【正文】 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MILSTD105DⅡ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷 序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識是否與來料相符。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。 0. 2 V。4﹪）2. 穩(wěn)壓管滿負(fù)載連續(xù)工作2小時，溫升測試應(yīng)小于50℃3. 分別于100CM高度自由跌落三次，濕度達(dá)93%177。 0. 2 V。 帶負(fù)載能力，在電路里串入負(fù)載和電流表，調(diào)到電流為1A左右，測出其輸出電壓。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。2. 與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。4. （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。MI目測元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷。2. 將測試板放在日光燈下（距離很近），再用遙控器遙控，看其的抗干擾能力，接收距離＞3M。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。2. 與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。4. （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。接收距離L28m9mα＞30℃接收距離L34m6mα＞45℃載波頻率f038KHZ接收波長λp940nm高電平輸出電壓VH低電平輸出電壓VL擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號：WI/HV12020受控狀態(tài)：輕觸按鍵/防水按鍵修 改 頁：A第 20 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MILSTD105DⅡ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀標(biāo)識標(biāo)識是否與來料相符。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性從五個方向按下按鍵（垂直方向按下，左、右、前、后45度按下按鍵），用毫歐表測試其接觸電阻，應(yīng)小于150mΩ。2. 元件體側(cè)面受力大于3Kg無損傷。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。2. 與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。4. （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。＜100Mω絕緣電阻輸入100VDC電壓1分鐘,按以下接觸方法測試①接觸端子之間；②膠座體與挑腳之間。沒有絕緣破損異常。在端子中沒有裂開、松動等異常，滿足于機(jī)械電器性能可焊性試驗(yàn)端子頂部被浸入錫爐中1mm深處，溫度為230177。焊接面積要有75%以上。5℃,過爐時間為3177。5℃時間為3177。壽命試驗(yàn)無負(fù)荷：操作者以每分鐘60次的頻率，100000次無負(fù)荷測試。2． 其它應(yīng)滿足于機(jī)械、電氣性能。2℃中測試96小時后再放置正常室溫中1h來測定。耐冷試驗(yàn)放置溫度25177。擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號：WI/HV12021受控狀態(tài)：背光源修 改 頁：第 21 頁 共 53頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MILSTD105DⅡ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識是否與來料相符。MI目測黑點(diǎn)雜質(zhì)：Ф=(A+B)/2。Ф≤㎜允許2點(diǎn)，且相間距大于5㎜允收。寬度≤㎜，長度≤㎜ 不多于2條允收。Ф≤㎜半透點(diǎn)允許2點(diǎn)，且相間距大于5㎜允收。MA量規(guī)花狀斑紋：S≤22㎜半透塊一處，允收。MA游標(biāo)卡尺PCB封裝：要求選用雙面板。MA游標(biāo)卡尺擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號：WI/HV12021受控狀態(tài)：背光源修 改 頁：A第 21A 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MILSTD105DⅡ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀引出線及焊點(diǎn)：1． 采用優(yōu)質(zhì)膠質(zhì)30多股鍍鋅銅芯線。2． 采取穿孔反面焊接方式，正面焊接的則需加黃膠固定。2． 亮度：同一板面前后亮度一致性差別不大于10%，與封樣亮度相差不大于9%。CR穩(wěn)壓電源目測4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230177。MI烙鐵小錫爐5材料1． 所用材料與樣品相符。MA目測、對比樣品6包裝標(biāo)識1． 材料用料正確。3． 小包裝方式、數(shù)量無誤。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號：WI/HV12022受控狀態(tài)： 電解電容類修 改 頁：第 22 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MILSTD105DⅡ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷電解電容：序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，負(fù)極標(biāo)志、絲印標(biāo)識是否與來料相符。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。2. 施加額定電壓，用漏電流測試儀，施加額定電壓2分鐘/25℃ ，測出其漏電流，根據(jù)此電容種類漏電流標(biāo)準(zhǔn)I＜KCU判斷其是否合格。4. 常溫下測試其電容損耗角≤（）5. 將其入95℃105℃烘干箱或18℃以下冰箱內(nèi)2小時,取出測量容量470UF(2200 UF)177。CR晶體管測試儀電容測試儀萬用表穩(wěn)壓電源漏電流測試儀4可焊性使用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230177。MI烙鐵小錫爐5材料所用材料與樣品相符。MA目測、對比樣品6包裝標(biāo)識材料用料正確。裝箱方式、數(shù)量無誤。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號：WI/HV12022受控狀態(tài)： 電解電容類修 改 頁：第 22 A 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MILSTD105DⅡ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷電解電容參數(shù)項(xiàng) 目特性參照耐電壓 :Ur=25V(10V或16V)DC使用溫度范圍25℃+105℃電容量允許偏差177。