局部放電檢測(cè)原理及一般試驗(yàn)技術(shù)-在線瀏覽
2024-08-28 23:23本頁(yè)面
【正文】 其進(jìn)入試驗(yàn)回路的途徑見(jiàn)圖 Tr— 試驗(yàn)變壓器； Cx— 被試品； Ck— 耦合電容器； Zm— 測(cè)量阻抗； DD— 檢測(cè)儀； M— 鄰近試驗(yàn)回路的金屬物件； UA— 電源干擾； UB— 接地干擾； UC— 經(jīng)試驗(yàn)回路雜散電容 C耦合產(chǎn)生的干擾； UD— 懸浮電位放電產(chǎn)生的干擾； UE— 高壓各端部電暈放電的干擾； IA— 試驗(yàn)變壓器的放電干擾； IB— 經(jīng)試驗(yàn)回路雜散電感 M耦合產(chǎn)生的輻 射干擾； IC— 耦合電容器放電的干擾 干擾及其進(jìn)入試驗(yàn)回路的途徑（一） ? 電源干擾。因此，通常采用屏蔽式電源隔離變壓器及低通濾波器抑制，效果甚好。試驗(yàn)回路接地方式不當(dāng)，例如兩點(diǎn)及以上接地的接地網(wǎng)系統(tǒng)中，各種高頻信號(hào)會(huì)經(jīng)接地線耦合到試驗(yàn)回路產(chǎn)生干擾。試驗(yàn)回路采用一點(diǎn)接地，可降低這種干擾。鄰近高壓帶電設(shè)備或高壓輸電線路，無(wú)線電發(fā)射器及其它諸如可控硅、電刷等試驗(yàn)回路以外的高頻信號(hào)，均會(huì)以電磁感應(yīng)、電磁輻射的形式經(jīng)雜散電容或雜散電感耦合到試驗(yàn)回路，它的波形往往與試品內(nèi)部放電不易區(qū)分，對(duì)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量影響較大。消除這種干擾的根本對(duì)策是將試品置于屏蔽良好的試驗(yàn)室。 ? 懸浮電位放電干擾。其特點(diǎn)是隨試驗(yàn)電壓升高而增大，但其波形一般較易識(shí)別。 干擾及其進(jìn)入試驗(yàn)回路的途徑（三） ? 電暈放電和各連接處接觸放電的干擾。試驗(yàn)回路中由于各連接處接觸不良也會(huì)產(chǎn)生接觸放電干擾。消除這種干擾是在高壓端部采用防暈措施 (如防暈環(huán)等 )，高壓引線采用無(wú)暈的導(dǎo)電圓管，以及保證各連接部位的良 好接觸等。這種放電容易和試品內(nèi)部放電相混淆。 干擾識(shí)別的一些方法（一） ? 識(shí)別干擾的基本依據(jù) ,局部放電試驗(yàn)的干擾是隨機(jī)而雜亂無(wú)章的，因此難以建立全面的識(shí)別方法，但掌握各類(lèi)放電時(shí)的時(shí)間、位置、掃描方向以及電壓與時(shí)間關(guān)系曲線等特性，有助于提高識(shí)別能力。局部放電脈沖波形與各種干擾信號(hào)隨電壓高低、加壓時(shí)間的變化具有某種固有的特性，有些放電源 (干擾源 )隨電壓高低 (或時(shí)間的延長(zhǎng) )突變、緩變，而有些放電源卻是不變的，觀察和分析這類(lèi)固有特性是識(shí)別干擾的主要依據(jù)。試品內(nèi)部局部放電的典型波形，通常是對(duì)稱(chēng)的位于正弦波的正向上升段，對(duì)稱(chēng)地疊加于橢圓基線上，而有些干擾 (如高電位、地電位的尖端電暈放電 )信號(hào)是處于正弦波的峰值，認(rèn)定橢圓基線上試驗(yàn)電壓的零位。但須指出，試驗(yàn)電壓的零位是指施加于試品兩端電壓的零位，而不是指低壓勵(lì)磁側(cè)電壓的零位。放電脈沖與各種干擾信號(hào)均在時(shí)基上
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