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[工學]第九講 納米材料表征-文庫吧

2024-12-20 21:42 本頁面


【正文】 TiO2納米棒 TEM圖片 高分辨 TEM( HRTEM)圖片 TEM圖片 TiO2納米管的精細結構 TiO2納米管 HRTEM圖片 TiO2納米管 TEM圖片 2 . 掃描電子顯微鏡 (SEM) 成像原理: 與透射電鏡完全不同: ?高能電子轟擊樣品表面。激發(fā)各種信息。 ?二次電子、透射電子、俄歇電子、 X射線等。 ?不同的信息檢測器。 ?高真空狀態(tài)工作成像。 主要特點 : 分辯率遜色于透射電鏡數(shù)十倍。 樣品需要導電。 SEM 儀器圖片 SEM的優(yōu)點: 3. 掃描探針顯微鏡 (sanning probe microscopy) 掃描探針顯微鏡 ( SPM) 掃描力顯微( SFM) 掃描近場光學顯微境( SNOM) 彈道電子發(fā)射顯微鏡( BEEM) 原子力顯微鏡 AFM) 掃描隧道顯微鏡( STM) (1) 掃描隧道顯微鏡 (STM) ?上世紀 80年代初, IBM公司的賓尼博士和羅雷爾發(fā)明了隧道顯微鏡, 1986年他倆與發(fā)明電子顯微鏡的魯斯卡獲諾貝爾物理學獎。 ?工作原理:基于 量子的隧道效應 ,將原子尺度的極細探針和被研究物質(樣品)表面作為兩個電極,當探針與樣品之間非常接近(通常小于 1nm), 在外加電場的作用下,電子會穿過兩個電極的絕緣層從一極流向另一極 ,這種現(xiàn)象稱為隧道效應。 掃描隧道顯微鏡 (STM) 掃描隧道顯微鏡( STM)的特點: ? 。 ? ; ? 。 ? 、大氣、常溫等不同環(huán)境下工作;甚至水中。對樣品無損。 ? 。(配合掃描隧道譜)。 但是只能觀測 導體和半導體 的表面結構 掃描隧道顯微鏡觀察到砷化鎵表面砷原子的排列圖 1991年 IBM公司的 “ 拼字 ” 科研小組創(chuàng)造出了“ 分子繪畫 ” 藝術。這是他們利用 STM把一氧化碳分子豎立在鉑表面上、分子間距約 “ 分子人 ” 。這個 “ 分子人 ” 從頭到腳只有 5納米,堪稱世界上最小的人形圖案 1994年初,中國科學院真空物理實驗室的研究人員成功地利用一種新的表面原子操縱方法,通過 STM在硅單晶表面上直接提走硅原子,形成平均寬度為 2納米 (3至 4個原子 )的線條。從 STM獲得的照片上可以清晰地看到由這些線條形成的 “ 100”字樣和硅原子晶格整齊排列的背景。 (2 ) 原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscopy, AFM) 成像方式: 通過用隧道電流檢測 力敏元件的位移來實現(xiàn)力敏元件探針尖端原子與表面原子之間的排斥力的檢測,進而得到表面形貌像。 AFM的工作原理 在原子力顯微鏡( AFM)的系統(tǒng)中,使用 微小懸臂 來感測針尖與樣品之間的交互作用,這作用力會使懸臂擺動。 利用激光將光照射在懸臂的末端,當擺動形成時,會使反射光的位置改變而造成 偏移量 ,此時激光檢測器會記錄
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