【正文】
+ , m = 20000+ (1000)= 22056. m = 22056 21846 = 210s(xbar) = s/() = 1000/4 = 2502% below LL =20000Distribution curve for individual valuesWith 2% below L, m =22056Min. allowable=21846% the of the distribution fall above min. allowable . This give the probability of acceptance of a 2% defective lot.Distribution curve for values from samples of 16 The value 210 is (xbar). Thus % of a normal distribution is above the value m . It follows that the probability of acceptance is , or approximately . 范例2:變異未知之標準差法(1) 單邊規(guī)格界限形式2(需估計送驗批不合格品率) 承上題:(U)/s = QU = 224。pU = %最大允收不合格品率MU = %;故允收。范例3:變異未知之標準差法(1) 單邊規(guī)格界限形式1(不需估計送驗批不合格品率)LUMLK※ 指定規(guī)格下限:(L)/s 179。 K 允收判定UUML范例7:變異未知之標準差法(2) 雙邊規(guī)格界限上、下限同一AQL值指定規(guī)格上限:(U)/s = QU、(L)/s = QL;p = pL+ pU 允收判定p 163。 M (M:最大允收不合格品率)題目:某器具之操作溫度,規(guī)定最低為180 176。F、最高為209 176。F、N=采IV級檢驗水平、正常檢驗、AQL=1%、n =5 (197176。、188176。、184176。、205176。、201176。此批允收否?n=5AOL=1%IV級、正常197s188195184U(U)/s 205209201L(L)/s 180經查QU =、QL = 224。 pU = %、pL = %、p=%,% < % (p 163。 M),予以允收。范例8:變異未知之標準差法(2) 雙邊規(guī)格界限上、下限不同一AQL值 承上題:規(guī)格上限AQL=1%、規(guī)格下限AQL=%。則經查QU = 、QL= 224。 pU = %、pL= %、p=%;MU = %、ML = % 224。% % (pU 163。MU);% % (pL163。ML);% % (p 163。ML)224。予以允收。(MU:超過U之最大允收不合格品率)(ML:低于L之最大允收不合格品率)范例9:變異未知之平均全距法(1) 單邊規(guī)格界限形式1(不需估計送驗批不合格品率)題目:某電器零件,規(guī)定其電阻最小值不得低于620W、N=100、采IV級檢驗水平、正常檢驗、AQL= %、n =10 (643,651,619,627,658,670,673,641,638,650)。此批允收否? ※ 指定規(guī)格上限:(U)/ 179。 K 允收判定※ 指定規(guī)格下限:(L)/ 179。 K 允收判定n=10(L)/64367037651673LK619641620627638658650647R1R23935< 224。 [(L)/ 163。 K] 224。Reject范例10:變異未知之平均全距法(1) 單邊規(guī)格界限形式2(需估計送驗批不合格品率) 承上題:QL= C(L)/n=10(L)/64367037651673LK619641620627638C658650647R1R2QL= C(L)/3935pL M%%% % 224。 M pL 224。Reject范例11:變異未知之平均全距法(1) 雙邊規(guī)格界限上、下限同一AQL值承上題:規(guī)定其電阻650 177