為 L， 被測(cè)量的測(cè)得值為 l， 則 測(cè)量誤差 δ 用下式表示 δ ＝ l－ L 上式表達(dá)的測(cè)量誤差也稱 絕對(duì)誤差 。 誤差的基本概念 一、測(cè)量誤差的基本概念 ?測(cè)量誤差及數(shù)據(jù)處理 公差與 測(cè)量 技術(shù) 相對(duì)誤差 ε 是指測(cè)