某電子廠電子件來(lái)料檢驗(yàn)規(guī)范指導(dǎo)書(shū)(doc)-質(zhì)量檢驗(yàn)-閱讀頁(yè)
2024-09-06 18:55本頁(yè)面
【正文】 測(cè)試絕緣阻抗，則將欲待測(cè)之電子零件接至 INSULATION TESTER上， INSULATOR電壓調(diào)至規(guī)格所指定之電壓 500V或 1000V，其絕緣阻抗不得低于規(guī)格值。 外觀尺寸檢查： a) 尺寸是否在規(guī)格之內(nèi)。 c) 規(guī)格標(biāo)示是否正確。 e) 零件本體有無(wú)破損。 g) 零件有無(wú)針孔。 i) 誤差值是否在規(guī)格內(nèi)。 k) 本體不平整。 b) 內(nèi)無(wú)成型不良。 試錫試驗(yàn)： a) 將錫爐加 溫至攝氏 220度后，將待試驗(yàn)之零件腳，以垂直放入錫爐中 2 sec后拿起，看零件腳有無(wú)吃錫不良之情形。 包裝檢驗(yàn)： a) 包裝 Carton有無(wú)標(biāo)示機(jī)種型號(hào)、廠商料號(hào)、品名、規(guī)格、數(shù)量、生產(chǎn)日期等。 c) 包裝箱之?dāng)?shù)量是否足夠，有無(wú)短缺之情形。 e) 出廠合格證明。 g) 每批來(lái)料廠商應(yīng)提供出貨檢驗(yàn)報(bào)告 . 備注：外觀檢查如有爭(zhēng)議時(shí)，以當(dāng)時(shí)與客戶協(xié)商同意之限度樣品為基準(zhǔn)尺寸，如有爭(zhēng)議時(shí)，以實(shí)際組裝 為準(zhǔn)。 主要缺點(diǎn)：產(chǎn)品之使用性能 (功能 )不能達(dá)到所期望之目的，或顯著的減低其實(shí)用性質(zhì)，謂之主要缺點(diǎn)。
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