【摘要】第十三章交互測(cè)試???測(cè)試用例抽樣?重要性:對(duì)象的正確協(xié)作,即交互,對(duì)于程序的正確性非常關(guān)鍵?討論范圍:闡述如何測(cè)試與其它類有交互的類,這種交互發(fā)生在運(yùn)行期的各個(gè)對(duì)象之間。例:對(duì)象作為參數(shù);一個(gè)對(duì)象保持了另一個(gè)對(duì)象的引用并將其做為狀態(tài)的一部分?測(cè)試重點(diǎn):確保對(duì)象的消息傳送能夠正確進(jìn)行
2025-06-22 22:06
【摘要】第14章系統(tǒng)測(cè)試與課程有關(guān)的問題2022machunyan西北工業(yè)大學(xué)軟件與微電子學(xué)院Outline?系統(tǒng)測(cè)試的概要介紹?線索?需求規(guī)格說明的基本概念?尋找線索?線索測(cè)試的結(jié)構(gòu)策略?線索測(cè)試的功能策略?系統(tǒng)測(cè)試指導(dǎo)方針與課程有關(guān)的問題2022machunyan西北工業(yè)大學(xué)軟件與微電子學(xué)院
2025-06-20 01:32
【摘要】1第二章靜態(tài)測(cè)試《軟件測(cè)試方法和應(yīng)用》2-2本章要點(diǎn)?討論與靜態(tài)測(cè)試相關(guān)的
2025-06-26 22:22
【摘要】第二講測(cè)試系統(tǒng)?測(cè)試系統(tǒng)及其主要性質(zhì)?測(cè)試系統(tǒng)的特性–靜態(tài)特性–動(dòng)態(tài)特性–在典型輸入下的響應(yīng)–實(shí)現(xiàn)不失真測(cè)試的條件–測(cè)試系統(tǒng)的干擾及抗干擾技術(shù)?測(cè)試系統(tǒng)的干擾及抗干擾技術(shù)機(jī)械工程測(cè)試技術(shù)第二講測(cè)試系統(tǒng)特性分析第一節(jié)測(cè)試系統(tǒng)及其主要性質(zhì)
2025-06-18 06:43
【摘要】軟件測(cè)試方法和技術(shù)-KerryZhuZhu.Kerry@gmai第六章回顧Zhu.Kerry@gmai①系統(tǒng)集成的模式和方法②功能測(cè)試③系統(tǒng)測(cè)試④壓力測(cè)試、容量測(cè)試和性能測(cè)試⑤安全性、可靠性和容錯(cuò)性測(cè)試第七章驗(yàn)收測(cè)試Zhu.K
2025-06-26 23:11
【摘要】第七章集成測(cè)試內(nèi)容一.引言二.基本概念三.集成測(cè)試的目的四.集成測(cè)試的層次五.集成測(cè)試方法六.集成策略?1.一個(gè)例子假設(shè)有一臺(tái)面包機(jī),從上面倒入面粉與水,開動(dòng)機(jī)器后從下面出來的就是烤好了的面包?——?軟件在系統(tǒng)集成時(shí)會(huì)經(jīng)常有這樣的情況發(fā)生:即每個(gè)模塊都能單獨(dú)工作,但這些模塊
2025-06-24 07:17
【摘要】第七章振動(dòng)測(cè)試第一節(jié)概述第二節(jié)慣性式傳感器的力學(xué)模型第三節(jié)振動(dòng)測(cè)量傳感器第四節(jié)振動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)及其標(biāo)定第五節(jié)激振試驗(yàn)設(shè)備及振動(dòng)信號(hào)簡(jiǎn)介第一節(jié)概述機(jī)械振動(dòng)是工業(yè)生產(chǎn)和日常生活中極為常見的現(xiàn)象。很多機(jī)械設(shè)備和裝置內(nèi)部安裝著各種運(yùn)動(dòng)的機(jī)構(gòu)和零部件(都是彈性體),在運(yùn)行時(shí)由于負(fù)載的不
2025-06-17 18:06
【摘要】2022/8/26材料老化測(cè)試AOV標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研發(fā)中心王維新安姆特檢測(cè)機(jī)構(gòu)2022/8/26老化的定義?何謂老化?√材料在加工、貯存和使用過程中,由于受內(nèi)外因素的綜合作用,其性能逐漸變壞,以致最后喪失使用價(jià)值,這種現(xiàn)象就是老化?!?022/8/26影響老化的因素?影響老化的因素
2024-09-25 22:29
