ts16949—統(tǒng)計技術(shù)控制程序(已改無錯字)
2022-08-10 20:46:29 本頁面
【正文】 為了持續(xù)穩(wěn)定生產(chǎn)出合格產(chǎn)品，監(jiān)控過程變差，評估過程能力。 應(yīng)用于過程開發(fā)、試驗設(shè)計、外協(xié)件質(zhì)量評定、現(xiàn)場過程控制和過程優(yōu)化、最終檢驗狀況統(tǒng)計。、分析和管理，并負(fù)責(zé)基礎(chǔ)統(tǒng)計概念知識的培訓(xùn)。(APQP)過程中明確每一過程適用的統(tǒng)計工具，并在控制計劃中明確規(guī)定。a)在過程開發(fā)和試驗設(shè)計中可以選擇下列統(tǒng)計技術(shù)：方差分析；試驗設(shè)計(DOE)；FMEA；故障樹分析(FTA)；b)對外協(xié)件的質(zhì)量檢驗進(jìn)行分析評定可以采用如下統(tǒng)計技術(shù)：統(tǒng)計抽樣技術(shù)；缺陷收集卡；排列圖分析；c)應(yīng)用于現(xiàn)場的過程控制和過程優(yōu)化的統(tǒng)計技術(shù)方法可以選擇：統(tǒng)計過程控制；統(tǒng)計抽樣技術(shù)；缺陷收集卡；排列圖；方差分析；回歸分析；試驗設(shè)計；d)對最終的質(zhì)量檢驗進(jìn)行分析評定時可以采用如下統(tǒng)計技術(shù)：抽樣計劃；缺陷收集卡；排列圖；e)使用于產(chǎn)品使用過程中的失效分析評定可以如下：缺陷收集卡排列圖分析概率紙 SPC的應(yīng)用統(tǒng)計過程控制的具體操作可以參見《Statistical Process Control統(tǒng)計過程控制參考手冊》，在SPC數(shù)據(jù)采集
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