【正文】 彎晶單色器 平晶單色器 ② 晶體單色器與單晶聚焦 平晶單色器：利用單晶體的衍射性質(zhì) ， 按滿足 2dsin?=? ， 得到單一波長的輻射 。 只能利用入射光束中的平行光部分 彎晶單色器：將單晶體表面彎曲成曲面 ， 與平晶單色器相比 ， 同時(shí)還具有聚焦作用 ③ 紀(jì)尼葉衍射幾何 紀(jì)尼葉相機(jī)是將彎曲晶體單色器與聚焦相機(jī)結(jié)合而成的衍射方法。因此，多晶平面底片照相也可以在勞厄相機(jī)上進(jìn)行，主要優(yōu)點(diǎn)是可以攝取完整的衍射圓環(huán)。 X射線衍射儀的四大組成部分： 入射線源：發(fā)生 X射線 衍射測角部分：實(shí)現(xiàn)和探測 X射線衍射 計(jì)數(shù)和記錄電路：衍射花樣記錄和強(qiáng)度測量 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)：控制衍射儀運(yùn)轉(zhuǎn)、處理和儲存數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)分析等 （ 1） 高穩(wěn)定度 X射線源 提供測量所需的 X射線 , 改變 X射線管陽極靶材質(zhì)可改變 X射線的波長 , 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制 X射線源的強(qiáng)度 （ 2） 樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)。 （ 3） 射線檢測器 檢測衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測衍射方向 , 通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。 衍射測角部分是衍射儀器的核心部分 入射線光路測角器和樣品架 衍射線和光路 探測器 goniometer （ 1）入射線光路 對 X射線源發(fā)生的原始 X射線束進(jìn)行加工處理，控制其光譜性能、光束的發(fā)散度、光束的尺寸等。環(huán)境條件包括溫度、壓力、氣氛或機(jī)械運(yùn)動(dòng)（轉(zhuǎn)動(dòng)、振動(dòng)或拉伸等）。 由散射狹縫、索拉狹縫、晶體單色器、接收狹縫等光學(xué)元件組成 （ 4）探測器 探測衍射 X射線并測量其強(qiáng)度，包括探頭（計(jì)數(shù)管）和前置放大器等 一般，依據(jù)衍射幾何，試樣需要相對于入射光束作某種轉(zhuǎn)動(dòng)，探測器也跟著做某種轉(zhuǎn)動(dòng)以捕捉到衍射線。 同步加速器的結(jié)構(gòu)包含電子槍或離子源 、 線型加速器 、 偏轉(zhuǎn)磁鐵 、 真空腔 、 RF腔 、 實(shí)驗(yàn)站等 。 儲存環(huán)是由許多磁鐵組成 。 光束路線將同步光從儲存環(huán)引導(dǎo)出來 ， 憑借內(nèi)部精密的光學(xué)組件將同步光聚焦并選取合適波段的同步輻射送入實(shí)驗(yàn)站 。 圖一：同步輻射設(shè)施架構(gòu) 圖二：同步輻射產(chǎn)生原理 Schematic view of E4 xray beamline at Hamburger Synchrotron Radiation Laboratory (HASYLAB) at DESY in Hamburg 北京同步輻射裝置 (BSRF)是北京正負(fù)電子對撞機(jī)國家實(shí)驗(yàn)室的一部分 ， 是一個(gè)向社會(huì)免費(fèi)開放的大型公共科研設(shè)施 。 北京正負(fù)電子對撞機(jī)同步輻射裝置擁有 4個(gè)插入件 ， 14條光束線和 14個(gè)實(shí)驗(yàn)站 。 BSRF擁有 14個(gè)實(shí)驗(yàn)站： EXAFS實(shí)驗(yàn)站 、 形貌實(shí)驗(yàn)站 、 漫散射實(shí)驗(yàn)站 、 小角散射實(shí)驗(yàn)站 、衍射實(shí)驗(yàn)站 、 光刻實(shí)驗(yàn)站 、 LIGA實(shí)驗(yàn)站 、 光電子能譜實(shí)驗(yàn)站 、 X射線熒光分析實(shí)驗(yàn)站 、 高壓研究實(shí)驗(yàn)站 、 真空紫外實(shí)驗(yàn)站 、 軟 X光學(xué)實(shí)驗(yàn)站 、 生物大分子晶體學(xué)實(shí)驗(yàn)站 、 探測器和中能區(qū)譜學(xué)實(shí)驗(yàn)站 。它是我國迄今為止最大的大科學(xué)裝置和大科學(xué)平臺，在科學(xué)界和工業(yè)界有著廣泛的應(yīng)用價(jià)值，每天能容納數(shù)百名來自全國或全世界不同學(xué)科、不同領(lǐng)域的科學(xué)家和工程師在這里進(jìn)行基礎(chǔ)研究和技術(shù)開發(fā)。 雙彎曲單色器。 雙晶單色器：平晶、弧矢 單色器 聚焦元件 毛細(xì)管 聚焦元件 測角儀的光學(xué)布置（狹縫系統(tǒng)） F 線狀斑 S1 Soller光闌 H 發(fā)散狹縫 M 防散射狹縫 S2 Soller光闌 G 接收狹縫 測角儀旋轉(zhuǎn)軸 C 試樣表面 2θ 氣體計(jì)數(shù)管（蓋革計(jì)數(shù)器，電離室，正比計(jì)數(shù)器） 閃爍計(jì)數(shù)器 固體探測器（半導(dǎo)體計(jì)數(shù)器） 陣列式固體探測器（一維，二維） 位敏探測器（一維，二維） 影像板（ Image Plate IP） 電荷耦合探測器（ Charge Coupled Device CCD） 探測器 氣體計(jì)數(shù)管 計(jì)數(shù)管陰極、陽極間電壓為 200V時(shí)，沒有氣體放大作用，這是電離室的工作區(qū)域 電壓為 600~900V時(shí)，氣體放大因數(shù)為 103~105，可形成電子“雪崩”效應(yīng)，這是正比計(jì)數(shù)器的工作區(qū)域 電壓為 1000~1500V時(shí)，氣體放大因數(shù)為 108~109，計(jì)數(shù)管處于電暈放電區(qū)，這是蓋革計(jì)數(shù)器的工作區(qū)域 NaI閃爍檢測器 閃爍計(jì)數(shù)器 能量分辨率較高 , 不用單色器可得 ??1 掃描型，能量色散型 固體探測器 陣列式 半導(dǎo)體計(jì)數(shù)器 HgI2 不需冷卻 固體探測器 固體探測器 位敏探測器 位置靈敏探測器（ PSPC） 位敏探測器 位敏探測器 影像板（ IP） 影像板（ IP） 影像板（ IP） 電荷耦合探測器（ CCD） 核心是一塊芯片 像元尺寸 44 ?m ，光子增益 91，讀出時(shí)間 ~10s 電荷耦合探測器（ CCD） 電荷耦合探測器（ CCD） 電荷耦合探測器（ CCD） 電荷耦合探測器（ CCD） 電荷耦合探測器（ CCD） fig 1 D8 Advance Vario1 Bruker diffractometer Bruker D8 Advance Vario1 diffractometer is equipped wih a Johansson monochromator (fig 2) allows to perform recordings of xrays diffraction diagrams on powder samples, with high resolution, for crystal structures determination and their refinement by Rietveld method. fig 2 theta – 2theta BraggBrentano geometry Two operating modes are available: Reflection