【摘要】JTAG測(cè)試JTAG測(cè)試的兩大優(yōu)點(diǎn):?1、方便芯片的故障定位,迅速準(zhǔn)確地測(cè)試兩個(gè)芯片管腳的連接是否可靠,提高測(cè)試檢驗(yàn)效率。?2、具有JTAG接口的芯片,內(nèi)置一些預(yù)先定義好的功能模式,通過邊界掃描通道來使芯片處于某個(gè)特定的功能模式,以提高系統(tǒng)控制的靈活性和方便系統(tǒng)設(shè)計(jì)。邊界掃描?邊界掃描技術(shù)的基本思想是在靠近芯
2025-06-18 23:28
【摘要】第二節(jié)認(rèn)識(shí)技術(shù)測(cè)試第五章再創(chuàng)設(shè)計(jì)新意學(xué)習(xí)目標(biāo)1、知道技術(shù)測(cè)試是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能、質(zhì)量的科學(xué)手段,能認(rèn)識(shí)一些常用的測(cè)試儀器。2、了解幾種簡(jiǎn)單的技術(shù)試驗(yàn)方法,能根據(jù)設(shè)計(jì)要求對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。3、初步樹立質(zhì)量管理意識(shí),能根據(jù)需要進(jìn)行簡(jiǎn)單的技術(shù)試驗(yàn),并寫出試驗(yàn)報(bào)告。【自主探究】1、舉例說明技術(shù)檢測(cè)的目的?2、你知道的常
2025-06-21 12:18
【摘要】第九章現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)摩擦學(xué)研究所應(yīng)用的主要分析測(cè)試技術(shù)大體上可分為三類。第一節(jié)摩擦表面測(cè)試分析技術(shù)一、固體的表面形態(tài)與結(jié)構(gòu)分析固體表面形態(tài)與結(jié)構(gòu)分析主要是指對(duì)表面的微觀結(jié)構(gòu)、缺陷和原子排列等方面進(jìn)行觀察與分析,一般采用電子顯微分析技術(shù)和衍射分析技術(shù)。
2025-06-21 04:17
【摘要】光電測(cè)試技術(shù)第四章光電測(cè)試器件4光電成像器件?光電成像器件:能夠輸出圖像信息的一類光電器件?工作方式:直視型非直視型用于直接觀察,具有圖像轉(zhuǎn)換、增強(qiáng)以及顯示的部分1、入射輻射圖像通過外光電效應(yīng)轉(zhuǎn)化為電子圖像2、由電場(chǎng)或磁場(chǎng)聚焦加速進(jìn)行能量增強(qiáng)3、由電場(chǎng)的二次發(fā)射作用進(jìn)行倍增4、激發(fā)熒光屏產(chǎn)
2025-03-03 07:56
【摘要】目的與目標(biāo)?通過本次培訓(xùn)了解軟件測(cè)試的定義?了解測(cè)試的基本術(shù)語(yǔ)?了解軟件輔助決策測(cè)試工作構(gòu)成?典型公共用例講解了解輔助決策測(cè)試工作重點(diǎn)課程內(nèi)容?測(cè)試?yán)碚摳攀?測(cè)試過程?典型用例講解?問題&討論課程內(nèi)容?測(cè)試?yán)碚摳攀?測(cè)試過程
2025-02-27 19:49
【摘要】Android測(cè)試技術(shù)什么是軟件測(cè)試?使用人工或者自動(dòng)手段來運(yùn)行或測(cè)試某個(gè)系統(tǒng)的過程?目的在于檢驗(yàn)它是否滿足規(guī)定的需求、弄清預(yù)期結(jié)果與實(shí)際結(jié)果之間的差別軟件測(cè)試目的?測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中的錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過程?好的測(cè)試方案在于盡可能發(fā)現(xiàn)迄今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤?成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤
2025-03-08 09:24
【摘要】一、什么是試井就是以滲流力學(xué)為基礎(chǔ),以各種測(cè)試儀表為手段,通過對(duì)油水井的生產(chǎn)動(dòng)態(tài)的測(cè)試來研究油層各種物理參數(shù)和油水井生產(chǎn)能力,為加深對(duì)油層的認(rèn)識(shí),制定合理的油田開發(fā)方案和措施而提供依據(jù)的方法。我礦試井隊(duì)的測(cè)試內(nèi)容包括機(jī)采井示功圖、動(dòng)液面測(cè)試、系統(tǒng)效率測(cè)試;注水(聚)井分層流量測(cè)試和管柱驗(yàn)封。下面
2024-12-21 23:45