【正文】 ，它的振動周期叫做固有周期( )，在表面波所到范圍內(nèi)質(zhì)點振動軌跡為橢圓形( )，頻率越高，晶片越厚( )，移放到鋁上測定，該折射角將會變大( )，窄脈沖的縱向分辨力高，這是因為它的脈沖寬度小( )，其回波高度與探頭接收到的聲壓成正比( )，由探頭發(fā)射的超聲波強度也隨之增大，而頻帶范圍變小( )，其先決條件是基體金屬和覆蓋材料之間的聲速應(yīng)當相同或相近( )，聲能的傳播是由各質(zhì)點的位移連續(xù)變化來傳遞的。 ，上下表面質(zhì)點振動相位相同。( )（水除外），其聲速都隨著溫度的升高而減小。( )，聲強反射率與聲強透過率之和等于1。( )，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓。( )，聲壓往復(fù)透過率與聲強透過率在數(shù)值上相等。( )（如裂紋）厚度一定時，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。( )，才會有第三臨界角。( )，端角反射率總是很高的。）( )176。）( )，其半擴散角度大約是（176。則折射角約為（53176。 ( )，當遇到尺寸與波長相近似的障礙物時，將產(chǎn)生繞射現(xiàn)象( )、相位相同或相差一個固定值的超聲波束在同一介質(zhì)中傳播時，就有可能產(chǎn)生波的干涉現(xiàn)象( )，聲速決定于介質(zhì)的種類和波型，但蘭姆波的波速還決定于頻率與工件厚度的乘積( )，就波陣面而言，近聲源處可看作是平面波，離聲源較遠處可看作是球面波( )( )，就是質(zhì)點在其平衡位置上所作的往返運動( )，它是傳遞能量的一種形式( )、吸收、散亂三種( )，滿足正弦函數(shù)關(guān)系的一種運動( )( )( )( )( )=5900米/秒，CS鋼=3230米/秒，CL有機玻璃=2700米/秒，CS有機玻璃=1460米/秒，若在有機玻璃/鋼界面上出現(xiàn)一列速度近似為2907米/秒的波，則該波就是瑞利波( )=5900米/秒，CS鋼=3230米/秒，CL有機玻璃=2700米/秒，CS有機玻璃=1460米/秒，若在有機玻璃/鋼界面上出現(xiàn)一列速度近似為2907米/秒的波，則該波就是蘭姆波( )，若該薄層介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)具有相同的聲阻抗，則薄層厚度為四分之一波長的奇數(shù)倍時，聲壓反射率最大( )，若該薄層介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)具有相同的聲阻抗，則薄層厚度為二分之一波長的整數(shù)倍時，聲壓反射率最大( )，若該薄層介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)具有相同的聲阻抗，則薄層厚度為四分之一波長的奇數(shù)倍時，聲壓透過率最大( )，若該薄層介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)具有相同的聲阻抗，則薄層厚度為二分之一波長的整數(shù)倍時，聲壓透過率最大( )=Asin(ωt+Ψ)中,y為振動位移，A表示最大振幅，Ψ表示初位相( )，在波的傳播過程中，任意兩個相鄰的、相位相同的質(zhì)點之間的距離稱為一個波長( )，其反射波最高的是長橫孔( )，其反射波最高的是平底孔( )，則它們的分貝差為（20）dB( )，則對應(yīng)的回波高度比為4:1( )( )，確定探頭掃查速度時必須考慮儀器的脈沖重復(fù)頻率( ),只要是高頻的,在任何情況下均可互換使用( )深度細調(diào)旋鈕時,可連續(xù)改變掃描線掃描速度( )抑制旋鈕時,抑制越大,儀器動態(tài)范圍越大( )抑制旋鈕時,抑制越大,儀器動態(tài)范圍越小( )水平旋鈕,將會改變儀器的水平線性( )動態(tài)范圍時,應(yīng)將儀器的抑制,深度補償旋鈕置于關(guān)的位置( )( )( )( ),找到缺陷的最大回波,則缺陷正好位于直探頭中心的正下方( )( )(6dB)法主要適用于形狀較規(guī)則的長條形缺陷測長( )(6dB)法可以適用于任何類型的長條形缺陷測長( ),完成時基掃描線校正(俗稱定標)後,始波前沿應(yīng)落在水平刻度零點的左邊( ),完成時基掃描線校正(俗稱定標)後,始波前沿應(yīng)落在水平刻度零點的右邊( ),完成時基掃描線校正(俗稱定標)後,始波前沿應(yīng)恰好落在水平刻度零點上( ),始波前沿應(yīng)對準水平刻度的零位( ),即意味著該缺陷的實際面積就是Φ2mm的園面積大小( ),即意味著該缺陷的實際面積就是Φ3mm的園面積大小( ),即意味著該缺陷的反射回波與Φ2mm園面積的反射回波大小相當( ),即意味著該缺陷的反射回波與Φ6mm園面積的反射回波大小相當( ),即意味著該缺陷的反射回波與相同聲束截面下的Φ2mm橫通孔表面積的反射回波大小相當( ),即意味著該缺陷的實際大小就是等同于Φ2mm橫通孔表面積大小( ),即意味著該缺陷的實際截面形狀等同于Φ2mm橫通孔的橫截面形狀( )( )( ),幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