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電子顯微鏡第六章x射線顯微分析和俄歇能譜分析-閱讀頁

2025-02-04 09:04本頁面
  

【正文】 低 高 峰背比 (WDS/EDS) 10 1 定性分析 ? 點分析 :將電子束固定在所要分析的點上 , 對此點內(nèi)的元素進(jìn)行定性分析 。 合金鋼基體成分的波譜儀定點分析結(jié)果 ? ? 線分析: 電子束沿樣品表面選定的直線軌跡進(jìn)行掃描時 , 能獲得元素含量變化的線分布曲線 。 鑄鐵中硫化錳夾雜的線掃描分析 a) S的線分析 b) Mn的線分析 ? 面分析: 電子束在樣品表面掃描時 ,以某一元素的特征 X射線的信號強(qiáng)度調(diào)制陰極射線管熒光屏的亮度 , 該元素在試樣表面的質(zhì)量分?jǐn)?shù)分布就能在熒光屏上以亮度分布顯示出來 ( 定性分析 ) 。 ZnOBi2O3陶瓷燒結(jié)表面的面分布成分分析 (a) 形貌像; (b) Bi元素的 X射線面分布像 定量分析 ? 試樣中 A元素的相對含量 CA與該元素產(chǎn) 生的特征 X射線的強(qiáng)度 IA(X射線計數(shù) )成正比 : CA∝ IA 在相同的實驗條件下 , 測量試樣和已知成份的標(biāo)樣中 A元素的同名 X射線 (如 Kα線 )強(qiáng)度 。
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