ts16949統(tǒng)計(jì)技術(shù)應(yīng)用控制程序-閱讀頁(yè)
2025-07-28 20:49本頁(yè)面
【正文】 ，子組的容量是恒定的，在過程研究初期，n?。础?，通常?。病导B續(xù)生產(chǎn)的制品。c) 足量的子組數(shù)可以確保發(fā)現(xiàn)變差的主要原因,一般情況下，一次過程研究的子組數(shù)等于一月的日期數(shù)，或包含的單値數(shù)大或等于1OO。 計(jì)算毎個(gè)子組的均値(Xbar)和極差(R)Xbar＝ X1＋X2＋．．．．＋Xｎ ‘ n R ＝ X(max)－X(min) 式中ｎ為子組容量。 X圖刻度范圍≧子組均値最大値與最小値差的２倍。 將均値X和極差R分別用標(biāo)點(diǎn)的形式畫在控制圖上。采集完一個(gè)研究過程的數(shù)據(jù)后(一月期)，計(jì)算控制線，并対超過控制線和不規(guī)則標(biāo)點(diǎn)的原因進(jìn)行分析改進(jìn)。再重新計(jì)算控制線，作為下月控制線，依此類推。除初始研究外，控制圖應(yīng)先標(biāo)有控制線?！ ?過程控制解釋 分析極差圖首先分析極差圖，將數(shù)據(jù)點(diǎn)與控制限相比確定超出控制限的點(diǎn)或非隨機(jī)分布的圖形或趨勢(shì)。b) 鏈的出現(xiàn)說明出現(xiàn)了非隨機(jī)的趨勢(shì)，存在特殊原因。一般情況，大約2/3的點(diǎn)應(yīng)落在離中心線周圍1/3的區(qū)域內(nèi)．明顯多于這個(gè)數(shù)或少于這個(gè)數(shù)是屬于不正常的。 分析均値圖 分析均値圖的方法基本同極差圖一樣，找出超出控制限的數(shù)據(jù)和非隨機(jī)的圖形與趨勢(shì)。 統(tǒng)計(jì)技朮的培訓(xùn)應(yīng)対相關(guān)人員進(jìn)行統(tǒng)計(jì)技朮培訓(xùn)，其內(nèi)容應(yīng)包括但不限于基本概念，如：變差、 過度
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