【正文】 192釋放出伽瑪射線和其他射線而蛻變時，最可能產生的核種是（ c） （ b）： （ c） 影響 ，其能使標準狀況下的 1cm3空氣產生 1 個靜電單位的能量稱為（ b）： （ a）的波長： （ a）： Ci R Rem Rad （ b）： 物 ？（ d）： 192 60 Xray Xray （ b） (克 /居里 ) (居里 /克 ) (居里 /cm3) (cm3/居里 ) （ c）： ，也可能帶負電 （ c） 100爾格的能量 數(shù) ？（ b） 、密度及厚度 質 ，能量相同，強度不同的伽瑪射線（ d） （ b） 1 英尺，每居里每小時的倫琴數(shù) 1 公尺，每居里每小時的倫琴數(shù) 1 公尺，每倫琴每小時的 居里數(shù) 1 英尺，每倫琴每小時的居里數(shù) 192的 rhm/Ci為（ b）： 60 的 rhm/Ci 為（ d）： 60 或銥 192 用于無損檢測是利用其所發(fā)出的（ c）： （ α ）粒子 子 ？（ b）： 60 137 192 170 γ 射線源來說，通過物質時射線被吸收的程度取決于（ c） 、密度和厚度 比度 136. 銥 192 一 般 對 鋼 鐵 材 料 的 檢 測 范 圍 為 （ c ）： 192的半衰期為 75天， 100 居里的射源在 ？（ c）： 192 的半衰期為 75 天，當其強度為 50Ci 衰減到 30Ci 要經過多少天？ （ b）： 天 192出廠時的放射性強度為 100居里，經過 450天后其放射性強度為多少居里？ (d)： 192的半衰期為 75天， 10 居里的射源在 ？（ c）： 192γ源的強度為 40Ci，經過 100 天后，其強度約為多少？（ b）： 192的半衰 期為（ c）： 192的平均能量為 ，若出廠 5個月后，其平均能量為（ a） 192對鉛的半價層為（ d）： γ 射線，某時在離射源 2 米處測得其 γ 射線照射率， 14 天后同一時刻，再在離該源 米處測出其照射率與前同，則該源的半衰期為（ a）： X的物質后，射線強度的衰減規(guī)律是：（ b） =I0eμx =I0eμx =Ieμx =I0e2μx （式中： μ 線吸收系數(shù) [衰減系數(shù) ]；e自然對數(shù)的底； I0射線原有的強度； I射線通過物質后的強度） ，如果被穿透物質的原子序數(shù)和密度越大，則衰減系數(shù) μ 也越大，試指出下列哪種物質的 μ 最大？（ c）： ，如果被穿 透物質的原子序數(shù)和密度越大，則衰減系數(shù) μ 也越大，試指出下列哪種物質的 μ 最大？（ c）： ，如果被穿透物質的原子序數(shù)和密度越大，則衰減系數(shù) μ 也越大，試指出下列哪種物質的 μ 最大？（ c）： ，如果被穿透物質的原子序數(shù)和密度越大，則衰減系數(shù) μ 也越大，試指出下列哪種物質的 μ 最大？（ c）： 金 γ 射線，通過物 質時引起的吸收取決于（ a） ，密度和厚度 80Ci，平均能量為 的同位素源，經過 3個半衰期后，其平均能量為（ d） （ b）： 成反比 （ c）： 磁波 （ a） ，但質量數(shù)不同 ，但質量數(shù)相同 X射線的強度用可見光的照度來度量時，即用單位時間內通過單位截面的什么數(shù)來度量？（ c） X 射線譜的最短波長，一般用下列哪一計算式？（ c） 0=V/ 0=V/1240 0=（式中： λ 0最短波 長[ ]； VKV） X射線的波長與（ c）有關 : X射線的波長與（ a）有關 : ，這種作用可用于（ c） ？（ b） 、反射和折射效應以及光子對生成 、散射和干涉效應以及電子對生成 、聚焦和游離效應以及偶極子對生成 ？（ d） ？（ d） ，其數(shù)學 表達式是：（ b） =h/v=hλ/c =hv=hc/λ =(hv)1=λ/hc =hv2=hc2/λ （式中： E能量 [eV]； h普朗克常數(shù)； λ 波長 [cm]； c光速 [3x1010cm/s]； v頻率 [Hz]） 射線和 γ 射線跟物質相互作用的機理主要是和（ a）相互作用： b.原子核 ，光子的波長增大，運動方向改變，這是由于哪一效應的結果。假如照射率與到焦點距離平方成反比，則加上（ b） mm厚鋼板后離焦點 4 米處的照射率將變?yōu)?50mR/h： X 射線管焦點 2 米處測出透過衰減系數(shù)（吸收系數(shù)）為 X射 線 照 射 率 為 ， 鋼 板 對 此 射 線 的 半 值 層 為 （ a ）： 10毫米，焊冠 3毫米的鋼焊縫，已知 X 射線對該試件的半值層為 ，其吸收系數(shù)應為（ a） 10毫米，焊冠 3毫米的鋼焊縫，已知 X 射線對該試件的半值層為 ，其吸收系數(shù)約為（ a） X 射線的半值層為 ，如其線質在透過物質時不變，則其（ 1/20）值層應為（ a） X 射線的（ 1/20）值層計算值是以其線質在透過物質時不變?yōu)榍疤岬模趯嶋H情況下的真實值要比計算值（ b）： X 射線的半值層計算值是以其線質在透過物質時不變?yōu)榍疤岬?