【正文】 可以看到，提高過程能力的途徑有： 1）減少偏移量 k，使加工的平均值（ X）盡量靠近目標(biāo)值（ M）； 2）必要時(shí)進(jìn)行技術(shù)改進(jìn)，減小標(biāo)準(zhǔn)偏差 s； 提高設(shè)備精度，散差減?。? 提高材料的均勻性； 提高加工者的水平。 3）設(shè)計(jì)不合理時(shí)，可適當(dāng)放大公差范圍 T。 過程性能指數(shù)與過程能力指數(shù)： 在 QS9000中提出了過程性能指數(shù)（ Pp， Ppk）的新概念，過程性能指數(shù)又稱為長(zhǎng)期過程能力指數(shù)，而過程能力指數(shù)（ Cp， Cpk）又稱為短期過程能力指數(shù)。 過程性能指數(shù)與過程能力指數(shù)的區(qū)別： 1）定義： 過程能力的研究 — 是以 從一個(gè)操作循環(huán) 中獲取的測(cè)量為基礎(chǔ)。這些數(shù)據(jù)用控制圖分析后作為判定該過程 在統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)下 運(yùn)行的依據(jù)，如果沒有出現(xiàn)特殊原因，可以計(jì)算過程能力指數(shù)；如果過程不是一個(gè)受控狀態(tài)，就要求采取解決造成變差的特殊原因的措施。 過程性能的研究 — 包括通過很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi)所進(jìn)行的測(cè)量，應(yīng)在足夠長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)收集數(shù)據(jù)，同時(shí)這些數(shù)據(jù)應(yīng)能包括所有能預(yù)計(jì)到的導(dǎo)致變化的原因。過程性能指數(shù)不要求過程穩(wěn)定，即過程輸出不要求服從正態(tài)分布，因此長(zhǎng)期收集的數(shù)據(jù)可能有各種波動(dòng)。 過程性能指數(shù)（ Pp， Ppk）主要用于：反映系統(tǒng)當(dāng)前的實(shí)際狀態(tài)。 2）標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ的估計(jì)不同 短期過程能力指數(shù) σST可以按以下的公式計(jì)算： 長(zhǎng)期過程能力指數(shù) σLT ，只能通過樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差 S獲得，即對(duì)各個(gè)時(shí)間段收集數(shù)據(jù)，計(jì)算 S：把各個(gè)時(shí)間段內(nèi)收集的數(shù)據(jù)按順序編號(hào)： 1)( 2??? ?nxx iLT?（當(dāng)正態(tài)分布時(shí)） 2? dRST ??4? CsST ??1)( 2???nxxs i常用控制圖的介紹 控制圖 — 是對(duì)過程質(zhì)量特性值進(jìn)行測(cè)量，記錄，評(píng)估，從而監(jiān)控過程是否處于控制狀態(tài)的一種用統(tǒng)計(jì)方法設(shè)計(jì)的圖。 — 是用于區(qū)分由異?；蛱厥庠蛩鸬牟▌?dòng)和過程的正常質(zhì)量波動(dòng)的一種統(tǒng)計(jì)工具。 一、控制圖的原理： 以 177。 3σ原理為依據(jù)，決定控制圖的控制界限。 控制圖的發(fā)明者 — 美國(guó)貝爾實(shí)驗(yàn)室的休哈特博士認(rèn)為對(duì) 100%的質(zhì)量數(shù)據(jù)實(shí)施質(zhì)量控制是不可能實(shí)現(xiàn)的，在 μ177。 3σ范圍內(nèi)包含全部質(zhì)量數(shù)據(jù)的%，是絕大部分，如果能夠?qū)⑦@ %的質(zhì)量數(shù)據(jù)控制住，過程就基本上實(shí)現(xiàn)了受控。 休哈特博士將過程處于穩(wěn)定受控狀態(tài)時(shí)質(zhì)量數(shù)據(jù)所形成的典型分布的 μ177。 3σ范圍內(nèi)的正態(tài)分布曲線轉(zhuǎn)換為控制圖?？刂茍D中設(shè)有三條界限，以控制質(zhì)量特性實(shí)際分布（典型分布）的分布中心 μ為控制中心線（ CL），以 μ+3σ為控制上界限（ UCL），以 μ3σ為控制下界限（ LCL）。 兩類錯(cuò)誤。 1）第一類錯(cuò)誤 (α)：把正確當(dāng)成不正確，在控制圖中體現(xiàn)為虛發(fā)警報(bào)。 2）第二類錯(cuò)誤 (β)：把不正確當(dāng)成正確，在控制圖中體現(xiàn)為漏發(fā)警報(bào)。 因?yàn)樵谌魏螘r(shí)候，這兩種錯(cuò)誤都是不能完全避免的。由右圖所示可知當(dāng)以 3σ作為控制界限時(shí)，控制圖應(yīng)用中所犯錯(cuò)誤所造成的損失最小。 損失最小 控制界限幅度 損失 兩類錯(cuò)誤的總損失 第一類錯(cuò)誤的損失 第二類錯(cuò)誤的損失 σ 2σ 3σ 4σ 5σ 以小概率事件原理為理論依據(jù)，對(duì)過程的異常情況進(jìn)行判斷。 