材料測試與分析技術(shù)課程教學(xué)大綱-閱讀頁
2024-11-12 08:48本頁面
【正文】 顯微鏡 電子束與與固體樣品作用時產(chǎn)生的信號 掃描電子顯微鏡的構(gòu)造和工作原理 掃描電子顯微鏡的主要性能 表面形貌襯度原理及其應(yīng)用 原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用 基本要求：本章要求全面掌握 第十三章 電子探針顯微分析 電子探針儀的結(jié)構(gòu)與工作原理 電子探針儀的分析方法及應(yīng)用 基本要求：本章要求全面掌握 四、實(shí)踐環(huán)節(jié) 實(shí)驗(yàn)： X 射線衍射儀的使用及物相分析 掃描電子顯微鏡 的 使用、 樣品形貌 分析 及能譜分析 ； 五、課外習(xí)題及課程討論 每章結(jié)束后應(yīng)布置 1～ 3 道課外習(xí)題，或進(jìn)行課程討論 六、教學(xué)方法與手段 課程教學(xué) 方法建議根據(jù)各章內(nèi)容不同，選擇采用 包括 課堂講解、多媒體輔助、錄像、實(shí)驗(yàn)、課堂討論等方式。學(xué)生的課程總評成績由平時成績（ 不超過 30%）和期末考試成績兩部分構(gòu)成，平時成績 由 實(shí)驗(yàn)成績 、 出勤、作業(yè)、學(xué)習(xí)主動性等 構(gòu)成 。 參考書：《 材料研究方法 》， 育銑煦 編著， 機(jī)械工業(yè)出版社 ， 2020 年。 《材料電子顯微分析》 ， 魏全金 編著， 冶金工業(yè)出版社 ， 1990 年。 二、本實(shí)驗(yàn)課程的基本理論與實(shí)驗(yàn)技術(shù)知識 隨著材料科學(xué)和材料分析技術(shù)的迅速發(fā)展，各種先進(jìn)的分析設(shè)備、分析儀器得到了日益廣泛的應(yīng)用，掌握現(xiàn)代分析儀器的使用方法也是現(xiàn)代材料類專業(yè)人才的基本技能。為將來從事分析、測試工作打下基礎(chǔ)。驗(yàn)證所學(xué)的科學(xué)知識、加深和鞏固對所學(xué)知識的認(rèn)識和了解。 四、實(shí)驗(yàn)主要儀器設(shè)備 D/maxB 型衍射儀（可根據(jù)實(shí)際條件選擇不同型號）， JEM200CX 型透射電子顯微鏡，JSM6700F 掃描電子顯微鏡。 2 綜合 1015 選做 注：選做實(shí)驗(yàn)可根據(jù)實(shí)驗(yàn)情況開設(shè) 。實(shí)驗(yàn)報告由實(shí)驗(yàn)原理、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及數(shù)據(jù)的記錄及處理組成，并附有實(shí)驗(yàn)原始記錄。 九、其他說明 大綱制訂人：賀顯聰 大綱審定人：蔡璐 制訂日期： 2020 年 4 月
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