《線粒體相關(guān)研究》ppt課件-文庫吧
2024-12-31 07:39 本頁面
【正文】 （七）微分干涉差顯微鏡 Differential interference contrast microscope （ DIC） ? 1952年 ， Nomarski發(fā)明 ， 利用兩組平面偏振光的干涉 ，加強影像的明暗效果 ， 能顯示結(jié)構(gòu)的三維立體投影 。 標本可略厚一點 ， 折射率差別更大 ， 故影像的立體感更強 。 （八 ）倒置顯微鏡 inverse microscope ? 物鏡與照明系統(tǒng)顛倒 ， 前者在載物臺之下 ， 后者在載物臺之上 ， 用于觀察培養(yǎng)的活細胞 ， 通常具有相差物鏡 ， 有的還具有熒光裝置 。 （九）當代顯微鏡的發(fā)展趨勢 ? 采用組合方式 ， 集普通光鏡加相差 、熒光 、 暗視野 、DIC、 攝影裝置于一體 。 ? 自動化與電子化 。 二、電子顯微鏡 （ 一）透射電子顯微鏡 transmission electron microscope, TEM ? 以電子束作光源 ， 電磁場作透鏡 。 電子束的波長短 ， 并且波長與加速電壓 (通常 50~120KV)的平方根成反比 。 ? 由電子照明系統(tǒng) 、 電磁透鏡成像系統(tǒng) 、 真空系統(tǒng) 、 記錄系統(tǒng) 、 電源系統(tǒng)等 5部分構(gòu)成 。 ? 分辨力 ， 放大倍數(shù)可達百萬倍 。 ? 用于觀察超微結(jié)構(gòu) （ ultrastructure） ， 即小于 、 光學顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu) ， 又稱亞顯微結(jié)構(gòu)（ submicroscopic structures） 。 1. 原理 透射電子顯微鏡 TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE， TEM 電子束 名 稱 可見光 紫外光 X 射線 α 射線 0. 1Kv 10Kv 波長（ nm ） 390~ 760 13~ 390 0. 05~ 13 0. 005~ 1 0. 123 0. 0122 表二、不同光線的波長 制樣技術(shù) ? 1）超薄切片 ? 電子束穿透力很弱，用于電鏡觀察的標本須制成厚度僅50nm的超薄切片，用超薄切片機（ ultramicrotome）制作。 ? 通常以鋨酸和戊二醛固定樣品，丙酮逐級脫水，環(huán)氧樹脂包埋，以熱膨脹或螺旋推進的方式切片，重金屬（鈾、鉛）鹽染色。 2）負染技術(shù) ? 用重金屬鹽 (如磷鎢酸 )對鋪展在載網(wǎng)上的樣品染色；吸去染料，干燥后，樣品凹陷處鋪了一層重金屬鹽，而凸的出地方?jīng)]有染料沉積，從而出現(xiàn)負染效果，分辨力可達。 Negative Stained Actin 3）冰凍蝕刻 freezeetching ? 亦稱冰凍斷裂 。 標本置于干冰或液氮中冰凍 。 然后斷開 ， 升溫后 ， 冰升華 ，暴露出了斷面結(jié)構(gòu) 。 向斷裂面上噴涂一層蒸汽碳和鉑 。 然后將組織溶掉 ， 把碳和鉑的膜剝下來 ， 此膜即為復膜 （ replica） 。 A Yeast Cell ? 20世紀 60年代問世 ， 用來觀察標本表面結(jié)構(gòu) 。 ? 分辨力為 6~10nm， 由于人眼的分辨力 （ 區(qū)別熒光屏上距離最近兩個光點的能力 ） 為 ， 掃描電鏡的有效放大倍率為 。 （二）掃描電子顯微鏡 Scanning electron microscope（ SEM） ? 工作原理：是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與樣品表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級電子由探測器收集，信號經(jīng)放大用來調(diào)制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子束同步的掃描圖像。 ? 為了使標本表面發(fā)射出次級電子，標本在固定、脫水后，要噴涂上一層重金屬膜，重金屬在電子束的轟擊下發(fā)出次級電子信號。 掃描電子顯微鏡原理 人類紅細胞 酵母 人類精子 （三）掃描隧道顯微鏡 scanning tunneling microscope， STM ? 原理：根據(jù)隧道效應而設(shè)計 ， 當原子尺度的針尖在不到一個納米的高度上掃描
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