小 概率事件原理又稱為小概率事件不發(fā)生原理，其數(shù)字定義是：若事件 A發(fā)生的概率很小 (如 )，現(xiàn)經(jīng)過一次（或少數(shù)次）試驗(yàn)，事件 A居然發(fā)生了，就有理由認(rèn)為事件 A的發(fā)生是異常。 控制圖的判斷準(zhǔn)則：控制圖對(duì)過程異常的判斷準(zhǔn)則包括點(diǎn)子超界和點(diǎn)子在界限內(nèi)排列不隨機(jī)兩大類。 1） 1個(gè)點(diǎn)子落在 A區(qū)外； 2）連續(xù) 9點(diǎn)落在中心線同一側(cè)； 3）連續(xù) 6點(diǎn)遞增或遞減（趨勢(shì)）； 4）連續(xù) 14個(gè)點(diǎn)子中相鄰點(diǎn)子上下交替； 5）連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)落在中心線同一側(cè)的 B區(qū)以外； 6）連續(xù) 5點(diǎn)中有 4點(diǎn)落在中心線同一側(cè)的 C區(qū)以外； 7）連續(xù) 15點(diǎn)落在中心線兩側(cè)的 C區(qū)之內(nèi)； 8）連續(xù) 8點(diǎn)落在中心線兩側(cè)且無一點(diǎn)在 C區(qū)內(nèi)。 CBACL1 σ2 σ3 σ二、常用控制圖的分類： 按用途可分為： 1）分析用控制圖： 對(duì)已經(jīng)完成的過程或階段進(jìn)行分析，以評(píng)估過程是否穩(wěn)定或確認(rèn)改進(jìn)效果。 2）控制用控制圖： 對(duì)正在進(jìn)行中的過程，邊進(jìn)行邊實(shí)施質(zhì)量控制，以保持過程的穩(wěn)定受控狀態(tài)。 控制圖的控制功能是控制過程處于正常狀態(tài)時(shí)質(zhì)量數(shù)據(jù)所形成的典型分布。因此，對(duì)過程實(shí)施控制之前首先應(yīng)用分析用控制圖對(duì)欲控制的過程實(shí)施診斷，當(dāng)確認(rèn)過程是處于穩(wěn)定受控狀態(tài)時(shí)，將分析用控制圖的控制界限延長(zhǎng)，轉(zhuǎn)化為控制用控制圖。 1 均值—標(biāo)準(zhǔn)偏差控制圖 xs 圖 不合格品率控制圖 p 圖2 均值—極差控制圖 xR 圖 不合格品數(shù)控制圖 pn 圖3 中位數(shù)—極差控制圖 MeR 圖 單位缺陷數(shù)控制圖 u 圖4 單值—移動(dòng)極差控制圖 xRs 圖 缺陷數(shù)控制圖 c 圖計(jì)量值 計(jì)數(shù)值按被控制對(duì)象可分為： x 圖 R 圖 異常判斷μ不變 σ不變 不報(bào)警 不報(bào)警 過程正常μ變 σ不變 報(bào) 警 不報(bào)警 分布中心偏移μ不變 σ變 不報(bào)警 報(bào) 警 標(biāo)準(zhǔn)偏差增大μ變 σ變 報(bào) 警 報(bào) 警分布中心偏移同時(shí)標(biāo)準(zhǔn)偏差增大圖別與判斷過程狀態(tài)計(jì)數(shù)值控制圖只需要控制質(zhì)量數(shù)據(jù)的分布中心，就可以在達(dá)到過程受的目的。因?yàn)樵谟?jì)數(shù)值數(shù)據(jù)中分布與標(biāo)準(zhǔn)偏差是相關(guān)數(shù)據(jù)，只要控制其分布中心，其標(biāo)準(zhǔn)偏差同時(shí)受控。因此只有一個(gè)控制圖。 計(jì)量值控制圖必須兩圖聯(lián)用。計(jì)量值數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布，其分布參數(shù) (特征值 )μ、 σ是各自獨(dú)立的不相關(guān)數(shù)據(jù)，必須分別加以控制。如： x圖、 Me圖、 x圖是用于控制分布中心 μ的。 s圖、 R圖、 Rs圖形是用于控制標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ的。 作分析用控制圖 計(jì)算 Cp或 Cpk 作控制用 控制圖 定期抽樣 打點(diǎn) 查明原因 調(diào)整過程 異常 異常 Cp、 Cpk≥1 N N Y 剔除異常點(diǎn)，重新 計(jì)算 (需查 k) k≥20 重新收集數(shù)據(jù) 使 k≥20 N Y 采取措施使 Cp、 Cpk ≥1 Cp、 Cpk≥1 N N Y 分析用控制圖與控制用控制圖的應(yīng)用 三、常用控制圖： （一）、 x（平均值）控制圖： x表示過程集中的位置， x圖表明過程的穩(wěn)定性，主要揭示組間出現(xiàn)的變差。 （二）、 R（極差）或 s（標(biāo)準(zhǔn)偏差）控制圖： R或 s表示過程的離散程度， R（ S）圖揭示組內(nèi)出現(xiàn)的變異，它是考察過程的一致性和均勻性。在過程控制中先分析過程的離散程度是穩(wěn)定后，再分析平均值。 離散程度有異常往往表明： 1）操作者技術(shù)不熟練，達(dá)不到操作標(biāo)準(zhǔn)要求，或者未遵守工藝規(guī)程； 2）設(shè)備嚴(yán)重?fù)p壞或精度不夠； 3）原材料的型號(hào)、規(guī)格、批次發(fā)生混淆。 1 2 3 4 5 1 2 3 4 51 14 2 15 3 16 4 17 5 18 6 19