【正文】 c5 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 控制圖的判定方法 l 正常點子之動態(tài)之控制圖，如圖一。 1. 多數(shù)的點子，集中在中心線附近，且兩邊對稱。 2. 少數(shù)的點子，落在控制界限附近。 3. 點子之分布呈隨機狀態(tài)，無任何規(guī)則可尋。 4. 沒有點子超出控制界限外 (就是有也很少 )。 37 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 控制圖的判定方法 l 不正常點子之動態(tài)之控制圖 1. 在中心線附近無點子。 此種型態(tài)通常稱之為“混合型”，因樣本中可能包括兩種 群體，其中一種偏大，另一種偏小，如圖二。 2. 在控制界限附近無點子。 此種型態(tài)通常稱之為”層別型”，因為原群體可能已經(jīng)加 以檢剔過，如圖三。 3. 有點子逸出控制界限之現(xiàn)象。 此種型態(tài)通常稱之為”不穩(wěn)定型”，如圖四。 38 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 39 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 A、 控制圖的判讀法 控制圖之不正常型態(tài)之鑒別是根據(jù)概率之理論而加以判定的 ， 當(dāng)出現(xiàn)下述之一項者 ，即為不正常之型態(tài) ， 應(yīng)調(diào)查其可能出現(xiàn)的原因 。 40 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 檢定規(guī)則 1： 3點中有 2點在 A區(qū)或 A 區(qū)以外者 (口訣 :3分之 2A) 檢定規(guī)則 2： 5點中有 4點在 B區(qū)或 B 區(qū)以外者 (口訣 :5分之 4B) 41 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 檢定規(guī)則 3： 有 8點在中心線之兩側(cè)，但 C區(qū)并無點子者。 （口訣： 8缺 C） 42 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 檢定規(guī)則 4： (1)連續(xù)五點繼續(xù)上升 (或下降 )－注意以后動態(tài)。（如圖 a） (2)連續(xù)六點繼續(xù)上升 (或下降 )－開始調(diào)查原因。 (如圖 b ) (3)連續(xù)七點繼續(xù)上升 (或下降 )－必有原因，應(yīng)立即采取措施。 (如 圖 c ) 43 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 檢定規(guī)則 5：點子出現(xiàn)在中心線的單側(cè)較多時 ， 有下列狀況者 a. 連續(xù) 11點中至少有 10點 b. 連續(xù) 14點中至少有 12點 c. 連續(xù) 17點中至少有 14點 d. 連續(xù) 20點中至少有 16點 檢定規(guī)則 6：點出現(xiàn)在控制圖界限的近旁時 一般以超出 2σ控制界限的點為調(diào)整基準(zhǔn) ， 出現(xiàn)下列情形時 ， 可判定過程發(fā)生異常 a. 連續(xù) 3點中有 2點以上時 b. 連續(xù) 7點中有 3點以上時 c. 連續(xù) 10點中有 4點以上時 44 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 SPC應(yīng)用所遇到的困難 1. 少量多樣之生產(chǎn)型態(tài) ， 不勝控制 。 2. 控制計劃不實際 ， 無法落實 。 3. 使用 SPC前未作充分準(zhǔn)備 。 例如：過程及控制特性之確定 ， 決定測量方法 ， 數(shù)據(jù)如何收集等 。 4. 欠缺統(tǒng)計技術(shù) 。 5. 統(tǒng)計計算太過繁瑣費時 。 6. 測量數(shù)據(jù)之有效數(shù)字位數(shù)未標(biāo)準(zhǔn)化 。 7. 管理階層不支持 。 53 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 SPC能解決之問題 ：有效的抽樣控制 ， 不用全數(shù)檢驗 ， 不良率和成本得 以控制 。 使過程穩(wěn)定 ， 能掌握質(zhì)量 、 成本與交期 。 ：過程的異常趨勢可實時對策 ， 預(yù)防整批不良 ,以減 少浪費 。 ：作為局部問題對策或管理階層系統(tǒng)改進之參 考 。 ：估計機器能力 ， 可妥善安排適當(dāng)機器生產(chǎn)適 當(dāng)零件 。 5 .改善的評估：過程能力可作為改善前后比較之指南 。 54 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力分析 （精密度， Precision） CP ＝ T/6σ （雙邊規(guī)格） CP ＝ （ Su－ ） / 3σ 或 （ － SL） / 3σ （單邊規(guī)格） （過程能力， Process Capability Index） Cpk ＝（ 1－ │ Ca│ ） Cp；（ Su－ ） / 3σ or（ － SL） / 3σ (取最小的數(shù)值 ) X XX X55 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力分析 P↓ （綜合評價） (1) ZU ＝ 3Cp（ 1＋ Ca）超出下限 PU% ZL ＝ 3Cp（ 1－ Ca）超出上限 PL% P% ＝ PU％ ＋ PL% 總不良率 (2) ZU ＝（ SU－ ） /σ ， ZL ＝（ SL－ ） /σ (1) ：過程平均值 (3) T ：公差 (2) σ ：過程標(biāo)準(zhǔn)差 (4) Sc：規(guī)格中心 XX X56 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 例：某產(chǎn)品的電性規(guī)格是 560177。 10 m/m， 經(jīng)檢驗一批 后 ,得出 177。 3σ 為 561177。 9 m/m。 求： (1) Cp (2) Cpk (3) P% 57 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力等級判斷及處置建議－ Cp 等級 Cp過程精密度 Capability of precision 處置建議 A ≦Cp (T=8σ ) 此一過程甚為穩(wěn)定 ， 可以將規(guī)格許容差縮小或勝任更精密之工作 。 B ≦Cp ＜ (T=6σ ) 有發(fā)生不良品之危險 ， 必須加以注意 ， 并設(shè)法維持不要使其變壞及迅速追查原因 。 C ≦Cp ＜ (T=5σ ) 檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn) ， 可能本過程不能勝任如此精密之工作 。 D Cp＜ 應(yīng)采取緊急措施 ， 全面檢討所有可能影響之因素 ， 必要時應(yīng)停止生產(chǎn) 。 59 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力等級判斷及處置建議－ Cpk 等級 Cpk過程能力指數(shù) Process Capability Index 處 置 建 議 A ≦Cpk 過程能力足夠 B ≦Cpk ＜ 過程能力尚可 ， 應(yīng)再努力 。 C Cpk＜ 過程應(yīng)加以改善 。 60 Edited by Mr. jose lee spc 統(tǒng)計過程分析 過程能力等級判斷及處置建議－ P% 等級 P%（綜合評價） 處置建議 A P≦ % 穩(wěn)定 B