過高( ),幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過低( ),幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中采用較高的探測頻率( ),幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中采用較低的探測頻率( ),脈沖重復(fù)頻率選擇太高是產(chǎn)生幻像波的重要原因之一( )，以絕對靈敏度法的靈敏度最高，因此測得的缺陷長度偏大( ),測長靈敏度高,測得的缺陷長度大( )( ),回波低的未必是小缺陷( ),常采用較小折射角的探頭,這是為了縮短聲程,減少聲路上的聲能衰減,提高探測靈敏度( ),如果復(fù)合界面有分層時其界面回波會降低( ),如果復(fù)合界面有分層時其界面回波會增高( )( )( )( )( )( )( )( )( )( )( )( ),當楔塊底面后部磨損較大時,其折射角將變小( ),當楔塊底面前部磨損較大時,其折射角將變小( ),探測頻率較高時,缺陷回波不易被探頭接收( ),依據(jù)缺陷的靜態(tài)波形可準確地判斷缺陷性質(zhì)( ),依據(jù)缺陷回波的靜態(tài)波形就已經(jīng)可以準確判斷缺陷的性質(zhì)( ),僅僅依據(jù)缺陷回波的靜態(tài)波形還不可以準確判斷缺陷的性質(zhì)( ),通常利用調(diào)整偏心距的方法來調(diào)節(jié)入射角( ),入射角的選擇通常是利用調(diào)整偏心距來實現(xiàn)的( ),入射角的選擇通常是利用調(diào)整水距來實現(xiàn)的( ),折射角的調(diào)整是通過調(diào)節(jié)水層距離實現(xiàn)的( )(t/D)＞,在用純橫波檢查縱向缺陷時,中心聲束會達不到管子的內(nèi)壁( )(t/D)＜,在用純橫波檢查縱向缺陷時,中心聲束會達不到管子的內(nèi)壁( ),( ),( ),屬于縱波垂直法探傷( ),屬于橫波探傷( ),鋼管內(nèi)外徑之比越大,入射角允許范圍越大( ),鋼管內(nèi)外徑之比越大,入射角允許范圍越小( ),鋼管內(nèi)外徑之比越小,入射角允許范圍越小( ),鋼管內(nèi)外徑之比越小,入射角允許范圍越大( ),應(yīng)從順,逆時針兩個方向各探傷一次( ),只需從一個方向探傷一次即可( ),水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗,改善透聲性( ),水中加入適量活性劑是為了改善水的潤濕性,減少附著在探頭和鋼管表面的氣泡( ),如鋼管中無缺陷,熒光屏上只有始波和界面波( )( )( )( )( ),對水層距離的要求是使第二次界面回波落在第一次底波之后,并且盡可能利用距離振幅曲線上的高聲壓區(qū)( ),有關(guān)缺陷的定性定量問題已經(jīng)解決( ),一般來說以縱波直探頭作徑向探測效果最佳( ),一般來說以斜探頭作周面弦向探測效果最佳( ),一般來說以斜探頭作周面軸向探測效果最佳( ),探頭應(yīng)作正反兩個方向掃查( ),只需作一個方向掃查即可( )( )( )( ),如底波明顯下降或消失而不是聲接觸不良引起時,說明鍛件中可能存在較嚴重的缺陷( )( )( ),擴散衰減和散射衰減( )( ),若探頭底面前部修磨量大,則探頭的入射角增大( ),若探頭底面后部修磨量大,則探頭的入射角增大( ),按照一定比例調(diào)整探傷儀掃描線的目的是為了方便確定缺陷位置( ),按照一定比例調(diào)整探傷儀掃描線的目的是為了方便確定缺陷大小( )( ),減少聲能損失( ),水距的選擇在任何情況下只要保證第二次界面回波落在第一次底面回波之后就可以了( ),使用的超聲檢測頻率應(yīng)當越高,耦合劑粘度應(yīng)當越稀( ),使用的超聲檢測頻率應(yīng)當越低,耦合劑粘度應(yīng)當越稠( ),交點離探測面距離越遠,覆蓋區(qū)越大( ),交點離探測面距離越遠,覆蓋區(qū)越大( ),可直接查得缺陷的實際聲程和當量尺寸( ),為防止探頭磨損和保護晶片,宜選用硬保護膜( ),其反射特點是多次回波總是等距離出現(xiàn)( ),唯有利用透聲斜楔使縱波傾斜入射到界面上( ),探傷面曲率半徑越大,耦合效果越好( ),探傷面曲率半徑越小,耦合效果越好( ),探傷面曲率越大,耦合效果越好( ),探傷面曲率越小,耦合效果越好( ),才能采用測長法確定缺陷長度( ),無法采用測長法確定缺陷長度( )(N=D2/4λ)的鍛件,采用超聲波檢測法測定材質(zhì)衰減系數(shù)時的基本公式是:X=[20lg(B1/B2)]/2S(注:式中N近場長度,D探頭晶片直徑,λ超聲波在材料中的波長,B1和B2分別為第一、二次底波高度,S工件厚度)( )，若熒光屏上同時存在底波和傷波,說明鋼板中存在小于聲束直徑的缺陷( ),通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷( ),不但要根據(jù)缺陷波情況，還要視底波變化情況來判定缺陷