，在實際情況下的真實值要比計算值（ b）： X 射線的半值層為 ，如其線質在透過物質時不變，則其（ 1/20）值層應為（ a） X射線的吸收決定于（ d）： 原子序數(shù) （約 100KeV～ 10MeV）內射線穿過鋼鐵強度衰減的最主要原因是（ c） I 的單色射線通過厚度為 △Χ 的材料后，強度減弱 △I ，其關系式為：△I= μI△Χ ，此式表示下列哪種現(xiàn)象？（ c） d.半價層厚度 源的半衰期與（ c）有關 : （ e）有關 : 種類 d ？（ d） 射量成反比 （ d）： 而減小 ，有（ a）： c.碳鋼低于不銹鋼 ，射線能量較高，其半值層厚度（ c）： 量與半值層無關 X 射線束是（ c）： X 射線束 X 射線束 X 射線束 X 射線束 X 射線束是（ d）： X 射線束 X 射線束 X 射線束 X 射線束 X射線束是（ a） X 射線束 X射線束 X 射線束 X射線束 （ a） ，符號相反 ，符號相同 ，符號相反 d.電荷不等，符號相同 199. 描 述 放 射 性 衰 變 規(guī) 律 的 數(shù) 學 表 達 式 為 （ a ）：=N0eλt =N0eλt =N0eλt =N0eλt （式中 N 為經過時間 t 后尚未衰變的原子數(shù)目， N0為 t=o時的原子數(shù)目， λ 為衰變常數(shù)） ，亦即是該元素原子（ a） （ a）的數(shù)目： ，亦即是該元素原子（ d） c都對 （ c）： 、中子與電子數(shù)的總和 c.原子核中質子與中子數(shù)的總和 （ c）： （ a）： d.原子序數(shù) (b): （ d）相等： 、中子、電子的一個重要不同是（ d）： c.速度更快 （ a） （ a）： 度 （ b） 性活度 （ d） Χ 射線 源產生的射線 束射線 X射線穿透厚工件時，有何特征？（ c） ； （ b） ,寬束是指只有未散射的射線到達檢測器。 ； X射線的主要作用是 (c): d.電離 X 射線束是 (d): X射線束 X 射線束 X射線束 單一波長組成的 X 射線束 ，下列敘述中正確的是（ b） ， X 射線光譜也是連續(xù)的 ，而 X射線光 譜是連續(xù)的 ， X射線光譜也是不連續(xù)的 ，而 X射線光譜是不連續(xù)的 （ d） ，伽瑪射線波長較長 ，伽瑪射線波長較短 ，在某些部分兩者的波長會有重疊 ，下列哪一種曝光方法是正確的？（ b） X 射線膠片曝光 X射線膠片曝光 X 射線膠片曝光 X射線膠片曝光 （吸收），以下哪種材料為最大？（ d）： c.鋁 （吸收），以下哪種材料為最大？（ d）： c.鋁 β 衰變成（ a）并放出電子： 粒子 光子 （ d）： 源 （ a）數(shù)目表示的： c.電子 粒子 （ a）有關： 度 （ b）相互作用： c.中子 β 衰變成為（ b）： 粒子 ，主要是和（ a）發(fā)生作用： 任何粒子作用 （ e）： 粒子 光子 d.氘核 （ g） 都是 （ a） 1KeV 以下的中子叫做（ b） 102eV 左右的中子叫做（ e） （ c）： ，也可能帶負電 ，由于什么原因增加了底片密度？（ d） ，有助于膠片的曝光 ，不使底片產生灰霧 X 射線或 γ 射線激發(fā)下發(fā)射出電子 ，在射線照相時采用熒光增感屏，這 是因為它在射線激發(fā)下產生（ a） ，在射線照相時采用熒光增感屏，這是因為它在射線激發(fā)下產生（ d） ，鉛箔被射線激發(fā)出什么粒子使膠片加速感光？（ c） ，鉛箔被射線激發(fā)出什么粒子使膠片加速感光？（ c） 粒子 粒子 射線 X 射線而發(fā)出可見光的特點，從而達到增感的目的，這稱之為（ c） X射線下，會產生什么情況？（ c） 黑 降低 （ d） 的散射 ，下面哪種敘述是正確的？（ b） ，與焦點大小成反比 ，與焦點大小成正比 ，與射源至物體的距離成正比 至膠片的距離成反比 （ c）時能夠產生自由電子，能夠引起固有的不清晰度： 件 245. 根 據 密 度 D 的定義，其數(shù)學表達式是（ a ）：=lg(L0/L) =lg(L/L0) =lg(L0178。（ b） (b): 應 ，主要由于射線對物質產生的（ b） ，散射射線的波長較入射射線的波長（ a）： 都不對 ，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構成該物的原子內電子向各方面散射，此散射為（ a） ，能量較小的射線 ，能量較大的射線 ，能量較大的射線 ，能量較小的射線 （ c） ，而與時間成正比的量 、射線源到被檢件的距離、被檢件到膠片距離等原因，在顯示缺陷的 邊緣輪廓時可能發(fā)生缺乏完整的清晰度，這個由于幾何原因引起的不清晰度稱為（ b）： 散效應 、射線源到被檢件的距離、被檢件到膠片距離等原 因，在顯示缺陷的邊緣輪廓時可能發(fā)生缺乏完整的清晰度，這個由于幾何原因引起的不清晰度稱為（ b）： 散效應 281. 幾何模糊度的數(shù)學表達式為（ a ）：=db/f1 =f1b/d =f1d/b =f1/db （式中： Ug幾何模糊度； f1物體表面到射線源的距離； b物體表面到膠片的距離； d焦點大?。? ？（ d）