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2025-02-24 22:37本頁面
【正文】 gma范圍之外；7. 連續(xù) 15個點在中心線兩側(cè)的 1Sigma范圍內(nèi) ；8. 連續(xù) 8個點在中心線兩側(cè)的 1Sigma范圍外 。161。UCLCLLCL圖 1 鏈(2) 規(guī)則 3傾向 ：點子連續(xù)上升或連續(xù)下降的現(xiàn)象稱為傾向 (圖 2)161。LCLCLUCL1/31/32/32/3圖 3總 結(jié)161。161。 若 Xbar 圖正常， R圖出現(xiàn)了連續(xù)上升的現(xiàn)象，說明工序平均值沒有變動，而散差 可能由于工夾具松動、機床精度變化、毛坯余量變化大等原因而變大等等。例 33 倉 儲部 6Sigma項目 JIT配送事例 : 下面資料是倉儲部為了記錄 PCB板從倉庫送到生產(chǎn)車間時收集的兩個場所間的移動時間 .請用 IMR控制 圖分析運送過程是否穩(wěn)定 ?此作成 IMR控制 圖 ,求 UCL和 LCL.順序 時間 順序 時間 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13141516171819202122232425Step 1. 在 work sheet輸入數(shù)據(jù)Step 2. Stat control charts IMR chartStep 3. Stat control charts IMR chart Tests…此菜單是使用于連續(xù)型 CHART,MINITAB在離散型時也使用類似的驗證 .Step 4. 結(jié)果確認個別值超出 控制 狀態(tài) ,但移動范圍在 控制 狀態(tài) .連續(xù) 9個點在中心線的同一側(cè) ,要找原因分析 .連續(xù)數(shù)據(jù)控制圖小結(jié)? 連續(xù)數(shù)據(jù)控制圖可以用來區(qū)分過程狀態(tài) :– 過程只包含偶然原因引起的偏差 ， 處于受控狀態(tài) – 過程包含異常原因引起的偏差，需要采取糾正行動? 控制圖 :– 描繪數(shù)據(jù)隨時間的變化– 反映所期望的數(shù)據(jù)波動的范圍 – 識別何時特殊原因出現(xiàn)，影響數(shù)據(jù)分布 ? XbarR圖用來描述樣本的平均值和極差隨時間的變化 ? XbarS圖用來描述樣本的平均值和標準偏差隨時間的變化 ? IMR圖用來描述個體的數(shù)值和移動極差隨時間的變化 ? 控制極限一般是按過程中心值 +/ 3個標準偏差計算出來的 ? 控制極限和規(guī)范極限是不一樣的 – 控制極限是根據(jù)樣本數(shù)據(jù)計算得出的 。 是過程的外部特征 ? 知道過程何時失控 : 控制圖和采取的糾正行動共同使過程保持受控 離散 型數(shù)據(jù)的控制圖c un p p樣本數(shù)不變 樣本數(shù)變化缺陷數(shù) 泊松分布二項分布缺陷率在離散型控制圖中控制下限為負數(shù) ()時， 控制 下限 (LCL)為 0。 P(x) = ( ) Px (1P)nX X = 0, 1, 2, …..,n E(x) = nP V(x) = nP(1P)xnp 控制 圖np 控制 圖控制 上限 ( UCL ) 中心線 ( CL ) 控制 下限 ( LCL )控制 上限 ( UCL ) 中心線 ( CL ) 控制 下限 ( LCL ) 樣本大小不一定時樣本大小一定時離散型 控制 圖中 控制 下限為負數(shù) ()時 ,控制 下限（ LCL） 為零 .(1) P一控制一控制 圖圖不良率 控制 圖 ,在離散型數(shù)據(jù)使用最廣泛 ,因不可能測定 ,所以只能在判定合格與否時使用 .? 為了觀察不良率的變化 ,推測平均不良率時? 為了對過程進行 控制? P 控制控制 圖圖 (焊接直通率項目事例焊接直通率項目事例 )例 34下面是焊接直通率項目，針對每天生產(chǎn)的焊點數(shù)及不合格的焊點數(shù)統(tǒng)計記錄表 ,為了分析焊錫過程是否受控 ,請做出 P控制 圖。例 35下列是總務(wù)部每天入庫的打印紙的不良品數(shù)據(jù) ,對此作成 nP控制 圖 . Date Sample SIZE Defictive10/110/210/310/410/510/610/710/810/910/1010/1110/12144144144144144144
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