光探測(cè)器噪聲ppt課件-閱讀頁(yè)
2025-05-21 04:00本頁(yè)面
【正文】 1/f噪聲 一、產(chǎn)生原因： 這種噪聲是由于 光敏層的微粒不均勻 或 不必要的微量雜質(zhì)的存在 ，當(dāng)電流流 過(guò)時(shí)在微粒間發(fā)生微火花放電而引起的 微電爆脈沖。 它主要出現(xiàn)在大約 1KHz以下的低頻頻域， 而且與光輻射的調(diào)制頻率 f成反比，故稱 為低頻噪聲或 1/f 噪聲。 二、度量： 式中 接近于 2， 取 ， c是比 例常數(shù)。 一般說(shuō)，只要限制低頻端的調(diào)制頻率 不低于 1千赫茲，這種噪聲就可以防止。 二、度量： 式中 為器件的熱導(dǎo)， 為器件的 熱時(shí)間常數(shù)， 為器件的熱容， T為周圍 溫度。 溫度噪聲主要存在于熱探測(cè)器中。 噪聲分布 謝謝！
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