以上參數(shù)只屬于CD110型號的電解電容。CMI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損。5倍。 在Ic=5A，Ib=，BU406的Vce≤ 1V，Vbe≤。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。 小包裝方式、數(shù)量無誤。 （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損。 耐壓測試（短接G、S極）測量DS電壓應(yīng)﹥650V。其余按常規(guī)檢測。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。 與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。 小包裝方式、數(shù)量無誤。 （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損。2用晶體管測試儀測量各類三極管的集發(fā)射極擊穿電壓VCEO≥50V，發(fā)射結(jié)反向耐壓VEBO≥5V。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。2與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。2小包裝方式、數(shù)量無誤。4（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損。2用晶體管測試儀測量各類三極管的集發(fā)射極擊穿電壓VCEO≥160V，發(fā)射結(jié)反向耐壓VEBO≥6V。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。2與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。2小包裝方式、數(shù)量無誤。4（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損。2用晶體管測試儀測量各類三極管的集發(fā)射極擊穿電壓VCEO≥50V，發(fā)射結(jié)反向耐壓VEBO≥5V。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。2與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。2小包裝方式、數(shù)量無誤。4（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損。2用晶體管測試儀測量各類三極管的集發(fā)射極擊穿電壓VCEO≥150V，發(fā)射結(jié)反向耐壓VEBO≥6V。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。2與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。2小包裝方式、數(shù)量無誤。4（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損。MA游標(biāo)卡尺3電性1． 按三極管的管腳排列把其插到晶體管測試儀測上，測出三極管的放大倍數(shù),β=150300.2． 用晶體管測試儀測量各類三極管的集發(fā)射極擊穿電壓VCEO≥30V，集基極擊穿電壓VCBO≥40V，發(fā)射結(jié)反向耐壓VEBO≥6V。5℃錫爐中，一次上錫面積大于85%。2與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。2小包裝方式、數(shù)量無誤。4（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。MI目測元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1．使用毫歐表測出繼電器的接觸電阻，阻值應(yīng)在 100mΩ以下。3． 用耐壓測試儀測量繼電器的觸點(diǎn)與觸點(diǎn)、觸點(diǎn)與線圈之間的電壓是否符合來料給定參數(shù)值。5． 使用絕緣電阻測試儀測出繼電器的強(qiáng)電端對外殼絕緣電阻，應(yīng)大于100MΩ。CR晶體管測試儀絕緣電阻測試儀毫歐表穩(wěn)壓電源4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230177。MI烙鐵小錫爐5材料1. 所用材料與樣品相符。MA目測、對比樣品6包裝標(biāo)識1. 材料用料正確。3. 裝箱方式、數(shù)量無誤。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號：WI/HV12030A受控狀態(tài)： 繼電器修 改 頁：第 30A 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MILSTD105DⅡ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷繼電器參數(shù)項(xiàng)目線圈額定電壓線圈電阻根據(jù)給定額定電壓參數(shù)所定吸合電壓 MAX釋放電壓 MIN絕緣電阻100MΩ (at500VDC)抗電強(qiáng)度觸點(diǎn)間(500700)V AC 1min 50/60HZ.觸點(diǎn)與線圈間1800V AC 1min 50/60HZ電氣壽命1*105次,頻率20次/分 機(jī)械壽命1*107次,頻率300次/分?jǐn)M制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號：WI/HV12031受控狀態(tài)：磁簧管（MKA14103AT值2025）修 改 頁：第 31 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MILSTD105DⅡ； MI：AQL=；MA：AQL= ；CR：AQL=0MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識是否與來料相符MI目測元件體引腳（鍍金）是否氧化，元件體是否損或刮傷,玻璃外觀、封裝是否破壞MI目測2尺寸外形尺寸是否符合產(chǎn)品工程圖。小包裝方式、數(shù)量無誤。（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230177。烙鐵 小錫爐4電性用LCR數(shù)字電橋測其電感量（見下表5）溫度范圍5℃～95℃內(nèi)測量電感量（著重測量95℃）CRLCR數(shù)字電橋5電 感 L30μH或33μH177。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。4. （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)容正確。20% 序號檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損或刮傷及脫漆現(xiàn)象。（見下表4）CRLCR數(shù)字電橋4主要技術(shù)參數(shù)電 感 L100μH177。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。4. （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識單內(nèi)