( ),可從母材一側(cè)探傷,也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷( ),當探頭作原位擺動或轉(zhuǎn)動時,波幅無明顯變化( ),對所發(fā)現(xiàn)的缺陷必須測量其指示長度是為了便于評價與返修( ),可以采用純橫波法檢測該管材內(nèi)外壁缺陷( ),檢測盲區(qū)越小,分辨率越低( )( ),相對傾角越大,焦距越短( ),相對傾角越小,焦距越長( ),相對傾角越大,焦距越長( ),相對傾角越小,焦距越短( ),和入射波束角度無關(guān)的人工反射體是U型缺口槽( ),和入射波束角度無關(guān)的人工反射體是V型缺口槽( ),和入射波束角度無關(guān)的人工反射體是平底孔( ),和入射波束角度無關(guān)的人工反射體是柱孔( ),和入射波束角度無關(guān)的人工反射體是橫孔( ),較適宜的方法是選用組合雙晶探頭( ),取向,表面粗糙度以及內(nèi)涵物等都會對缺陷回波高度有影響( )( )( )( )，但不能展示其深度( )( )( )，若遇到有游動訊號出現(xiàn)，則說明軸的內(nèi)部存在危險性缺陷( )，超聲波的散射會影響試驗結(jié)果( )，如果使用的重復(fù)頻率過高，在探測粗晶材料時會出現(xiàn)林狀回波( )，必須考慮儀器重復(fù)頻率對檢驗速度的影響( )，探頭掃查移動方向以垂直于鋼板壓延方向較好( )，探頭直徑增大時，缺陷波增高，但底波高度不變( )、前沿陡峭( )( )，所以管子探傷必須采用水浸聚焦方法( )，有時采用斜探頭進行探傷，有時則應(yīng)當采用直探頭進行探傷( )，可采用直探頭、組合雙晶探頭、斜探頭進行探傷( )，只有徑向缺陷才會產(chǎn)生游動信號( )，因此在鑄件的超聲波檢測中，檢測的重點應(yīng)放在澆冒口部位，其它部位可以不檢查或做一般性檢查( )( )，在檢測過程中探頭移動速度就可以不須限制( )( )( )( )，發(fā)射強度愈弱( )“延遲”旋鈕時，掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變( )，減少機械損耗( )，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍( )，熒光屏上的多次反射回波是等距離的( )，可先調(diào)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平10%，再進行測試( )“始波寬度”時，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大( )，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強度應(yīng)盡量調(diào)得低一些( )( )，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當降低( )( )，才能采用測長法確定缺陷長度( )，通常只根據(jù)缺陷波情況判別定缺陷( )，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大( )，亦可采用常規(guī)斜探頭作接觸法周向探傷( )，其跨距比同厚度平板大( )，裂紋等危害性缺陷的反射波幅總是很高的( )，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響( )，缺陷尺寸未必一定較大( )，僅表示鋼板中無當量超過調(diào)整起始靈敏度的基準平底孔的缺陷( )，說明鋼板中無缺陷( )，主要是用當量法測定的( )，在焊縫一側(cè)用全跨距探傷，可以掃查到整個焊縫截面，但仍然有必要從焊縫兩側(cè)探傷( )，表面粗糙的零件作超聲波檢測時，通常使用頻率較高的探頭和粘度較高的耦合劑( )，表面粗糙的零件作超聲波檢測時，通常使用頻率較低的探頭和粘度較低的耦合劑( )，在探測工件側(cè)壁附近的缺陷時，探傷靈敏度往往會明顯偏低( )，在探測工件側(cè)壁附近的缺陷時，探傷靈敏度往往會明顯偏高( )，常會發(fā)現(xiàn)小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高( )，小缺陷的多次反射回波中肯定第二次要比第一次低( )，還可以采用斜探頭接觸法( )初、中級無損檢測技術(shù)資格人員超聲檢測考題匯編問答題,如下圖所示在第一次底波與第二次底波之間前兩個遲到波各是什么波型?（前面為LLL波,后面為LSL波） 2．何謂超聲波？它有哪些重要特性？答：頻率高于20000Hz的機械波稱為超聲波。②超聲波的能量高。④超聲波穿透能力強。②要有能傳播超聲振動的彈性介質(zhì)（如受檢工件或試塊）。 ,第一次底波與第二次底波之間可見到有兩個遲到波,如下圖所示,請指出這兩個遲到波各是什么波型?（前面為LLL波,后面為LSL波） 5．一個探頭的標記為5I 20SJ 20DJ，試說明其中數(shù)字和字母的含義？答：5：頻率5MHZ；I：壓電晶片材料碘酸鋰單晶；20：圓晶片直徑20mm；SJ：水浸探頭；20DJ：點聚焦，水中焦距20mm 17