光電檢測器件光電檢測器-閱讀頁
2025-02-02 17:09本頁面
【正文】 屏蔽罩靠近陰極，效果好；暗電流小，噪聲低 陽極接地（負(fù)高壓接法 ） 陰極接地 (正高壓接法 ) 優(yōu)點(diǎn) ：便于與后面放大器相連，操作安全 缺點(diǎn) ：高壓不利于安全操作；接耐壓很高的隔直電容器。利用吸收進(jìn)行定量分析。 一、 光譜測量 廣泛地應(yīng)用于 微量金屬元素的分析 。 二、 極微弱光信號的探測 — 光子計(jì)數(shù) 現(xiàn)在的光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)，可探測到每秒 1012個光子水平的極微弱光，這種光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)已 用于生命科學(xué)研究中的細(xì)胞分類分析 ，它先用熒光物質(zhì)對細(xì)胞進(jìn)行標(biāo)記，然后根據(jù)這些細(xì)胞發(fā)出的不同的熒光進(jìn)行分析，可以分離和捕集不同的細(xì)胞。 ２ .熒光分光光度計(jì) 熒光分光光度計(jì)依據(jù)生物化學(xué)，特別是分子生物學(xué)原理。用光電倍增管檢測熒光的強(qiáng)度及光譜特性，可以定性或定量地分析樣品成份。這種散亂光（拉曼光）進(jìn)行分光測定，對物質(zhì)進(jìn)行定性定量的分析。 三、質(zhì)量光譜學(xué)與固體表面分析 固體表面分析 固體表面的成分和結(jié)構(gòu)，可以用極細(xì)的電子、離子、光或 X射線的束流，入射到物質(zhì)表面，對表面發(fā)出的電子、離子、 X射線等進(jìn)行測定來分析。電子、離子、 X射線一般采用電子倍增器或 MCP來測定。它利用了塵埃粒子對光的散亂或 β射線的吸收原理。對人的眼睛來看是模糊的，而濁度計(jì)正是利用了光的透過折射和散射原理，并用數(shù)據(jù)來表示的裝置。它對細(xì)胞、染色體發(fā)出的熒光、散亂光的熒光光譜、量子效率、偏光、壽命等進(jìn)行測定。從閃爍掃描器開始，經(jīng)逐步改良， γ相機(jī)的性能得到快速的發(fā)展。 液體閃爍計(jì)數(shù) 液體閃爍計(jì)數(shù)應(yīng)用于年代分析和生物化學(xué)等領(lǐng)域。 臨床檢查 通過對血液、尿液中微量的胰島素、激素、殘留藥物及病毒等對于抗原、抗體的作用特性，進(jìn)行臨床身體檢查、診斷治療效果等。 七、射線測定 區(qū)域檢測儀 可以連續(xù)地檢測環(huán)境輻射水平。 射線測量儀 射線測量儀采用光電倍增管與閃爍體組合的方式完成對低水平的 γ射線和 β射線的檢測。內(nèi)藏放射源、光電倍增管和閃爍體的探頭進(jìn)入井中，分析放射源被散射的以及地質(zhì)結(jié)構(gòu)中的自然射線，判斷油井周圍的地層類型 及密度 九、工業(yè)計(jì)測 厚度計(jì) 工業(yè)生產(chǎn)中的諸如紙張、塑料、鋼材等的厚度檢測，可以通過包括放射源、光電倍增管和閃爍體的設(shè)備來實(shí)現(xiàn)。（在電鍍、蒸發(fā)控制等處，鍍膜的厚度可使用 X射線熒光光度計(jì)） 半導(dǎo)體檢查系統(tǒng) 廣泛地應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片的缺陷檢查、掩膜錯位等。 十、攝影印刷 彩色掃描 彩色圖片或照片進(jìn)行印刷時，需要將其顏色進(jìn)行分色掃描。 十一、高能物理 加速器實(shí)驗(yàn) 輻射計(jì)數(shù)器 在 2層正交排列的細(xì)長塑料晶體的端部，配置光電倍增管，測量帶電粒子通過的位置和時間。二次粒子通過諸如氣體這種介質(zhì)時，具有一定能量的電荷粒子會發(fā)出契倫柯夫光，測定這種光的發(fā)射角度，可以識別電荷粒子。用于發(fā)生契倫柯夫光的大量介質(zhì)。光電倍增管探測到契倫柯夫光，可以解析粒子的飛來方向、能量等。這樣地增加下去，稱作空氣浴。 十三、宇宙 天體 X線探測 來自宇宙的 X線中，含有很多揭開宇宙之謎的信息。 恒星及星際塵埃散亂光的測定 來自宇宙的紫外線有許多與天體表面溫度、星際物質(zhì)有關(guān)的信息。因此，用發(fā)射火箭的方法，在火箭上搭載裝置，探測 300nm以下的紫外線。 十四、激光 熒光壽命測定 把激光作為激勵光源，測定樣品熒光強(qiáng)度的時間變化，用來研究樣品的分子結(jié)構(gòu)。 再 見！
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