spc講義(new)(已改無錯(cuò)字)
2023-03-11 07:43:01 本頁面
【正文】 追查原因 ,制定標(biāo)準(zhǔn) ,使同樣原因不在發(fā)生 ,然后將異常點(diǎn)去除后依上述步驟重新計(jì)算管制界限 .C. 點(diǎn)在管制界限上時(shí) ,亦視同超出界外的點(diǎn) .管控圖界限檢討 :* Page:50/70A. 綠區(qū) : 管控點(diǎn)位于 MCL線以下則安心生產(chǎn) .B. 雙黃 : 連續(xù)兩點(diǎn)位于 MCL與 UCL線之間 ,則品檢員需通知生產(chǎn)單進(jìn)行 原因追查 ,并將結(jié)果記錄于管控圖 “ 異常原因追查 ” 欄 .C. 一紅 : 有一點(diǎn)位於 UCL線之上 ,則品檢員需開出制程異常連絡(luò)單交 由生產(chǎn)單位處理 ,由生產(chǎn)單位尋找原因提出改善對(duì)策 .當(dāng)異 常非生產(chǎn)單位所能對(duì)策范圍時(shí) ,生產(chǎn)單位可視實(shí)際狀況 ,請(qǐng) QE協(xié)助處理 . 圖象判讀 :* Page:51/70Cp Cpk 制程能力與制程能力指數(shù)概念* Page:52/70評(píng)定制程狀況的幾個(gè)定義LSL(下限 ):Lower Spec LimitUSL(上限 ):Upper Spec LimitTarget Value(目標(biāo)值 ) T(公差 ) Mean(平均值 )Std Dev(標(biāo)準(zhǔn)差 ):Standard Deviation ═ σ (Sigma)雙向 Cp的計(jì)算 :Cpl=(MeanLSL)/3 σCpu=(USLMean)/3 σCp =(USLLSL)/6S: Potential Process Capability RatioCpk =Min(Cpl,Cpu) =Cp*(1Ca) : Process Capability Index2∣ Mean － Target Value∣T制程準(zhǔn)確度 Ca=* Page:53/70評(píng)定制程狀況的幾個(gè)定義單向公差要求 Cp的計(jì)算方法 :只有下限要求的 Cp值 :Cpl=(MeanLSL)/3 σ只有下限要求的 Cp值 :Cpu=(USLMean)/3 σ* Page:54/70準(zhǔn)確度 Ca 精密度 Cp 精確度 CPkCa/Cp/CPk之間的概念關(guān)係Cpk=Cp(1Ca)* Page:55/70評(píng)定制程狀況的幾個(gè)定義Cpk定義 (Definition)Remark:當(dāng)我們考量 Cp時(shí) ,是假設(shè) Spec之中心點(diǎn) (Target Value)與實(shí)際制程能力曲線之中心點(diǎn) (Mean)是一致的 . 這是一個(gè)理想情形 ,但實(shí)際上制程能力曲線是因某些制程條條件而產(chǎn)生飄移 (Target≠ Mean).所以會(huì)產(chǎn)生一個(gè) Correlation factor(Ca).Cpk Cp*(1Ca)= Target Process Mean 1/2 TCa =* Page:56/70評(píng)定制程狀況的幾個(gè)定義Cp定義 (Definition)Cp T USL – LSL 6 σ 6 σ=LSL Spec Width USLProcess Width=* Page:57/70評(píng)定制程狀況的幾個(gè)定義Cpk檢討由左圖定義 :Process Mean = x。Target Process Mean = D x =d1 Target Process Mean 1/2 T∴ Ca = d1/d2 (0≦ k1)∴ Cpk = Cp (1k) Cpk = Cp (1d1/d2) Cpk = Cp (d2d1)/d2 Ca =LSL (Target) USL d2=1/2Td1=偏心量圖示不良品xDCpk與 Cp* Page:58/70評(píng)定制程狀況的幾個(gè)定義Cpk與不良率 Spec width = 6σ D=x時(shí) Cp=Cpk= 不良率為 % Spec width = 6σ Dx=σ時(shí) Cpk== 不良率為 % Spec width = 6σ Dx=3σ時(shí) Cpk=0 不良率為 50%Cpk與 pLSL D USLX6σLSL D X USL%X6σLSL D USLX6σ50%%%* Page:59/70 Cpk使用時(shí)機(jī)Use of CpCpkCpk與制程穩(wěn)定性Cpk and Normality?Cpk顯示制程之現(xiàn)有制程能力?Cpk可用來推算制程之 不良率?Cpk可用來作持續(xù)改進(jìn)之計(jì)劃?Cpk是表示一制程的制程能力?Cp可用來作快速推算與理想制程能力之差距? 對(duì)於雙邊的規(guī)格 ,Cp和 Cpk應(yīng)同時(shí)考量? 當(dāng)我們應(yīng)用 SPC來控制某一制程 ,而該 制程也程現(xiàn) Under control這時(shí)的 Cpk才有意義 .?Cpk對(duì)於 OUTOFCONTROL之制程 ,其 Cpk值是沒有意義和甚至發(fā)生誤導(dǎo)? 對(duì)於 Cpk及 Cp之定義 ,其必要條件之一 為 “ 制程之 Cpk品質(zhì)特性必須為常態(tài)分配 ” 故此 ,如果不清楚制程相關(guān)數(shù)據(jù)是否為常 態(tài)分配 ,我們必須做 “ Test for normality”* Page:60/70CPK與常態(tài)Cpk檢討*曲線 1是個(gè)常態(tài)分配*曲線 2是個(gè)
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