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正文內(nèi)容

直流斬波電路的matlab建模與仿真畢業(yè)設(shè)計(已改無錯字)

2023-01-13 16:46:03 本頁面
  

【正文】 加電路,當超過規(guī)定電壓值時,自動開通附加電路,使過電壓通過附加電路形成通路,消耗或儲存過電壓的電磁能量,從而是過電壓的能力不會加到電力電子器件上,從而 達到保護的目的。保護電路的形式很多,也很復雜。 1)外部出現(xiàn)負載過大、交流電源電壓過高或過低、缺相時引起的過電流。 2)電力電子變換器內(nèi)部某一器件擊穿或短路、線路絕緣老化失效、直流側(cè)短路、可逆?zhèn)鲃酉到y(tǒng)產(chǎn)生環(huán)流或逆變失敗引起的過電流。 3)控制電路、觸發(fā)電路、驅(qū)動電路的故障或干擾信號的侵入引起的誤動作所引起的過電流 4)配線等人為的錯誤引起的過電流。 13 由于電力電子器件的電流過載能力比一般電氣設(shè)備差很多,因此,必須對變換器進行適當?shù)倪^電流保護。變換器的過電流一般主要分為兩類:過載過電流和 短路過電流。 過電流保護可以采用交流進線電抗器、電流檢測裝置和直流過流繼電器、快速熔斷器等方法。 dtdu/ 的原因 晶閘管的 PN 結(jié)存在著結(jié)電容,在阻斷狀態(tài)下,當加在晶閘管上的正向電壓上升率 dtdu/ 較大時,就會有較大的充電電流流過結(jié)電容,起到觸發(fā)電流的作用,使晶閘管誤導通,所以要限制電壓上升率 dtdu/ 。 dtdu/ 的原因 1)由電網(wǎng)侵入的過電壓 2)由于電力電子器件換相時產(chǎn)生的 dtdu/ 7. 限制電流上升率 dtdi/ 的原因 晶閘管在導通瞬間,電流集中在門極附近,隨著時間的推移,導通區(qū)才逐漸擴大,直到全部結(jié)面導通為止。在剛導通時,如果電流上升率 dtdi/ 較大,會引起門極附近過熱,造成晶閘管損壞,所以要限制電流上升率 dtdi/ 。 8. 變換器中產(chǎn)生過大的 dtdi/ 的原因 1)電力電子器件從阻斷到導通期間,主電路電流增長過快。 2)交流側(cè)電抗小或交、直流側(cè)阻容吸收裝置電容量過大,當電子電子器件導通時,流過過大的附加電容的充、放電電流。 3)與電力電子器件并聯(lián)的緩沖保護電路在晶閘管開通時的放電電流。 14 過電壓保護電路: 本次設(shè)計的電路要求輸出電壓為 20V— 80V,所以當輸出電壓設(shè)定時,一旦出現(xiàn)過電壓,為了保護電路和器件,應(yīng)立刻將電路斷開,及關(guān)斷 IGBT 的脈沖,使電路停止工作。因為芯片 SG3525 的引腳 10端為外部關(guān)斷信號輸 入端,所以可以利用 SG3525的這個特點進行過壓保護。當引腳 10 端輸入的電壓等于或超過 8V 時,芯片將立刻鎖死,輸出脈沖將立即斷開。所以可以從輸出電壓中進行電壓取樣,并將取樣電壓通過比較器輸入 10 端,從而實現(xiàn)電壓保護。 如圖 6所示:取樣電壓的方法是在 U。端串聯(lián)兩個電阻再通過在電阻中分得的電壓連入比較器的正端,與連入負端的基準電壓( 5V)進行比較。正常狀態(tài)下,取樣電壓小于基準電壓,此時比較器輸出的是負的最大值,芯片正常工作,當出現(xiàn)過電壓時,取樣電壓高于基準電壓,此時輸出高電平 15V,在通過電阻分壓得到 5V 的高電 平送入芯片的 10端,使其鎖死, IGBT 脈沖斷開,電路斷開,從而對電路實現(xiàn)過壓保護。 設(shè)計的過壓保護電路圖如圖 8所示: 圖 8 過壓保護電路原理圖 接入 SG3525 的 10 端 取樣電壓 15 過電流保護電路 本次設(shè)計要求具有過流保護功能,在電流達到 6A時動作 。如前所述, SG3525 的引腳 10 端在輸入一個高電平時具有自鎖功能,所以仍然可以利用這個方法進行過流保護。主要思想是將過電流轉(zhuǎn)化為過電壓。具體的做法是在干路上串聯(lián)一個很小的電阻,再在這個小電阻上并聯(lián)一個大電阻,從而進行過電流與過電壓的轉(zhuǎn)化。將轉(zhuǎn)化的電壓連入比較器和一個基準電壓 (取 )相比較,就是在基準 經(jīng)過電阻分壓得到 ,再將輸出經(jīng)降壓后得到 5V 后連入 SG3525 的 10 端。在正常狀態(tài)下連入的電壓小于基準電壓,此時,輸出一個負的最大值,芯片不會鎖死,正常工作。而當過電流時,轉(zhuǎn)化的電壓高于基準 電壓,此時輸出一個高電平,芯片的 10 端鎖死, IGBT 脈沖斷開,電路斷開,從而對電路實現(xiàn)過流保護。 設(shè)計的過流保護電路如圖 9所示: 圖 9 過電流保護原理電路圖 IGBT 的保護 IGBT 如果不采取保護,它很容易損壞。一般認為 IGBT 要原因有兩種:一是 IGBT退出飽和區(qū)而進入了放大區(qū),使得開關(guān)損耗增大;二是 IGBT 發(fā)生短 路,產(chǎn)生很大的瞬態(tài)電流,從而使 IGBT 損壞。下面是對 IGBT 進行設(shè)計的保護電路。 RC 串聯(lián)電路可以對 IGBT 進行過電壓保護,而反向二極管可以對 IGBT 進行過電流保護。在無緩沖電路的情況下, IGBT 開通時電流迅速上升, di/dt 很大;關(guān)斷時過流 保護輸入 接入SG3525的10端 16 du/dt 很大,并出現(xiàn)很大的過電壓。在有緩沖電路的情況下; V 開通時 C5 通過 R34向 V 放電,使 ci 先上一個臺階,以后因有 iL , ci 上升速度減慢; V 關(guān)斷 時負載電流通過 VD 向 C5 分流,減輕了 V的負擔,抑制了 du/dt 過電壓。 VD 和 R34 的作用是在 V 關(guān)斷時,給 iL 提供釋放儲能的回路。如圖 11 所示: 圖 11 IGBT保 護電路 6 Matlab 仿真與分析 主電路的建模 建模步驟如下: ,命名為 Buck。 ,分別復制 IGBT 模塊、二極管 D模塊到 Buck 模型窗口中,按要求設(shè)置 IGBT 的參數(shù)。 ,復制電壓源模塊 DC Voltage source 到 Buck 模型窗口中,打開參數(shù)設(shè)置對話框,設(shè)置電壓為 100V。 ,復制一個并聯(lián) RC元件組模
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